FEI Company Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

882

Patente

2000–2026

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

882 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
21.11.2012	21.11.2012 Ladungsträger-Mikroskop EP2525385 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.05.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.11.2012	07.11.2012 Segmentierter Detektor aus Szintillatormaterial für geladene Partikel EP2521157 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.05.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.10.2012	17.10.2012 Simultane Elektronendetektion EP2387062 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.05.2011 Erteilt am 17.10.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.10.2012	10.10.2012 Verfahren zum Schutz eines Strahlungsdetektors in einem Ladungsteilcheninstrument EP2509097 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.04.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.10.2012	10.10.2012 Geformte Sputter-Abschirmungen für Verbesserten Ionensäulenbetrieb EP1665319 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.08.2004 Erteilt am 10.10.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.10.2012	03.10.2012 Verfahren und Vorrichtung zur Scan-Instrumentenkalibration EP1428006 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektrische Energietechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.06.2002 Erteilt am 03.10.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.10.2012	03.10.2012 Stiftvorrichtung, um kleine Strukturen zu modifizieren. EP1587113 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.04.2005 Erteilt am 03.10.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.09.2012	26.09.2012 Verfahren zur Herstellung von Nanovorrichtungen EP1801068	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.12.2006 Erteilt am 26.09.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.09.2012	12.09.2012 Strahlinduzierte Abscheidung von Material mit niedrigem Widerstand EP2481829 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.01.2012 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.08.2012	15.08.2012 Detektor zur Verwendung in der Mikroskopie mit geladenen Teilchen EP2487703 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.02.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.08.2012	08.08.2012 Verfahren zum Zentrieren eines optischen Elements in einem TEM mit kontrastverstärkendem Element EP2485239 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.02.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.08.2012	08.08.2012 Verfahren zum Messen der Temperatur einer Probe in einer optischen Vorrichtung mit geladenen Partikeln EP2458355 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.11.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.08.2012	01.08.2012 Verfahren zum Aufbringen von Material EP2481828 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.01.2012 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.07.2012	18.07.2012 Strahleninduziertes Verfahren zum selektiven Ätzen eines Material aus einem Quarzsubstrat EP1710327 Metallurgie & Oberflächentechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.04.2006 Erteilt am 18.07.2012 Vertretung Heselberger, Johannes · München Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.06.2012	06.06.2012 Detektorsystem zur Verwendung mit Transmissionselektronenmikroskop-Spektroskopie EP2461348 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.12.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.06.2012	06.06.2012 Detektorsystem für Transmissionselektronenmikroskop EP2461347 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.12.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.05.2012	30.05.2012 Elektronenmikroskop mit unterstützender Lokalisationvorrichtung EP2458617 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.11.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.05.2012	30.05.2012 Verfahren zum Messen der Temperatur einer Probe in einer optischen Vorrichtung mit geladenen Partikeln EP2458354 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.11.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.05.2012	16.05.2012 Quelle für geladene Teilchen mit integriertem elektrostatischen Energiefilter EP2453461 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.11.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.05.2012	16.05.2012 Vorrichtung zum Beobachten einer Probe mit einem Teilchenstrahl und einem optischen Mikroskop EP1953792 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.02.2008 Erteilt am 16.05.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.05.2012	09.05.2012 Teilchenstrahlsystem mit mehreren, durch den Benutzer wählbaren Betriebsmodi EP2312611 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.10.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.04.2012	25.04.2012 REM-Abbildungsverfahren EP2444991 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.10.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.04.2012	11.04.2012 Verfahren zur Fokussierung eines Ladungsträgerstrahlgerätes mit Hilfe des Ladungsträgerstrahlsastigmatismus EP1511065 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.08.2004 Erteilt am 11.04.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.04.2012	11.04.2012 Elektronenstrahlverarbeitung zur Maskenreparatur EP1586007 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.01.2004 Erteilt am 11.04.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Hofstetter, Schurack & Partner · München Patentanwälte Hofstetter, Schurack & Skora · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.03.2012	21.03.2012 Elektronenmikroskop mit einem oder mehreren Integrierten Detektoren EP2430432 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.05.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.02.2012	22.02.2012 Extraktionseinrichtung und Verfahren für Geladene Teilchen EP1683163 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.10.2004 Erteilt am 22.02.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.02.2012	08.02.2012 Verfahren zur Bildung einer 3D-Rekonstruktion einer Probe mittels Rastersondenmikroskop EP2416165 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.08.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.01.2012	11.01.2012 System zum Modifizieren kleiner Strukturen EP1610377 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.04.2005 Erteilt am 11.01.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.01.2012	04.01.2012 Verfahren zur Elektrondiffraktionstomografie EP2402976 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.06.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.01.2012	04.01.2012 Strahleninduzierte Ablagerung bei kryogenischen Temperaturen EP2402475 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.06.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.01.2012	04.01.2012 Verfahren zur Elektrondiffraktionstomografie EP2402977 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.06.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.12.2011	28.12.2011 Blockierelement zur Verwendung in einer TEM-Brechungsebene EP2400522 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.06.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.12.2011	14.12.2011 Magnetische Linse EP1498929 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.07.2004 Erteilt am 14.12.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.11.2011	23.11.2011 Simultane Elektronendetektion EP2388796 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.05.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.11.2011	16.11.2011 Echtzeitüberwachung zur Gleichzeitigen Abbildung und Belichtung in Systemen mit Geladenen Teilchenstrahlen EP1332510 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.09.2001 Erteilt am 16.11.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.11.2011	16.11.2011 Verfahren zum Aufbringen von metallischen Strukturen auf einem Substrat EP2151854 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.08.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.11.2011	02.11.2011 Lokalisierte Plasmabehandlung EP1630849 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.08.2005 Erteilt am 02.11.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.11.2011	02.11.2011 Verfahren zur Verwendung eines Direktelektrondetektors für ein TEM EP2383769 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.04.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.11.2011	02.11.2011 Verfahren zur Abbildung eines Objekts EP2383767 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.04.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.10.2011	26.10.2011 Transmissions-Rasterelektronenmikroskop, das Gasverstärkung anwendet EP2182546 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.11.2009 Erteilt am 26.10.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen