FEI Company Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

882

Patente

2000–2026

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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882 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
26.10.2011	26.10.2011 Vorrichtung zur Herstellung einer kryogenen TEM-Probe EP2381236 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.04.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.09.2011	21.09.2011 Gehäuse für die akustische Isolierung eines Geräts in besagtem Gehäuse EP1816274 Hochbau & Gebäudetechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.01.2007 Erteilt am 21.09.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.09.2011	21.09.2011 TEM mit Aberrationskorrektor und Phasenplatte EP2128887 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.02.2009 Erteilt am 21.09.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.08.2011	17.08.2011 Verfahren zur Ermittlung von Eigenschaften eines Transistors in einem integrierten Schaltkreis EP2151859 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.08.2009 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.08.2011	03.08.2011 Messung und Endpunktbestimmung von Probendicken EP2351062 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.11.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.07.2011	27.07.2011 Verfahren zur Herstellung eines Strahlungsdetektors EP2346095 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.01.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.07.2011	20.07.2011 Verfahren zur Herstellung eines Strahlungsdetektors EP2346094 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.01.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.07.2011	20.07.2011 Teilchenoptische Vorrichtung mit vorgegebenem Endvakuumdruck EP1816669 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.01.2007 Erteilt am 20.07.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.06.2011	15.06.2011 Hochpräzise Balkenplatzierung zur Navigation in Lokalen Bereichen EP2332162 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.10.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.06.2011	08.06.2011 Gleitlager zur Verwendung mit einer eine Vakuumkammer Umfassenden Vorrichtung EP2033206 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.04.2007 Erteilt am 08.06.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.06.2011	08.06.2011 Teilchenoptisches Gerät mit Mitteln zur Korrektur von Aberrationen EP1717840 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.04.2006 Erteilt am 08.06.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.05.2011	25.05.2011 Ladungsträgerteilchenstrahlsystem EP1577927 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.03.2005 Erteilt am 25.05.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven DeltaPatents B.V · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.05.2011	25.05.2011 Bühnenanordnung, teilchenoptische Vorrichtung mit einer derartigen Anordnung und Verfahren zur Behandlung einer Probe in einer derartigen Vorrichtung EP1780765 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.10.2006 Erteilt am 25.05.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.05.2011	25.05.2011 Hybridphasenplatte EP2131384 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.06.2009 Erteilt am 25.05.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.05.2011	25.05.2011 Korrektor für axiale Aberrationen einer teilchenoptischen Linse EP2325862 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.11.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.05.2011	18.05.2011 Mikroreaktor zur Beobachtung von Partikeln in einer Flüssigkeit EP2322271 Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.10.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.05.2011	04.05.2011 Mikroreaktor zur Beobachtung von Partikeln in einer Flüssigkeit EP2316565 Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.10.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.04.2011	27.04.2011 Verfahren und Vorrichtung für Laserbearbeitung EP2313230 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.07.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.04.2011	27.04.2011 Verfahren und Vorrichtung für Laserbearbeitung EP2313231 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.07.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.04.2011	13.04.2011 Verfahren zum Erzielen eines Rastertransmissionsbildes einer Probe in einer teilchenoptischen Vorrichtung EP2063449 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.11.2008 Erteilt am 13.04.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.03.2011	09.03.2011 Hochvakuumabdichtung EP2292954 Maschinenelemente & Fluidtechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.09.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.03.2011	09.03.2011 Kaltfeldemitter EP1950786 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.01.2008 Erteilt am 09.03.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.03.2011	09.03.2011 Hochvakuumabdichtung EP2292953 Maschinenelemente & Fluidtechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.09.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.03.2011	02.03.2011 Bilddatenverarbeitung EP2289046 Bergbau & Bohrtechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.05.2009 Anhängig Vertretung McGowan, Cathrine · London Haines, Miles John L.S · München D Young & Co LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.02.2011	16.02.2011 Vorrichtung zur Bereitstellung einer Schutzschicht zur Bearbeitung eines geladenen Teilchenstrahls EP1918981 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.10.2007 Erteilt am 16.02.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.01.2011	26.01.2011 Verfahren zur Bestimmung von Verzeichnungen in einer teilchenoptischen Vorrichtung EP2197017 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.12.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.01.2011	26.01.2011 Verfahren zur Untersuchung einer Probe EP2278306 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.07.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.01.2011	19.01.2011 Verfahren und Vorrichtung zum Manipulieren von mikroskopischen Proben EP1515360 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.06.2004 Erteilt am 19.01.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.01.2011	12.01.2011 Verfahren zur Gewinnung von Bildern aus Probenscheiben EP1890137 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.08.2007 Erteilt am 12.01.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven DeltaPatents B.V · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.12.2010	29.12.2010 Sammeln von Sekundärelektronen durch die Objektivlinse eines Rasterelektronenmikroskops EP1305816 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.04.2001 Erteilt am 29.12.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.12.2010	22.12.2010 Verfahren zum Bearbeiten einen Zielbereich in einem Teilchenstrahlsysteme EP1200988 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.03.2001 Erteilt am 22.12.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.12.2010	15.12.2010 Au-haltige Schicht erhältlich mittels eines geladenen Teilchenstrahls EP2261395 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.06.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.11.2010	17.11.2010 Verfahren und System zur Spektraldatenanalyse EP2250474 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.02.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.10.2010	13.10.2010 Quelle für geladene Teilchen mit integriertem Energiefilter EP2128886 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.05.2009 Erteilt am 13.10.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.10.2010	13.10.2010 Verfahren zur Ausbildung mikroskopischer dreidimensionaler Strukturen EP2239628 Kunststoff- & Polymertechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.04.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.09.2010	29.09.2010 Erzeugung eines Bildes während des Fräsens eines Werkstücks EP2233907 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.03.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.09.2010	29.09.2010 Erzeugung eines Bildes während des Fräsens eines Werkstücks EP2233906 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.03.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.08.2010	25.08.2010 Punktförmige Schottky-Elektronenquelle mit hoher Winkelintensität EP1359599 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.12.2002 Erteilt am 25.08.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.08.2010	25.08.2010 Teilchendetektor geeignet für die Erkennung von Ionen und Elektronen EP1636819 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.06.2004 Erteilt am 25.08.2010 Vertretung Pollard, Peter Julian · Veldhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven DeltaPatents B.V · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.07.2010	07.07.2010 In-Situ-STEM-Probenherstellung EP1998356 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.05.2008 Erteilt am 07.07.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven DeltaPatents B.V · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen