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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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4.287 gesamt
Patent
28.04.2011
Charged particle beam device, position specification method used for charged particle beam device, and program
WO2011048946
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.04.2011
Charged particle beam apparatus and film thickness measurement method
WO2011046093
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.04.2011
Gas field ionization ion source and ion beam device
WO2011046116
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.04.2011
Pattern matching method, pattern matching program, electronic computer, and electronic device testing apparatus
WO2011043293
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
14.04.2011
Charged particle radiation device
WO2011043391
Maschinenelemente & Fluidtechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.04.2011
Charged-particle microscope device and method for inspecting sample using same
WO2011039908
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.04.2011
Flow cell, detector, and liquid chromatograph
WO2011039909
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.04.2011
Foreign material inspecting method and foreign material inspecting apparatus
WO2011039910
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.04.2011
Inspection apparatus and inspection method
WO2011039946
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.04.2011
Inspection device and method
WO2011039945
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.04.2011
Surface-defect inspection device
WO2011040223
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.04.2011
Probenabgabevorrichtung
EP1939631
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.03.2011
Flaw inspecting method and device therefor
WO2011036838
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.03.2011
Defect inspection device and defect inspection method
WO2011036846
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
30.03.2011
Probentransportrack
EP1898217
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.03.2011
Stage device
WO2011034158
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.03.2011
Aberrationsmessvorrichtung zum Messen von Aberrationen eines für Ladungspartikelstrahlenbündel vorgesehenen optischen Systems, lithographischer Apparat mit einer solchen Vorrichtung, und Verfahren zur Herstellung von Erzeugnissen mit einem solchen Apparat
EP1686609
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.03.2011
Verfahren zur Einstellung der Aberrationen eines Apparats für die Teilchenstrahllithographie, Apparat für die Teilchenstrahllithographie, sowie Verfahren zur Herstellung von Produkten mit diesem Apparat
EP1686610
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.03.2011
Signal processing device, mass spectrometer, and photometer
WO2011030518
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.03.2011
Signal processing method for charged particle beam device, and signal processing device
WO2011030508
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.03.2011
Defect review support device, defect review device and inspection support device
WO2011030488
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.03.2011
Spectrophotofluorometer
WO2011027568
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.03.2011
Apparatus and method for inspecting defect
WO2011024362
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.02.2011
Pattern shape estimation method and pattern measuring device
WO2011021346
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.02.2011
Charged particle beam device and image display method
WO2011018932
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.02.2011
Scanning electron microscope and sample observation method
WO2011016208
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.02.2011
Charged-Particle Microscope
WO2011016182
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.02.2011
Biomolecule fixing board and method of manufacturing the same
WO2011016382
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.02.2011
Pattern evaluation method, device therefor, and electron beam device
WO2011013342
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.02.2011
Scanning Electron Microscope
WO2011013323
Maschinenelemente & Fluidtechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.02.2011
Liquid supply device using check valve and reactive liquid chromatography system
WO2011013285
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen) Maschinenelemente & Fluidtechnik
03.02.2011
Method of creating template for matching, as well as device for creating template
WO2011013317
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.02.2011
Ion milling device
WO2011013311
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.02.2011
Pattern shape selection method and pattern measuring device
WO2011013316
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.02.2011
Charged-particle-beam device
WO2011013650
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.01.2011
Apparatus and method for inspecting pattern defect
WO2011010425
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.01.2011
Device for classifying defects and method for adjusting classification
WO2011010557
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
20.01.2011
Specimen potential measuring method, and charged particle beam device
WO2011007517
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.01.2011
Scanning electron microscope device and pattern dimension measuring method using same
WO2011007516
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.01.2011
Mass spectrometer and mass spectrometry method
WO2011007528
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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