FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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882 gesamt| Patent | |||
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17.04.2024
Verringerung des Stromverbrauchs für ein System mit Geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.10.2023
Anhängig
Vertretung
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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03.04.2024
Verfahren zur Automatisierten Datenerfassung für ein Transmissionselektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A method of automated data acquisition for a transmission electron microscope, the method comprising: obtaining a reference image of a sample at a first magnification; for each of a first plurality of target locations identified in the reference image: steering an electron beam of the transmission electron microscope to the target location, obtaining a calibration image of the sample at a second magnification greater than the first magnification, and using image processing techniques to identify an apparent shift between an expected position of the target location in the calibration image and an observed position of the target location in the calibration image, training a non-linear model using the first plurality of target locations and the corresponding apparent shifts; based on the non-linear model, calculating a calibrated target location for a next target location; steering the electron beam to the calibrated target location and obtaining an image at a third magnification greater than the first magnification. |
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06.03.2024
Anwendungsverwaltung für Ladungsträgerteilchenmikroskopvorrichtungen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.03.2024
Automatisierte Auswahl und Modelltraining für Ladungsträgerteilchenmikroskopbildgebung
Software & Datenverarbeitung
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06.03.2024
Verfahren zur Herstellung von Mikrostäben für Elektronenemitter sowie Entsprechende Mikrostäbe und Elektronenemitter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.02.2024
Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung einer Probe mittels Elektronenrückstreuungsdiffraktion
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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28.02.2024
Einspringendes Gassystem für ein Ladungsteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.02.2024
Einfacher Korrektor der Sphärischen Aberration für Sem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.02.2024
System zum Schutz von Sensoren in Elektronenbildgebungsanwendungen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.08.2022
Anhängig
Vertretung
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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07.02.2024
Verbesserte Rekonstruktionsalgorithmen von Elektronenbasierten Hologrammen
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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07.02.2024
Klemmmechanismus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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31.01.2024
Verfahren zur Probenvorbereitung und -Analyse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.01.2024
Verfahren zur Untersuchung einer Probe mit einem Ladungsträgermikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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10.01.2024
Ladungsteilchenstrahlquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.12.2023
Improved Transmission Electron Microscopy
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.06.2023
Anhängig
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27.12.2023
System und Verfahren mit Fokussiertem Ionenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.12.2023
Automatische Teilchenstrahlfokussierung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.12.2023
System und Verfahren zur Automatisierten Verarbeitung mehrerer Proben in einem Bib-System
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.12.2023
Automatische Auswahl von Bestimmten Strukturen zur Lamellenprobenvorbereitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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29.11.2023
Kombinierte Laser- und Breitionenstrahlsysteme zur Effizienteren Bearbeitung mehrerer Proben
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.11.2023
Verfahren und Systeme zur Ausrichtung eines Mehrstrahlsystems
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.11.2023
Systeme mit Breitem Ionenstrahl (bib) zur Effizienteren Verarbeitung mehrerer Proben
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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22.11.2023
Verfahren und System zur Positionierung und Übertragung einer Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.11.2023
Behälterdeckel
Verpackungs- & Fördertechnik
Verfahrens- & Trenntechnik
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08.11.2023
Mikroskopvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.09.2012
Erteilt am 08.11.2023
Vertretung
Ziermann, Oliver · St. Wendel
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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01.11.2023
Transmissionsaufgeladeneteilchenmikroskop mit Verbessertem Eels/eftem-Modul
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.11.2023
System zur Vorbereitung und Abgabe von Biologischen Proben zur Analyse mit Geladenen Teilchen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.10.2023
Datenerfassungs- und -Verarbeitungsverfahren zur Dreidimensionalen Rekonstruktion
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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18.10.2023
Interferenzkompensation in Mikroskopiesystemen
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 13.04.2023
Anhängig
Vertretung
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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27.09.2023
System und Verfahren zur Handhabung von Proben zur Untersuchung in einem Gerät für Geladene Teilchen Wie Z.b. einem Transmissionselektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.08.2023
Messung und Korrektur von Optischen Aberrationen in der Ladungsträgerstrahlmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.08.2023
Interferometrisches Stehwellenmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.08.2016
Erteilt am 23.08.2023
Vertretung
Ziermann, Oliver · St. Wendel
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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23.08.2023
Tem-Gitter mit Hoher Kapazität
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.04.2015
Erteilt am 23.08.2023
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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26.07.2023
Selbsteinstellende Stufeneinschwingzeit mit Rückkopplung in der Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.07.2023
Vakuumkompatibler Röntgenschirm
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.07.2023
Verfahren und Systeme zur Tomographischen Mikroskopiebildgebung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.12.2022
Anhängig
Vertretung
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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05.07.2023
Korrektoren der Chromatischen Aberration mittels eines Elektrostatischer Spiegel
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.06.2023
Transmissions-Ladungsträgerteilchenstrahl-Gerät und Verfahren zur Ausrichtung Desselben
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.06.2023
Verfahren und System zur Bestimmung der Strahlposition
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.06.2023
Mikroskopie-Feedback für Verbesserte Ätzgenauigkeit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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