FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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03.12.2025
Driftkompensation für Strahlungsempfindliche Proben
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.12.2025
Korrektur von Aberrationen in der Inline-Elektronenholographie
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.11.2025
Scanning electron microspcope for capturing diffraction patterns
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.05.2025
Anhängig
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26.11.2025
System zur Erzeugung von Gelspurigen Prakts zur Hervorhebung von Dekonvolutierten Massen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.11.2025
Instrumentenoptimierung mit Analytbasiertem Massenspektrometer und Algorithmusparametern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.11.2025
Rasterelektronenmikroskop zum Erfassen von Beugungsmustern
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.05.2024
Anhängig
Vertretung
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19.11.2025
Abtastdeflektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.11.2025
Feldemitteranordnung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.11.2025
Unterstützung eines Large Language Models für den Betrieb eines Ladungsträgerteilchenmikroskops
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.11.2025
Beam Synchronization in Microscopy
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.05.2025
Anhängig
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12.11.2025
Strahlausrichtung und -Synchronisation in der Mikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.11.2025
Klassifizierung Mikroskopischer Komponenten Physikalischer Proben
Software & Datenverarbeitung
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05.11.2025
Elektrisches und Thermisches Verbindungskabel für Ladungsträgerteilchenmikroskope
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.10.2025
Verfahren und System zur Abbildung einer Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.10.2025
Erfassungsstrategie für Neuronale Netzwerkbasierte Bildwiederherstellung
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 06.05.2020
Erteilt am 29.10.2025
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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29.10.2025
Verwaltung Defekter Pixel in der Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2021
Erteilt am 29.10.2025
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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23.10.2025
Digital sample model for instrumental optimization
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 16.04.2025
Anhängig
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22.10.2025
Automatische Korrektur der Energieabhängigen Defokussierung in Teilchenstrahlsystemen durch Konfigurationsänderung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.10.2025
Automatisierte Spitzen- und Grundlinienerzeugung für Chromatogrammdaten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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15.10.2025
Hybride Hintergrundextraktion in der Elektronenholographie
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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15.10.2025
Probenträgergittererkennung
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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15.10.2025
Ladungsträgerteilchenmikroskop mit einem Ladungsträgerteilchendetektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.04.2024
Anhängig
Vertretung
Pecharová, Petra · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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15.10.2025
Verfahren zur Erzeugung einer Serie von Kippbildern einer Probe in mehreren Neigungswinkeln
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.04.2024
Anhängig
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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15.10.2025
Verfahren zur Erzeugung einer Serie von Kippbildern einer Probe in mehreren Neigungswinkeln
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.04.2024
Anhängig
Vertretung
Pecharová, Petra · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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02.10.2025
Virtual Interactive Microscope Experiment Simulation Platform
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 23.03.2025
Anhängig
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01.10.2025
Auf Rahmen Basierende Präzessionsabbildung in der Elektronenmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.09.2025
Spektralbildanalyse mittels Integrationsbeschränkter Anpassung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Zusammenfassung
Systems or techniques are provided for facilitating spectral image analysis via integration-constrained fitting. In various embodiments, a system can access a spectral image of a specimen captured by a scientific instrument, wherein pixels of the spectral image respectively correspond to energy spectra. In various aspects, the system can fit in pixel-wise fashion a function to the energy spectra, wherein the function comprises a plurality of terms that are additively combined, wherein a first term of the plurality of terms represents a fine structure of the energy spectra, and wherein an integral associated with the first term is constrained to zero. In various instances, the system can segment the spectral image by material, based on the first term. |
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17.09.2025
Kachelbereichsnachbarschaftsgraphberechnung über Pixelbereichsnachbarschaftsgraphen
Software & Datenverarbeitung
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10.09.2025
Plasmaquellensystem für Mischgasspezies
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.09.2025
Systeme und Verfahren zur Übertragung einer Probe in und aus einer Vakuumkammer eines Transmissionselektronenmikroskops
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.08.2025
Probenspitze
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.08.2025
Tiefenrekonstruktion für 3D-Bilder von Proben in einem Geladenen Teilchensystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.08.2025
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer Probe eines oder mehrerer Moleküle zur Bildgebung mit einem Kryoelektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
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06.08.2025
Automatische Spitzen- und Grundlinienerzeugung für Chromatogrammdaten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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23.07.2025
Verbessertes Rasterelektronenmikroskop und Verfahren zu dessen Verwendung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.01.2024
Anhängig
Vertretung
Pecharová, Petra · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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17.07.2025
Method and system for quality control
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 10.01.2024
Anhängig
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16.07.2025
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer Probe eines oder mehrerer Moleküle zur Bildgebung mit einem Kryoelektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.07.2025
Verfahren und Systeme zur Bestimmung der Absoluten Kristallstruktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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02.07.2025
Trockene Elektronenquellenumgebung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.06.2025
Mehrpolige Elemente und Ladungsträgerteilchenmikroskopsysteme damit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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