FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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506 gesamt| Patent | |||
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03.02.2021
Verfahren zur Untersuchung einer Probe Mithilfe eines Teilchenmikroskops
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.08.2019
Anhängig
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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27.01.2021
Korrekturübertragungsoptik für Lorentz-Em
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.07.2020
Anhängig
Vertretung
Pecharová, Petra · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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20.01.2021
Verfahren zur Herstellung eines Detektors für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.01.2021
Verbesserte Herstellung von Kryogenen Proben Z. B. zur Ladungsträgerteilchenspektroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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30.12.2020
Automatisiertes und Robustes Verfahren zur Aufzeichnung von 3D-Bilddaten in Nm-Auflösung aus Seriellen Ultra-Abschnitten von Proben aus Biowissenschaftlichen Proben mit Elektronenmikroskopen
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 26.06.2020
Anhängig
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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30.12.2020
Verwendung von Bildern von Sekundären Mikroskopdetektoren zur Automatischen Erzeugung Markierter Bilder von Primären Mikroskopdetektoren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.12.2020
Elektronenmikroskop mit Verbesserter Bildauflösung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.12.2020
Verfahren zur Untersuchung einer Probe unter Verwendung eines Ladungsteilchenmikroskops mit Erfassung eines Elektronenenergieverlust- (eels) Spektrums
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.06.2019
Anhängig
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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02.12.2020
Verfahren zur Untersuchung einer Probe mit einem Ladungsträgermikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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18.11.2020
Bildkontrast-Manipulation mittels Laserbasierter Phasenplatte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.05.2020
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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11.11.2020
Verfahren zur Untersuchung einer Probe mit einem Ladungsträgermikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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11.11.2020
Verfahren zur Untersuchung einer Probe mit einem Ladungsträgermikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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04.11.2020
Charakterisierende Abbildungstechnik in der Rastertransmissionsladungsteilchenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A method of imaging a specimen in a Scanning Transmission Charged Particle Microscope, comprising the following steps:- Providing the specimen on a specimen holder;- Providing a beam of charged particles that is directed from a source through an illuminator so as to irradiate the specimen;- Providing a segmented detector for detecting a flux of charged particles traversing the specimen, which flux forms a beam footprint on said detector;- Causing said beam to scan across a surface of the specimen, combining signals from different segments of the detector so as to produce a vector output from the detector at each scan position, and compiling this data to yield an imaging vector field;- Mathematically processing said imaging vector field by subjecting it to a two-dimensional integration operation, thereby producing an integrated vector field image of the specimen,specifically comprising:- Using a confined sub-region of said beam footprint to produce said vector output, and the attendant imaging vector field and integrated vector field image. |
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14.10.2020
Mehrstrahl-Bildaufnahmevorrichtung für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.09.2020
Durch Künstliche Intelligenz Aktivierte Volumenrekonstruktion
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.09.2020
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung zur Inspektion einer Probe mit einer Vielzahl von Ladungsteilchenteilstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.09.2020
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung zur Inspektion einer Probe mit einer Vielzahl von Ladungsteilchenteilstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.02.2019
Anhängig
Vertretung
Pecharová, Petra · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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26.08.2020
Probenhalter für ein Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.02.2019
Anhängig
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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08.07.2020
Ladungsträgerteilchenmikroskop mit Einstellbarer Strahlenergiespreizung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.06.2020
Intelligente Vorabtastung in der Rastertransmissionsteilchenmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.05.2020
Verfahren zur Abbildung einer Probe mit einem Elektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.05.2020
Ladungsteilchenmikroskop zur Untersuchung einer Probe und Verfahren zur Bestimmung einer Aberration des Ladungsteilchenmikroskops
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
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06.05.2020
Messung und Endpunktbestimmung von Probendicken
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.10.2018
Anhängig
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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15.04.2020
Gis-Geschweisste Mikromanipulatorverlängerungen
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.09.2019
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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15.04.2020
Befestigen von Nanoobjekten an Strahlabgeschiedenen Strukturen
Metallurgie & Oberflächentechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.09.2016
Erteilt am 15.04.2020
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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15.04.2020
Ladungsträgerteilchenmikroskop und Verfahren zur Anpassung eines Ladungsträgerteilchenmikroskops
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.03.2020
Bildgebungsvorrichtung mit Multi-Elektronen-Strahl mit Verbesserter Leistung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.03.2020
Verbesserte Sekundärionen-Massenspektrometrie-Technik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.02.2020
Röntgen- und Partikelabschirmung für Verbesserte Vakuumleitfähigkeit
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.02.2020
Verfahren zur Untersuchung einer Probe mit einem Ladungsträger-Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.02.2020
Kontaktlose Temperaturmessung in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.11.2015
Erteilt am 26.02.2020
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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12.02.2020
Verfahren zur Detektion von Teilchenstrahlung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.11.2016
Erteilt am 12.02.2020
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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29.01.2020
Beugungsbilddetektion in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.01.2020
Adaptive Probenbilderfassung mit einem Künstlichen Neuronalen Netz
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.01.2020
Elektronenmikroskop mit Verbesserter Abbildungsauflösung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.12.2019
Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Elektrischer Hochgeschwindigkeitsaktivität in Integrierten Schaltungen unter Verwendung von Geladenen Teilchenstrahlen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.12.2019
Verbessertes Mehrstrahliges Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.11.2019
System und Verfahren zum Präparieren von Integrierten Schaltungen zur Untersuchung der Rückseite unter Verwendung Geladener Teilchenstrahlen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.01.2019
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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13.11.2019
Rechner-Abtastmikroskopie mit Verbesserter Auflösung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.06.2015
Erteilt am 13.11.2019
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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06.11.2019
Technik zur Eels-Detektion in einem Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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