FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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506 gesamt| Patent | |||
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29.06.2022
Magnetfeldfreie Probenebene für ein Ladungsteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.12.2021
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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22.06.2022
Gegenpol mit Permanentmagneten
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.05.2022
Verfahren zur Bestimmung der Energiebreite eines Geladenen Teilchenstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.05.2022
System und Verfahren zur Handhabung von Kryoproben für Ladungsträgerteilchen-Instrumente
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.05.2022
Röntgenstrahlenabbildungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.11.2015
Erteilt am 04.05.2022
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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13.04.2022
Verfahren und System zur Korrektur von Parasitären Zweizähliger Aberrationen der Fünften Ordnung in Systemen mit Geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.04.2022
Verfahren und System zur Hochgeschwindigkeitssignalverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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06.04.2022
Verfahren zur Untersuchung einer Probe unter Verwendung einer Tomographischen Bilderzeugungsvorrichtung
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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09.03.2022
System und Verfahren zur Simultanen Phasenkontrastbildgebung und Elektronenenergieverlustspektroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.03.2022
Verfahren zur Untersuchung einer Probe unter Verwendung einer Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.02.2022
System und Verfahren für ein Rastertransmissionselektronenmikroskop basierend auf einem Gepulsten Hf-Elektronenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.08.2021
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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09.02.2022
Verfahren zur Ausrichtung einer Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.01.2022
Verwendung von Neuronalen Faltungsnetzen zur Rekonstruktion von Einzelteilchen in Bewegung
Software & Datenverarbeitung
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29.12.2021
Verfahren zur Bildgebung einer Probe unter Verwendung eines Ladungsträgerteilchen-Transmissionsmikroskops
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.06.2020
Anhängig
Vertretung
Pecharová, Petra · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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22.12.2021
Simultanes Stem- und Tem-Mikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.03.2021
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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15.12.2021
Zweistrahlmikroskopsystem zur Bildgebung Während der Probenbearbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.11.2021
Axiale Ausrichtungsanordnung und Ladungsträgerteilchenmikroskop mit einer Solchen Ausrichtungsanordnung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.11.2021
Vorbereitung der Kryogenen Probe für die Ladungsteilchenmikroskopie
Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
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13.10.2021
Rotierender Probenhalter für Zufällige Winkelabtastung in der Tomographie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.10.2021
Verfahren zur Temperaturüberwachung in der Kryo-Elektronenmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.10.2021
Ladungsträgerteilchenmikroskop mit Detektor für Elektronenenergieverlustspektroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.10.2021
Bifokales Mikroskop für Geladene Teilchen mit Zwei Strahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.09.2021
Verfahren zur Ausrichtung eines Lichtstrahls auf einen Strahl Geladener Teilchen und Teilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.09.2021
Verfahren und System zur Plasmaunterstützten Mikroskopie Geladener Teilchen in einem Grobvakuum
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.09.2021
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung zur Inspektion einer Probe mit einer Vielzahl von Ladungsteilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.08.2021
Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung einer Eigenschaft einer Probe, die in einem Mikroskop für Geladene Teilchen Verwendet Werden Soll
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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21.07.2021
Verfahren und Vorrichtung zur Abbildung einer Probe mit Ptychographie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.06.2017
Erteilt am 21.07.2021
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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14.07.2021
Verfahren und Vorrichtungen zur Vorbereitung von Proben für die Kryogene Elektronenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.07.2021
Verfahren zur Herstellung einer Biologischen Probe zur Untersuchung in einer Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.07.2021
Gepulste Cpb-Elektronen-Quelle mit Schnellem Blanker für Ultraschnelle Tem-Anwendungen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.09.2020
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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23.06.2021
Bildwiederherstellung mit Ionenstrahl mit Niedrigem Kev durch Maschinenlernen zur Objektlokalisierung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.06.2021
Untersuchung Dynamischer Proben in einem Transmissionsteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A method of examining a dynamic specimen using a Transmission Charged Particle Microscope comprising: - A source, for producing a beam of charged particles; - A specimen holder, for holding the specimen in a specimen plane; - An illumination system, for directing said beam onto the specimen; - An imaging system, for directing charged particles that are transmitted through the specimen onto a detector in a detector plane, specifically comprising: - Sparsifying said beam so as to produce at detector level an image comprising a distribution of sub-images that are mutually isolated from one another at least along an elected scan path; - Using a scanning assembly to cause relative motion of said image and said detector along said scan path during a time interval Δt, so as to smear out each sub-image into a detection streak on said detector, each such streak capturing temporal evolution of its associated sub-image during said time interval Δt. |
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23.06.2021
Vergleichende Holographische Abbildung
Optik & Fototechnik
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02.06.2021
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung zur Inspektion einer Probe mit einer Vielzahl von Ladungsteilchenteilstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.02.2019
Anhängig
Vertretung
Pecharová, Petra · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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26.05.2021
Stem Mehrpolkorrektoren Sechster Ordnung und Höher
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.05.2021
Systeme und Verfahren zur Hysteresekompensation
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 11.11.2020
Anhängig
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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21.04.2021
Verfahren zur Grossflächigen 3D-Analyse von Proben unter Verwendung von Fib-Fräsen mit Glanzeinfall
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.04.2021
Beschichtung auf Dielektrischem Einsatz eines Resonanten Hf-Hohlraums
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.08.2020
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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03.03.2021
Multistrahl-Rasterelektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.02.2021
Ladungsteilchenmikroskop mit einem Pixelierten Detektor und Verfahren zum Nachweis von Teilchenstrahlung unter Verwendung eines Pixelierten Detektors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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