FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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506 gesamt| Patent | |||
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06.11.2019
Innovative Bildverarbeitung in der Ladungsteilchenmikroskopie
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.10.2019
Probenherstellung und Untersuchung in einem Doppelstrahlladungsträgerteilchenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.10.2019
Kanonenlinsendesign in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A charged particle microscope comprising: - A vacuum enclosure (2) ; - A source (4) for producing a beam of charged particles; - A specimen holder (H) for holding a specimen; - An illuminator, provided between said source and specimen holder, and comprising in a propagation direction of said beam: ª A source lens (8a, 8b); ª A condenser system (10); - A detector (22) for detecting radiation emanating from the specimen in response to irradiation by said beam, wherein said source lens is a compound lens, comprising in said propagation direction: - A magnetic lens (8a) comprising permanent magnets (16) disposed outside said vacuum enclosure but produce a magnetic field within it; - A variable electrostatic lens (8b). |
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18.09.2019
Datenanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.08.2005
Erteilt am 18.09.2019
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Ryan, Anne Mary · Dun Laoghaire
DeltaPatents B.V · Eindhoven
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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11.09.2019
Multispektrale Superauflösungsmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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04.09.2019
Neuartige Erfassung und Verarbeitung von Daten in einer Tomografischen Abbildungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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21.08.2019
Clustern von multimodalen Daten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.06.2012
Erteilt am 21.08.2019
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
Zusammenfassung
A method of determining properties of a sample, comprising: detecting using a first detector emissions of a first type from the sample in response to a beam scanned over an area of the sample; detecting using a second detector emissions of a second type from the sample in response to the beam scanned over the area of the sample, the second detector measuring spectral information; using emissions of the first type, dividing the scanned area of the sample into multiple regions, each region having a common characteristic; characterized by: combining emissions of the second type from multiple points in at least one of the regions determined using emissions of the first type to have a common characteristic to produce a combined spectrum of the material in the region. |
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21.08.2019
Tomographieprobenvorbereitungssysteme und Verfahren mit Verbesserter Geschwindigkeit, Automatisierung und Zuverlässigkeit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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31.07.2019
Innovative Abbildungstechnik in der Transmissionsladungsteilchenmikroskopie
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.07.2019
Neuartige Erfassung und Verarbeitung von Daten in einer Tomografischen Abbildungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 17.08.2015
Erteilt am 10.07.2019
Vertretung
Zusammenfassung
A method of investigating a specimen using a tomographic imaging apparatus comprising: - A specimen holder, for holding the specimen; - A source, for producing a beam of radiation that can be directed at the specimen; - A detector, for detecting a flux of radiation transmitted through the specimen from the source; - A stage apparatus, for producing relative motion of the source with respect to the specimen, so as to allow the source and detector to image the specimen along a series of different viewing axes; - A processing apparatus, for assembling output from the detector into a tomographic image of at least part of the specimen, which method comprises the following steps: - Considering a virtual reference surface that surrounds the specimen and is substantially centered thereon; - Considering an incoming point of intersection of each of said viewing axes with this reference surface, thereby generating a set of such intersection points corresponding to said series of viewing axes; - Choosing discrete viewing axes in said series so as to cause said set to comprise a two-dimensional lattice of points located areally on said reference surface in a substantially uniform distribution. |
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03.07.2019
Verfahren, Vorrichtung und System zur Behandlung von Biologischen Kryogenen Proben durch Plasmafokussierte Ionenstrahlen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.06.2019
Verfahren zur Probenausrichtung zur Tem-Lamellen-Herstellung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.06.2019
Verfahren, Vorrichtung und System zum Entfernten Tiefenlernen zur Mikroskopischen Bildrekonstruktion und -Segmentierung
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 18.12.2017
Anhängig
Vertretung
Pecharová, Petra · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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08.05.2019
Verfahren und Vorrichtung zur Probenabbildung Per Slice And View
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.06.2015
Erteilt am 08.05.2019
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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01.05.2019
Röntgenspektroskopie in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.05.2019
Verbesserte Sims-Spektrometrietechnik mittels Fluorkatalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.04.2019
Neuartige Datenverarbeitung in einer Tomographischen Bildgebungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 20.07.2016
Erteilt am 10.04.2019
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Zusammenfassung
A method of investigating a specimen (S) using a tomographic imaging apparatus comprising: - A specimen holder, for holding the specimen; - A source (Sx), for producing a beam (B) of radiation that can be directed at the specimen (S); - A detector (D), for detecting a flux of radiation transmitted through the specimen (S) from the source (Sx); - A stage apparatus (A), for producing relative motion of the source (Sx) with respect to the specimen (S), so as to allow the source (Sx) and detector (D) to image the specimen (S) along a series of different viewing axes (V<i>); - A processing apparatus, for performing a mathematical reconstruction step whereby output from the detector is compiled into a tomographic image of at least part of the specimen (S), wherein said reconstruction step is performed in multiple iterations, which comprise the following steps: (i) Using a Back Projection technique to produce an initial tomogram from a set of initial images; (ii) Subjecting said initial tomogram to a mathematical filtering operation, thereby producing an adjusted tomogram; (iii) Using a Forward Projection technique on said adjusted tomogram to dissociate it into a set of calculated images; (iv) Repeating steps (i)-(iii) until said calculated images satisfy an acceptance criterion. It is also provided a scanning electron microscope (1) including an in-situ computerised tomography (CT) module (7'') for performing CT inspection in-situ inside the chamber of the microscope (1). |
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10.04.2019
Tem-Probenbefestigungsgeometrie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.07.2015
Erteilt am 10.04.2019
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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27.03.2019
Schaltbare Mikroskopanordnung mit mehreren Detektoren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.04.2012
Erteilt am 27.03.2019
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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27.03.2019
Verfahren zur Tomografischen Bildgebung
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.09.2016
Erteilt am 27.03.2019
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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27.03.2019
System und Verfahren zur Optimierung von durch Geformte Öffnungen Hergestellten Geladenen Teilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.10.2016
Erteilt am 27.03.2019
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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27.03.2019
Flugzeitspektroskopie Geladener Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.02.2019
Kollisionsionisationsquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.02.2019
Verbesserter Kontrast für Konfokales Rasterelektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.07.2011
Erteilt am 20.02.2019
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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30.01.2019
Herstellung einer Kryogenen Probe für Ladungsteilchenmikroskop
Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
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Status
Angemeldet am 11.12.2015
Erteilt am 30.01.2019
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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23.01.2019
Iterative Rückkopplungsabstimmung in einem Rastersondenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.12.2008
Erteilt am 23.01.2019
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Valea AB · Göteborg
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16.01.2019
Herstellung von Lamellen für Tem-Betrachtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.05.2013
Erteilt am 16.01.2019
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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16.01.2019
Verfahren zur Ptychographischen Abbildung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 18.06.2015
Erteilt am 16.01.2019
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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16.01.2019
Lamellenförmige Targets für die Röntgengenerierung
Elektrische Energietechnik
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02.01.2019
Elektronenmikroskop mit mehreren Arten von Integrierten Röntgendetektoren in einem Array
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.07.2017
Erteilt am 02.01.2019
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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26.12.2018
Automatisierte Tem-Probenherstellung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.11.2015
Erteilt am 26.12.2018
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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26.12.2018
Anordnung zur Röntgentomographie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 03.11.2016
Erteilt am 26.12.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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07.11.2018
Dreidimensionale Abbildung in der Ladungsträgermikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.04.2016
Erteilt am 07.11.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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07.11.2018
Innovative Röntgenquelle zur Verwendung in der Tomographischen Bildgebung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.10.2018
Ladungsträger-Mikroskop mit Astigmatismuskompensation und Energieauswahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.02.2016
Erteilt am 03.10.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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03.10.2018
Ladungsträgerteilchenmikroskop mit Zwei Geladenen Teilchenstrahlen und in Situ-Abscheidungsfunktionalität
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.05.2016
Erteilt am 03.10.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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26.09.2018
Verfahren zur Manipulation einer Probe in einer Evakuierten Kammer einer Ladungsteilchenvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.04.2016
Erteilt am 26.09.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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19.09.2018
Konfigurierbarer Teilchenstrahlapparat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.10.2013
Erteilt am 19.09.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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19.09.2018
Kryogene Verarbeitung von Proben in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.10.2016
Erteilt am 19.09.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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19.09.2018
Strahlinduziertes Ätzen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Angemeldet am 09.01.2017
Erteilt am 19.09.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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