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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
28.02.2013
Electron gun and charged particle beam device
WO2013027448
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.02.2013
Charged particle beam device
WO2013027644
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.02.2013
Enlargement imaging device and image sensor
WO2013027518
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2013
Vorrichtung und Verfahren zum Elektronenstrahlschreiben
EP1435640
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.02.2013
Ionenstrahlvorrichtung und Ionenstrahlverarbeitungsverfahren
EP2560186
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.02.2013
Charged particle beam apparatus
WO2013018594
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.02.2013
Genetic testing system
WO2013018261
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.02.2013
Recipe generating device, inspection assisting device, inspection system, and recording medium
WO2013018259
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.02.2013
Test device
WO2013018878
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.02.2013
Defect inspecting apparatus and defect inspecting method
WO2013018255
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
31.01.2013
Electromagnetic lens and charged particle device
WO2013015311
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.01.2013
Charged particle beam apparatus and measuring method
WO2013015040
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.01.2013
Semiconductor inspecting system
WO2013015204
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.01.2013
Nucleic acid testing device
WO2013015057
Pharma & Biotechnologie
31.01.2013
Charged particle device
WO2013015019
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.01.2013
Optical tomographic image measuring apparatus and optical tomographic image measuring system
WO2013015349
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.01.2013
Charged particle beam device
WO2013015102
Steuerungs- & Regelungstechnik Software & Datenverarbeitung
24.01.2013
Method for automatically determining inspection conditions and measurement conditions of sample, and scanning microscope
WO2013011792
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.01.2013
Electron Microscope
WO2013011612
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.01.2013
Scanning electron microscope and scanning tunneling electron microscope
WO2013012041
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.01.2013
Scanning electron microscope, defect inspection system, and defect inspection device
WO2013008531
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.01.2013
Charged particle beam device
WO2013008561
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.01.2013
Phase plate, and electron microscope
WO2013005490
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.01.2013
Optical inspection device, inspection system and coordinate management wafer
WO2013005582
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.01.2013
Automatisches Analysegerät mit einem sich vertikal bewegenden Rührorgan
EP1855113
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.01.2013
Sample creation device, creation method, and charged particle beam device using same
WO2013001700
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.01.2013
Anionkonzentrations-Messvorrichtung und Element
EP2040067
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.12.2012
Nucleic acid amplification apparatus and nucleic acid analysis apparatus
WO2012176596
Pharma & Biotechnologie
20.12.2012
Charged particle beam device
WO2012172720
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.12.2012
Stage device and control method for stage device
WO2012169505
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.12.2012
Charged particle beam device and sample production method
WO2012169323
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.12.2012
Sample treatment device, sample treatment method, and reaction container for use therein
WO2012165187
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.12.2012
Electron microscope and image capturing method using electron beam
WO2012165293
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.12.2012
Automatisches Analysegerät
EP2530469
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.12.2012
Automatisches Analysegerät
EP2530473
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.12.2012
Analysevorrichtung
EP2530454
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.11.2012
Charged particle beam apparatus and electrostatic chuck apparatus
WO2012161128
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Elektrische Energietechnik
29.11.2012
Semiconductor device defect inspection method and system thereof
WO2012160945
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.11.2012
Defect review apparatus
WO2012157160
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.11.2012
Pattern inspecting apparatus and pattern inspecting method
WO2012157181
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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