Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen der Zeiss-Gruppe, spezialisiert auf industrielle Messtechnik, darunter Koordinatenmessgeräte und Sensoren zur präzisen Vermessung von Bauteilen in Fertigung und Qualitätssicherung.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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291 gesamt| Patent | |||
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04.03.2026
Computerimplementiertes Verfahren, Verfahren, Messgerät und Computerprogrammprodukt
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Status
Angemeldet am 29.03.2022
Erteilt am 04.03.2026
Vertretung
Witte, Weller & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein computerimplementiertes Verfahren (40) zum Erzeugen einer Tiefenkarte eines Bereichs einer Oberfläche eines Werkstücks (12), mit den folgenden Schritten: Empfangen (42) eines Fokalbildstapels, wobei der Fokalbildstapel eine Mehrzahl von Bildern des Werkstücks (12) aufweist, wobei die Bilder den Bereich der Oberfläche des Werkstücks (12) mit in einer Tiefenrichtung unterschiedlichen, definierten Fokalebenenpositionen (22) abbilden, wobei jedem Bild des Fokalbildstapels eine Fokalebenposition (22) zugeordnet ist, wobei Bildpunkte der Bilder jeweils einem entsprechendem Objektpunkt auf der Oberfläche des Werkstücks (12) zugeordnet sind; Bestimmen (44) eines Fokuswerts jedes Bildpunkts jedes Bildes des Fokalbildstapels; Einpassen (46) einer Funktion entlang der Tiefenrichtung (20) an die Fokuswerte derjenigen Bildpunkte der Bilder, die demselben Objektpunkt zugeordnet sind; Bestimmen (48) eines Tiefenwerts jedes Objektpunkts auf der Oberfläche des Werkstücks (12) in der Tiefenrichtung (20) basierend auf einem Extremum der eingepassten Funktion; und Erzeugen (50) der Tiefenkarte des Bereichs der Oberfläche des Werk-stücks (12) basierend auf den bestimmten Tiefenwerten. Des Weiteren betrifft die vorliegende Erfindung ein Verfahren (60) zum Vermessen einer Oberfläche eines Werkstücks (12), ein Messgerät zum Vermessen einer Oberfläche eines Werkstücks (12) und ein Computerprogrammprodukt. |
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11.02.2026
Materialprüfung mit Winkelvariabler Beleuchtung
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24.12.2025
Verfahren und Vorrichtung zur Berührungslosen Vermessung von Objekten
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Status
Angemeldet am 13.06.2023
Erteilt am 24.12.2025
Vertretung
Ostertag & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart
Zusammenfassung
Bei einem Verfahren zur berührungslosen Vermessung eines Objekts (26) mit Hilfe einer Messkamera (24) wird eine ununterbrochene Relativbewegung zwischen der Messkamera (24) und einer Oberfläche (36) des Objekts (26) erzeugt. Während der Relativbewegung werden mehrere Bilder der Oberfläche (36) des Objekts (26) aufgenommen, wobei jedes Bild einen anderen Ausschnitt (34) der Oberfläche (36) zeigt. Eine durch die Relativbewegung erzeugte Unschärfe der Bilder wird unter Anwendung eines Entfaltungsalgorithmus herausgerechnet, wobei unterschiedliche Faltungskerne verwendet werden, die sich in wenigstens einer Nullstelle voneinander unterscheiden. Dabei kann z.B. von jedem Ausschnitt der Oberfläche (36) genau ein Bild aufgenommen werden, wobei während der Aufnahme des genau einen Bildes mindestens ein Aufnahmeparameter so verändert wird, dass sich der Faltungskern während der Aufnahme in wenigstens einer Nullstelle verändert. |
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12.11.2025
Kollisionsvermeidung im Arbeitsraum eines Koordinatenmessgeräts
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Status
Angemeldet am 25.02.2020
Erteilt am 12.11.2025
Vertretung
Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kollisionsvermeidung im Arbeitsraum (A) eines Koordinatenmessgeräts (60), mit: - Erfassen von zumindest einem Teil eines Arbeitsraums (A) eines Koordinatenmessgeräts (60), in dem ein Objekt (20) positioniert ist, mit wenigstens einem optischen Überwachungssensor (26); - Festlegen von wenigstens einem virtuellen Sicherheitsbereich (S) auf Basis der Erfassung, wobei der Sicherheitsbereich (S) das Objekt (20) zumindest teilweise umgibt; - zumindest vorrübergehendes Steuern von Bewegungen des Koordinatenmessgeräts (60), sodass das Koordinatenmessgerät (60) nicht in den Sicherheitsbereich (S) eintritt. Ferner betrifft die Erfindung eine Anordnung (11) mit der eine entsprechende Kollisionsvermeidung erzielbar ist. |
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08.10.2025
Verfahren und Anordnung zum Prüfen einer Funktionsfähigkeit eines Koordinatenmessgeräts
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Status
Angemeldet am 07.07.2022
Erteilt am 08.10.2025
Vertretung
Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen einer Funktionsfähigkeit eines Koordinatenmessgeräts (211), mit folgenden Schritten:- Betreiben des Koordinatenmessgeräts (211) und automatisches Erfassen von Betriebssignalen, die von zumindest einer ersten Erzeugungseinrichtung, die Teil des Koordinatenmessgeräts (211) ist oder eine zusätzliche Erzeugungseinrichtung ist, während des Betriebs erzeugt werden und die Werten zumindest einer physikalischen Größe entsprechen, welche charakteristisch für den Betrieb der ersten Erzeugungseinrichtung und/oder des Koordinatenmessgeräts (211) ist,- automatisches Erzeugen durch eine zweite Erzeugungseinrichtung (5) eines Prüf-Datensatzes aus den erfassten Betriebssignalen und automatisches Übertragen des Prüf-Datensatzes zu einer Auswertungseinrichtung (7), die eine Künstliche Intelligenz (8) aufweist,- Auswerten des Prüf-Datensatzes mittels der Künstlichen Intelligenz (8) durch die Auswertungseinrichtung (7), wobei die Künstliche Intelligenz (8) auf Basis eines Trainings unter Verwendung von Trainings-Datensätzen mit zugeordneten Zusatzinformationen, die jeweils zumindest eine Information über eine aus dem jeweiligen Trainings-Datensatz ermittelbare Funktionsfähigkeit des Koordinatenmessgeräts (211) oder eines vergleichbaren Koordinatenmessgeräts (211) enthalten, in einem betriebsfertigen Zustand ist und wobei die Künstliche Intelligenz (8) aus dem Prüf-Datensatz eine Aussage betreffend die Funktionsfähigkeit des Koordinatenmessgeräts (211) ableitet,- Ausgeben der Aussage betreffend die Funktionsfähigkeit des Koordinatenmessgeräts (211). |
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10.09.2025
Verfahren und Computereinrichtung zum Auswählen einer Messreihenfolge für ein Koordinatenmessgerät
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Status
Angemeldet am 08.04.2019
Erteilt am 10.09.2025
Vertretung
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27.08.2025
Röntgenmessanordnung zum Untersuchen von Prüfobjekten mittels Röntgenstrahlung und Verfahren zum Untersuchen von Prüfobjekten mittels Röntgenstrahlung
EP4605733
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.08.2025
System, Verfahren und Marker zur Positionsbestimmung eines Beweglichen Objektes im Raum
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Status
Angemeldet am 01.06.2018
Erteilt am 06.08.2025
Vertretung
Witte, Weller & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart
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16.07.2025
Bildbearbeitung zur Verbesserung der Schärfentiefe insbesondere bei Objektvermessungen
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Status
Angemeldet am 30.01.2020
Erteilt am 16.07.2025
Vertretung
Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bildbearbeitung, insbesondere für eine Objektvermessung, mit: - Aufnehmen eines Ausgangsbildes (32) von einem Objekt (22) mit einer Bilderfassungseinrichtung, wobei das Ausgangsbild ein Fokusscanbild ist, bei dem eine Fokuseinstellung (D) der Bilderfassungseinrichtung während der Bildaufnahme variiert wird; - Durchführen einer Fouriertransformation des Ausgangsbildes (32); - Erzeugen eines korrigierten Bildes (38) mittels einer frequenzabhängigen Korrekturfunktion (K), die auf die Fouriertransformierte des Ausgangsbildes (32) angewendet wird. Ferner betrifft die Erfindung das Verwenden einer frequenzabhängigen Korrekturfunktion sowie eine Bilderfassungsanordnung, insbesondere zur Objektvermessung. |
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14.05.2025
Verfahren zum Vermessen eines zu Vermessenden Werkstücks mittels eines Koordinatenmessgeräts
EP4553447
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.11.2023
Anhängig
Vertretung
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09.04.2025
Verfahren und Anordnung zum Erfassen eines Kalibrierobjekts mit einer Optischen Sensoreinrichtung
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Status
Angemeldet am 16.07.2019
Erteilt am 09.04.2025
Vertretung
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02.04.2025
Verfahren und System zur Vermessung von Bauteilen sowie Programm
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Status
Angemeldet am 15.02.2022
Erteilt am 02.04.2025
Vertretung
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12.03.2025
Auswertung von Messdaten aus der Vermessung eines Werkstücks durch Zumindest ein Koordinatenmessgerät
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Status
Angemeldet am 11.09.2023
Anhängig
Vertretung
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26.02.2025
Verfahren zum Trainieren eines Streuungskorrekturmodells zur Verwendung in einem Röntgenbildgebungssystem
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Status
Angemeldet am 21.12.2022
Erteilt am 26.02.2025
Vertretung
Zusammenfassung
The invention relates to a computer-implemented method for training a scatter correction model (60) for use in an X-ray imaging system (50), comprising: generating a set of simulated X-ray image data (11,11s) with and without scattered radiation, processing the image data (11s) with scattered radiation of the set of simulated X-ray image data (11,11s) using a domain adaptation technique to provide an adapted set of simulated X-ray image data (11s-a), wherein a target domain of the domain adaptation technique represents a set of experimental X-ray image data (10s) with scattered radiation, training the scatter correction model (60) at least with the adapted set of simulated X-ray image data (11s-a), and providing the trained scatter correction model (60) for application in the X-ray imaging system (50). |
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15.01.2025
Messeinheit und Verfahren zur Optischen Vermessung von Objekten
EP4490468
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.03.2023
Anhängig
Vertretung
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25.12.2024
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Messpunkten einer Angepassten Messbahn zur Vermessung eines Messobjekts durch eine Koordinatenmesseinrichtung sowie Programm
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Status
Angemeldet am 21.04.2020
Erteilt am 25.12.2024
Vertretung
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25.12.2024
Validieren von Prüfplänen zur Objektvermessung mit einem Koordinatenmessgerät
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Status
Angemeldet am 08.10.2019
Erteilt am 25.12.2024
Vertretung
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18.12.2024
Verfahren zum Zugriff auf einen Speicher eines Integrierten Schaltkreises, Programm, Vorrichtung zur Datenverarbeitung und Netzwerk
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Status
Angemeldet am 10.05.2019
Erteilt am 18.12.2024
Vertretung
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11.12.2024
Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Prüfplans für die Prüfung eines Messobjekts, Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Messobjekts und sowie Computerprogrammprodukt
EP4431871
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.05.2018
Anhängig
Vertretung
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27.11.2024
Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Oberflächeneigenschaften eines Werkstücks
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Status
Angemeldet am 16.09.2022
Erteilt am 27.11.2024
Vertretung
Witte, Weller & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart
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11.09.2024
Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines Bauteils, Verfahren zur Qualitätsprüfung und Verfahren zur Herstellung eines Bauteils
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Status
Angemeldet am 28.04.2020
Erteilt am 11.09.2024
Vertretung
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14.08.2024
Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Prüfplans für die Prüfung eines Messobjekts, Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Messobjekts und sowie Computerprogrammprodukt
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Status
Angemeldet am 17.05.2018
Erteilt am 14.08.2024
Vertretung
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07.08.2024
Bestimmung von Tiefenwerten eines Oberflächenbereichs eines Werkstücks
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Status
Angemeldet am 11.02.2022
Anhängig
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31.07.2024
Optisches Erfassen einer Aufnahmeeinrichtung für Einwechselbare Komponenten eines Koordinatenmessgeräts
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Status
Angemeldet am 25.02.2020
Anhängig
Vertretung
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17.07.2024
Optisches Erfassen einer Aufnahmeeinrichtung für Einwechselbare Komponenten eines Koordinatenmessgeräts
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Status
Angemeldet am 25.02.2020
Erteilt am 17.07.2024
Vertretung
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24.04.2024
Verfahren und Anordnung zum Festlegen von Vermessungsparametern für ein Koordinatenmessgerät
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Status
Angemeldet am 14.05.2019
Erteilt am 24.04.2024
Vertretung
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17.04.2024
Verfahren und Anordnung zum Visualisieren von Sensorsignalen eines Optischen Sensors eines Koordinatenmessgeräts oder Mikroskops sowie Verfahren und Anordnung zum Visualisieren eines Sensors eines Koordinatenmessgeräts oder Mikroskops
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Status
Angemeldet am 18.10.2019
Erteilt am 17.04.2024
Vertretung
Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft das Visualisieren von Sensorsignalen eines optischen Sensors (26) eines Koordinatenmessgeräts oder Mikroskops, wobei- der optische Sensor (26) und ein Raum zum Anordnen eines zu erfassenden Werkstücks relativ zu einander beweglich sind,- Daten einer dreidimensionalen Szene (5), die relativ zu dem Raum unbeweglich ist, empfangen werden und/oder vorliegen,- wiederholt ein aus Bildsignalen des optischen Sensors (26) erzeugtes zweidimensionales Sensorbild (4), das in einer gegebenen Relativposition des optischen Sensors (26) und des Raumes einen Raumbereich des Raumes abbildet, mit einem aus den Daten der dreidimensionalen Szene (5) erzeugten zweidimensionalen Ansichtsbild eines Teilbereichs der dreidimensionalen Szene (5) lagerichtig zu einem zweidimensionalen Ausgabebild kombiniert wird und das Ausgabebild zur Darstellung durch eine Bilddarstellungseinrichtung ausgegeben wird,- das zweidimensionale Ansichtsbild entsprechend seiner zwei Dimensionen zwei Richtungen aufweist, entlang denen Bildelemente des Ansichtsbildes darstellbar sind und bei Darstellung durch die Bilddarstellungseinrichtung auch dargestellt werden, wobei für das Ansichtsbild bezüglich zumindest einer der zwei Richtungen einander gegenüberliegende Ränder (2a, 2b, 3a, 3b) vordefiniert sind, zwischen denen sich ein zentraler Bereich des Ansichtsbildes befindet,- wenn das Sensorbild (4) im Vergleich zu einer vorhergehenden Erzeugung des Ausgabebildes nicht mehr denselben Raumbereich abbildet, weil der optische Sensor (26) und der Raum zum Anordnen des zu erfassenden Werkstücks relativ zu einander eine Relativbewegung ausgeführt haben, bei einer wiederholten Erzeugung des Ausgabebildes geprüft wird, ob - bezogen auf ein vorhergehend erzeugtes Ausgabebild bei Verwendung desselben Ansichtsbildes wie in dem vorhergehend erzeugten Ausgabebild - sich das Sensorbild (4) von dem zentralen Bereich über zumindest einen der beiden einander gegenüberliegenden Ränder (2a, 2b, 3a, 3b) hinweg erstrecken würde, und, wenn dies der Fall ist, ein anderes zweidimensionales Ansichtsbild aus den Daten der dreidimensionalen Szene (5) erzeugt wird, wobei das andere zweidimensionale Ansichtsbild einen entsprechend der Relativbewegung verschobenen Teilbereich der dreidimensionalen Szene (5) erfasst. |
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17.04.2024
Bestimmung von Tiefenwerten eines Oberflächenbereichs eines Werkstücks
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Status
Angemeldet am 11.02.2022
Erteilt am 17.04.2024
Vertretung
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20.03.2024
Verfahren und Vorrichtung zur Additiven Fertigung
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Status
Angemeldet am 19.06.2018
Erteilt am 20.03.2024
Vertretung
Witte, Weller & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart
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06.03.2024
Koordinatenmessgerät und Verfahren zur Temperaturabhängigen Korrektur von Dimensionellen Messdaten
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Status
Angemeldet am 30.07.2021
Erteilt am 06.03.2024
Vertretung
Witte, Weller & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart
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21.02.2024
Taststift-Anordnung
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Status
Angemeldet am 12.09.2011
Erteilt am 21.02.2024
Vertretung
Zusammenfassung
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14.02.2024
Vorbereitung der Auswertung von Stichproben von Messwerten einer Messgrösse aus einer Vermessung einer Vielzahl von Werkstücken durch ein oder Mehrere Koordinatenmessgeräte
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Status
Angemeldet am 05.08.2021
Erteilt am 14.02.2024
Vertretung
Zusammenfassung
Insbesondere durch eine Auswertungseinrichtung (21) wird ein computerimplementiertes Verfahren ausgeführt zum Vorbereiten einer Auswertung von Stichproben von Messwerten einer Messgröße aus einer Vermessung einer Vielzahl von Werkstücken durch ein oder mehrere Koordinatenmessgeräte (1), mit folgenden Schritten: a) Anpassung (23) eines Verteilungstyps einer kontinuierlichen statistischen Verteilung an Messwerte einer Stichprobe von Messwerten und Erhalt einer ersten angepassten kontinuierlichen statistischen Verteilung, b) Erzeugung (24) einer Mehrzahl von synthetischen Werten der Messgröße, die bezüglich der Wahrscheinlichkeit ihres Auftretens der ersten angepassten kontinuierlichen statistischen Verteilung gehorchen, c) Bildung (25) einer Mehrzahl von Untergruppen aus der Gesamtheit der Messwerte und der synthetischen Werte der Messgröße, wobei jede der Mehrzahl von Untergruppen eine Mehrzahl der Messwerte und/oder der synthetischen Werte der Messgröße aufweist, d) für jede der Untergruppen Berechnung (26) eines Berechnungswertes einer abgeleiteten Größe, nämlich einer Lagegröße, die eine Lage der Messwerte und/oder der synthetischen Werte der Messgröße der Untergruppe beschreibt, oder einer Streuungsgröße, die die Streuung der Messwerte und/oder der synthetischen Werte der Messgröße der Untergruppe beschreibt, e) Anpassung (27) eines Verteilungstyps einer kontinuierlichen statistischen Verteilung an die Berechnungswerte der abgeleiteten Größe und Erhalt einer zweiten angepassten kontinuierlichen statistischen Verteilung, f) Bestimmung (28) einer oberen Grenze und einer unteren Grenze eines Wertebereichs von Werten der abgeleiteten Größe derart, dass gemäß der zweiten angepassten kontinuierlichen statistischen Verteilung Werte der abgeleiteten Größe mit einem Anteil, der gleich einer vorgegebenen statistischen Wahrscheinlichkeit ist, in dem Wertebereich liegen, der durch die obere und untere Grenze begrenzt ist. |
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07.02.2024
Verfahren zum Vermessen eines Werkstücks unter Verwendung einer Koordinatenmessmaschine und Anordnung mit einer Koordinatenmessmaschine
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Status
Angemeldet am 22.12.2020
Erteilt am 07.02.2024
Vertretung
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20.12.2023
Signalgenerator
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Status
Angemeldet am 30.10.2019
Erteilt am 20.12.2023
Vertretung
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29.11.2023
Anordnung und Verfahren zum Auswerten von Messdaten aus einer Vermessung von Messobjekten durch Zumindest ein Koordinatenmessgerät
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Status
Angemeldet am 21.11.2022
Anhängig
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08.11.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Validierung von Erzeugnisspezifikationen für Qualitätsgeprüfte Erzeugnisse
EP4273732
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 04.05.2022
Anhängig
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04.10.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Prüfplans, Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Messobjekts und Computerprogrammprodukt
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Angemeldet am 17.05.2018
Erteilt am 04.10.2023
Vertretung
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06.09.2023
Verfahren und Computereinrichtung zum Auswählen einer Messreihenfolge für ein Koordinatenmessgerät
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Angemeldet am 08.04.2019
Erteilt am 06.09.2023
Vertretung
Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Festlegen einer Messreihenfolge für ein Koordinatenmessgerät (18), mit: a) Erhalten einer Mehrzahl von Oberflächenbereichen (14) eines Objekts (10), die hinsichtlich wenigstens einer vorbestimmten Eigenschaft mit einem Messsensor (16) vermessen werden sollen, wobei der Messsensor (16) von dem Koordinatenmessgerät (18) zum Vermessen eines jeweiligen Oberflächenbereichs (14) in wenigstens einer spezifischen Position und/oder mit wenigstens einer spezifischen Ausrichtung anzuordnen ist; b) mehrmaliges Ändern einer Messreihenfolge, in der die Oberflächenbereiche (14) vermessen werden sollen, mit einem ersten Algorithmus und mit einem zweiten Algorithmus, wobei die Algorithmen im Rahmen einer jeden Änderung eine geänderte Messreihenfolge samt einer Bewertungsgröße für diese Messreihenfolge ermitteln; c) Auswählen einer der Messreihenfolgen anhand der ermittelten Bewertungsgrößen. Ferner betrifft die Erfindung eine Computereinrichtung (100) zum Ausführen des Verfahrens. |
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28.06.2023
Verfahren und Vorrichtung zur Additiven Herstellung eines Werkstücks
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Status
Angemeldet am 23.07.2021
Anhängig
Vertretung
Witte, Weller & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart
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14.06.2023
Verfahren und System zur Vermessung von Bauteilen sowie Programm
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Angemeldet am 16.02.2021
Erteilt am 14.06.2023
Vertretung
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Wer vertritt Carl Zeiss Industrielle Messtechnik?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Carl Zeiss Industrielle Messtechnik vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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