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FEI Company Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

882
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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882 gesamt
Patent
25.06.2025
Zusammengesetztes Mapping mit Variablen Parametern für Geladene Teilchenstrahlen zur Bildgebung und Energiedispersiven Röntgenspektroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.06.2025
Optische Komponenten für Geladene Teilchen und Ihre Herstellung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.06.2025
Mehrpolige Elemente und Ladungsträgerteilchenmikroskopsysteme damit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.06.2025
Scientific instrument with cryogenic sample stage
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Optik & Fototechnik
11.06.2025
Wissenschaftliches Instrument mit Kryogenem Probenträger
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Optik & Fototechnik
11.06.2025
Partikelinduzierte Röntgenstrahlung mit Leicht- und Schwerpartikelstrahlen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.06.2025
Abtastmuster für Wissenschaftliche Instrumente
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.06.2025
Verfahren und System zur Erzeugung eines Beugungsbildes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.06.2025
Steuerung eines Elektronentomographietisches
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.06.2025
Transmissionselektronenmikroskop mit Variabler Effektiver Brennweite
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.05.2025
Kohlenstoffhaltige Vorprodukte für Strahlinduzierte Abscheidung
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.05.2025
Erhöhung von Informationen aus Apodisierung
Optik & Fototechnik
21.05.2025
Abgeschirmter Detektor für Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.05.2025
Minimierung von Coulomb-Interaktionen und Energiestreuung in Systemen mit Fokussiertem Ionenstrahl (fib)
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.05.2025
Verfahren, das durch eine Datenverarbeitungsvorrichtung Implementiert Ist, und eine Geladene Teilchenstrahlvorrichtung zur Untersuchung einer Probe unter Verwendung eines Solchen Verfahrens
Software & Datenverarbeitung
30.04.2025
3D-Kartierung von Proben in der Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.04.2025
Transmission electron microscopy of streams of ions and molecules
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.04.2025
Verfahren und Systeme zur Erfassung von Dreidimensionalen Elektronenbeugungsdaten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
16.04.2025
Vorrichtung zur Verwendung mit einem Elektrischen Bauteil, System mit Vorrichtung zur Verwendung mit einem Elektrischen Bauteil, Verfahren zum Betrieb des Elektrischen Bauteils
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
16.04.2025
Korrektur von Optischen Aberrationen in der Ladungsträgerstrahlmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.04.2025
Aberrationskorrektursysteme und Ladungsträgerteilchenmikroskopsysteme damit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.04.2025
Aberrationskorrektursysteme und Ladungsträgerteilchenmikroskopsysteme damit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.04.2025
Tensorial Template Matching
Software & Datenverarbeitung
02.04.2025
Tensorale Vorlagenanpassung
Software & Datenverarbeitung
02.04.2025
Verfahren und Systeme zur Elektronenbeugung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.04.2025
Verbesserte Eds-Kalibrierung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.04.2025
Adaptive Slice-Tiefe in einem Slice- und Ansichtsarbeitsablauf
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.03.2025
Probenträger und Verwendungen davon
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.03.2025
Blankerverstärkte Moiré-Bildgebung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.03.2025
Automatisierte Bereichsauswahl für Automatische Abtastung
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.03.2025
Magnetische Linsen, Ladungsträgerteilchenmikroskopsysteme damit und Zugehörige Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2025
Differentialphasenkontrastmikroanalyse unter Verwendung von Energieverlustspektrometern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2025
Flüssigprobengitter für Transmissionselektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2025
Tem-Gitter mit Flüssigkeitsverteilungsspuren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.02.2025
Präkursoren zur Kondensation auf einer Probe, und Vorrichtung und Verfahren zum Ausspülen von Verunreinigungen
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.02.2025
Lichtleiteranordnung für ein Elektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.02.2025
Systeme und Verfahren zur Durchführung von Probenaushebung für Hochreaktive Materialien
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.02.2025
Spektrumsynthese aus Einzelspektren
Software & Datenverarbeitung
22.01.2025
Fib- und Sem-Auflösungsverbesserung mittels Asymmetrischer Sondenentfaltung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.01.2025
Korrektur der Aberration eines Mikroskops
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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