ASML Netherlands Patente
🇳🇱 Niederlande
ASML Netherlands B.V. ist die niederländische Kernsparte des weltweit führenden Herstellers von Lithografiesystemen für die Halbleiterfertigung mit Sitz in Veldhoven. Das Patentportfolio konzentriert sich sehr stark auf Optik und Fototechnik, ergänzt um Elektronik, elektrische Energietechnik und Halbleiterbauelemente. Anmeldungen reichen von 2000 bis 2020.
390
Patente
2000–2020
Anmeldejahre
16
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
390 gesamt| Patent | |||
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08.07.2010
Method of determining a characteristic
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.12.2009
Anhängig
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01.07.2010
A lithographic apparatus, a radiation system, a device manufacturing method and a debris mitigation method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.10.2009
Anhängig
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24.06.2010
Calibration method, inspection method and apparatus, lithographic apparatus, and lithographic processing cell
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.12.2009
Anhängig
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23.06.2010
Lithografische Vorrichtung und Verfahren zur Bestrahlung von mindestens zwei Zielabschnitten
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.12.2009
Anhängig
Vertretung
Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven
Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven
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23.06.2010
Methode und Apparat zur Messung der Position eines Objekts
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.09.2005
Anhängig
Vertretung
van Os, Lodewijk Hubertus · Veldhoven
Raukema, Age · Veldhoven
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21.04.2010
Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.08.2005
Erteilt am 21.04.2010
Vertretung
Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Leeming, John Gerard · London
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15.04.2010
Lithographic focus and dose measurement using a 2-d target
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.10.2009
Anhängig
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08.04.2010
Method and system for determining a lithographic process parameter
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.09.2009
Anhängig
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08.04.2010
Projection system and lithographic apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.07.2009
Anhängig
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01.04.2010
Lithographic system, lithographic method and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.09.2009
Anhängig
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18.03.2010
Radiation system and lithographic apparatus
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 30.04.2009
Anhängig
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11.03.2010
A substrate, a method of measuring a property, an inspection apparatus and a lithographic apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.07.2009
Anhängig
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10.03.2010
Lithographische Vorrichtung und Verfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.09.2008
Anhängig
Vertretung
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04.03.2010
Spectral purity filter, lithographic apparatus including such a spectral purity filter and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 29.07.2009
Anhängig
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04.03.2010
Spectral purity filter and lithographic apparatus
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 29.07.2009
Anhängig
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25.02.2010
A method of measuring overlay error and a device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.07.2009
Anhängig
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25.02.2010
Projection system, lithographic apparatus, method of projecting a beam of radiation onto a target and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.07.2009
Anhängig
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25.02.2010
Inspection method and apparatus, and lithographic apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.07.2009
Anhängig
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24.02.2010
Lithographischer Apparat und Verfahren zum Kalibrieren desselben
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.07.2005
Erteilt am 24.02.2010
Vertretung
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18.02.2010
Radiation source, lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 30.07.2009
Anhängig
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18.02.2010
Radiation source, lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 13.07.2009
Anhängig
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18.02.2010
Mirror, lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 16.07.2009
Anhängig
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04.02.2010
Radiation source, lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.07.2009
Anhängig
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04.02.2010
Alignment of collector device in lithographic apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.07.2009
Anhängig
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28.01.2010
Sub-Wavelength Segmentation in Measurement Targets On Substrates
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.05.2009
Anhängig
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28.01.2010
Optical element mount for lithographic apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.07.2009
Anhängig
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21.01.2010
Method for removing a deposition on an uncapped multilayer mirror of a lithographic apparatus, lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.06.2009
Anhängig
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21.01.2010
Alignment system, lithographic system and method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.07.2009
Anhängig
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21.01.2010
Scatterometry method and measurement system for lithography
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.07.2009
Anhängig
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13.01.2010
Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.06.2005
Erteilt am 13.01.2010
Vertretung
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
Vermeulen, Martijn · Rijswijk
Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven
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13.01.2010
Lithografische Vorrichtung und Positionierungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.04.2006
Erteilt am 13.01.2010
Vertretung
Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven
Seitz, Holger Fritz Karl · Rijswijk
Van den Hooven, Jan · Veldhoven
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23.12.2009
Particle cleaning of optical elements for microlithography
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 06.03.2009
Anhängig
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17.12.2009
Apparatus and method for inspecting a substrate
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.06.2009
Anhängig
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17.12.2009
Method and system for thermally conditioning an optical element
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.05.2009
Anhängig
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17.12.2009
Inspection method and apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.05.2009
Anhängig
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09.12.2009
Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.10.2005
Erteilt am 09.12.2009
Vertretung
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03.12.2009
Inspection method and apparatus, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.05.2009
Anhängig
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02.12.2009
Verfahren zur Bestimmung von Defekten in einem Substrat und Vorrichtung zur Belichtung eines Substrats in einem lithographischen Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.05.2009
Anhängig
Vertretung
van Os, Lodewijk Hubertus · Veldhoven
Raukema, Age · Veldhoven
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02.12.2009
Lithographische Vorrichtung und Betriebsverfahren für die Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.05.2009
Anhängig
Vertretung
Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven
Corcoran, Gregory Martin Mason · Veldhoven
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26.11.2009
Aqueous curable imprintable medium and patterned layer forming method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 14.05.2009
Anhängig
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Wer vertritt ASML Netherlands?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML Netherlands vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Optik & Fototechnik
351
Elektronik & Schaltungstechnik
44
Elektrische Energietechnik
37
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
34
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
33
Medizintechnik & Gesundheit
6
Verfahrens- & Trenntechnik
5
Anorganische Chemie & Werkstoffe
4
Kunststoff- & Polymertechnik
3
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
3
Steuerungs- & Regelungstechnik
3
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
2