Axcelis Technologies Logo

Axcelis Technologies Patente

🇺🇸 USA

Axcelis Technologies, Inc. ist ein US-amerikanischer Hersteller von Ionenimplantationsanlagen für die Halbleiterfertigung mit Sitz in Beverly, Massachusetts. Das Patentportfolio ist fast vollständig auf Halbleiter und elektrische Bauelemente konzentriert, ergänzt um Oberflächentechnik und Mess- und Prüftechnik. Das Unternehmen meldet durchgehend seit 2000 an.

377
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

377 gesamt
Patent
27.02.2008
Vernichtung eines Geladenen Strahls und Partikelattraktor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2008
Strahlunterbrechungs- und Strahleinstellungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.02.2008
Unltraviolet-Aushärtprozess für in Vormetall- Und/oder Seichtgraben-Isolationsanwendungen Verwendete Dielektrische Aufschleudermaterialien
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.02.2008
Zweidimensionales Stationäres Strahlprofil und Winkelabbildung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.12.2007
Befestigungsvorrichtung für eine Plasma-Extraktionsblende
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.12.2007
Aktiv gekühlte Verteilungsplatte zur Temperaturreduzierung der reaktiven Gase in einem Plasmabehandlungssystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.11.2007
New and improved ion source
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.11.2007
Dose Uniformity Correction Technique
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.10.2007
Verfahren und Vorrichtung zur Mikrowellenanregung eines Plasmas in einer Ionenstrahlführungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.10.2007
A method of ion beam control for glitch recovery
26.09.2007
Steuerverfahren für Ionenstrahlabtastung und Systeme zur Ionenimplantation
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.09.2007
Arc Quenching Circuit To Mitigate Ion Beam Disruption
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.09.2007
Optimierung der Strahlauslastung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.08.2007
Verfahren zur Korrektur für Waferkristallschnittfehler bei der Halbleiterverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.08.2007
Ultraviolettunterstützte Porenversiegelung von Porösen Dielektrischen Filmen mit Niedrigem K
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.07.2007
Verbesserte Dosierungsuniformität für eine Gescannte Ionenimplantation
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.07.2007
Systeme und Verfahren zur Ionenstrahlfokussierung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.06.2007
Ion implanter with ionization chamber electrode design
13.06.2007
Ionenimplantierung mit Geregelter Dosierung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.06.2007
Verbesserte Verwendung eines Ionenstrahls für eine Gescannte Ionenimplantation
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.06.2007
Beam Current Stabilization Utilizing Gas Feed Control Loop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.05.2007
Elektrodenlose Lampe zur Emission von Uv- Und/oder Vakuum-Uv-Strahlung
Anorganische Chemie & Werkstoffe Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.05.2007
Verfahren zur Herstellung einer Elektrostatischen Mems-Einspannvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.05.2007
Plasmaveraschungsverfahren zur Erhöhung der Photoresist-Entfernungsrate und Plasmavorrichtung mit Kühleinrichtungen
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.05.2007
Ionenstrahlmesssysteme und Verfahren zur Kontrolle der Ionenimplantationsdosierung und der Gleichförmigkeit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.04.2007
Kontakt-Temperatursensor mit thermischer Entkopplung zwischen Sensorkopf und Hitzeschild der elektrischen Zuleitungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.03.2007
Ionenstrahl-Abtastsysteme und Verfahren für Verbesserte Gleichförmigkeit der Ionenimplantation
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.03.2007
Vorrichtung und Verfahren zum Messen des Strahlwinkels und der Normal-Eben-Divergenz von Gescanntem Strahl oder Bandstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.12.2006
Arbeitsstück-Verarbeitungssystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.12.2006
Ultraviolet assisted propgen removal and/or curing processes for forming porous low k dielectrics
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.12.2006
Wafer-Abtastsystem mit Wendeldrehbewegung unter Verwendung von Federn und Gegengewichten
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.12.2006
Pendelantriebssystem zum Abtasten eines Arbeitsstücks
Elektrische Energietechnik
06.12.2006
In-Situ-Überwachung auf einer Drehscheiben-Ionenimplantierungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.11.2006
System and methods for ion beam containment using localized electrostatic fields in an ion beam passageway
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.11.2006
Halterungssystem Einsetzbar über einen Breiten Temperaturbereich
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.11.2006
Mechanical oscillator for wafer scan with spot beam
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.11.2006
Modulieren des Ionenstrahlstroms
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.09.2006
High Conductance Ion Source
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.07.2006
In-Situ Cleaning Of Beam Defining Apertures in an Ion Implanter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.06.2006
Elektrostatische Einspannvorrichtung mit Kontaktleitfähigkeit auf Mems-Basis
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen