FEI Company Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

506

Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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506 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
12.06.2024	12.06.2024 Einfacher Korrektor der Sphärischen Aberration für Sem EP4322198 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.08.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.05.2024	22.05.2024 Ladungsträgerteilchenmikroskop mit Mehrstrahlenabtastübertragung EP3706155 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.02.2020 Erteilt am 22.05.2024 Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.05.2024	15.05.2024 Pixelelemente, Teilchenstrahlmikroskope damit und Zugehörige Verfahren EP4369048 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.11.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.05.2024	15.05.2024 Verbesserte Transmissionselektronenmikroskopie EP4369376 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.06.2022 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.05.2024	01.05.2024 Verfahren und System zum Bestimmen der Probenzusammensetzung aus Spektraldaten durch Retraining eines Neuronalen Netzes EP4113109 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.06.2022 Erteilt am 01.05.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.04.2024	24.04.2024 Elektronenbeugungsholographie EP4318546 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.03.2021 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.03.2024	06.03.2024 Anwendungsverwaltung für Ladungsträgerteilchenmikroskopvorrichtungen EP4333020 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.08.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.03.2024	06.03.2024 Automatisierte Auswahl und Modelltraining für Ladungsträgerteilchenmikroskopbildgebung EP4332915 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.08.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.03.2024	06.03.2024 Verfahren zur Herstellung von Mikrostäben für Elektronenemitter sowie Entsprechende Mikrostäbe und Elektronenemitter EP4297060 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.06.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.02.2024	28.02.2024 Einspringendes Gassystem für ein Ladungsteilchenmikroskop EP4113568 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.06.2022 Erteilt am 28.02.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.02.2024	14.02.2024 Einfacher Korrektor der Sphärischen Aberration für Sem EP4322197 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.08.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.02.2024	07.02.2024 Verbesserte Rekonstruktionsalgorithmen von Elektronenbasierten Hologrammen EP3839640 Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.12.2020 Erteilt am 07.02.2024 Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.02.2024	07.02.2024 Klemmmechanismus EP4318544 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.08.2022 Anhängig Vertretung Robinson, Louise Frances · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.01.2024	31.01.2024 Verfahren zur Probenvorbereitung und -Analyse EP4312245 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.07.2022 Anhängig Vertretung Robinson, Louise Frances · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.01.2024	24.01.2024 Verfahren zur Untersuchung einer Probe mit einem Ladungsträgermikroskop EP4310485 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.07.2022 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.01.2024	10.01.2024 Ladungsteilchenstrahlquelle EP3886137 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.03.2021 Erteilt am 10.01.2024 Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.12.2023	13.12.2023 Automatische Teilchenstrahlfokussierung EP4220683 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.01.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.12.2023	06.12.2023 System und Verfahren zur Automatisierten Verarbeitung mehrerer Proben in einem Bib-System EP4287237 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.05.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.11.2023	29.11.2023 Kombinierte Laser- und Breitionenstrahlsysteme zur Effizienteren Bearbeitung mehrerer Proben EP4283653 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.05.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.11.2023	29.11.2023 Verfahren und Systeme zur Ausrichtung eines Mehrstrahlsystems EP4254468 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.03.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.11.2023	22.11.2023 Systeme mit Breitem Ionenstrahl (bib) zur Effizienteren Verarbeitung mehrerer Proben EP4279900 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.05.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.11.2023	22.11.2023 Verfahren und System zur Positionierung und Übertragung einer Probe EP4202972 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.02.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.11.2023	15.11.2023 Behälterdeckel EP4275793 Verpackungs- & Fördertechnik Verfahrens- & Trenntechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.05.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.11.2023	08.11.2023 Mikroskopvorrichtung EP2761356 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.09.2012 Erteilt am 08.11.2023 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Ziermann, Oliver · St. Wendel Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.11.2023	01.11.2023 Transmissionsaufgeladeneteilchenmikroskop mit Verbessertem Eels/eftem-Modul EP3496129 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.12.2017 Erteilt am 01.11.2023 Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.11.2023	01.11.2023 System zur Vorbereitung und Abgabe von Biologischen Proben zur Analyse mit Geladenen Teilchen EP3758043 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.06.2020 Erteilt am 01.11.2023 Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.10.2023	25.10.2023 Datenerfassungs- und -Verarbeitungsverfahren zur Dreidimensionalen Rekonstruktion EP4024039 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.12.2021 Erteilt am 25.10.2023 Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.09.2023	27.09.2023 System und Verfahren zur Handhabung von Proben zur Untersuchung in einem Gerät für Geladene Teilchen Wie Z.b. einem Transmissionselektronenmikroskop EP4250329 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.03.2022 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2023	30.08.2023 Messung und Korrektur von Optischen Aberrationen in der Ladungsträgerstrahlmikroskopie EP4235731 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.02.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.08.2023	23.08.2023 Interferometrisches Stehwellenmikroskop EP3159729 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.08.2016 Erteilt am 23.08.2023 Vertretung Ziermann, Oliver · St. Wendel Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.08.2023	23.08.2023 Tem-Gitter mit Hoher Kapazität EP2933821 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.04.2015 Erteilt am 23.08.2023 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.07.2023	26.07.2023 Vakuumkompatibler Röntgenschirm EP4184527 Elektrische Energietechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.11.2022 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.07.2023	26.07.2023 Selbsteinstellende Stufeneinschwingzeit mit Rückkopplung in der Ladungsträgerteilchenmikroskopie EP4216256 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.01.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.07.2023	05.07.2023 Korrektoren der Chromatischen Aberration mittels eines Elektrostatischer Spiegel EP4207242 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.12.2022 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.07.2023	05.07.2023 Verfahren und Systeme zur Tomographischen Mikroskopiebildgebung EP4206664 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.12.2022 Anhängig Vertretung Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.06.2023	28.06.2023 Transmissions-Ladungsträgerteilchenstrahl-Gerät und Verfahren zur Ausrichtung Desselben EP4202974 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.12.2021 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.06.2023	28.06.2023 Verfahren und System zur Bestimmung der Strahlposition EP4202973 Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.12.2022 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2023	21.06.2023 Thermische Driftkorrektur basierend auf Thermischer Modellierung EP4199030 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.12.2021 Anhängig Vertretung Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.05.2023	24.05.2023 Verfahren zum Abbilden und Fräsen einer Probe EP4184549 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.11.2021 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.05.2023	24.05.2023 Verfahren und Systeme für Probentransfer EP4184548 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.10.2022 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen