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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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4.287 gesamt
Patent
20.01.2011
Charged particle beam microscope and measuring method using same
WO2011007492
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2011
Automatisches Analysegerät
EP2275801
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.01.2011
Semiconductor defect classifying method, semiconductor defect classifying apparatus, and semiconductor defect classifying program
WO2011004534
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.01.2011
Charged particle beam device
WO2011004533
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Charged particle beam apparatus and method for stably obtaining charged particle beam image
WO2011001586
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Semiconductor inspection device and semiconductor inspection method using the same
WO2011001635
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Charged particle gun and charged particle beam device
WO2011001611
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Defect inspection method and apparatus therefor
WO2011001687
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.01.2011
Defect inspection method and defect inspection apparatus
WO2011001651
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Ion Microscope
WO2011001600
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Gas field ionization ion source device and scanning charged particle microscope equipped with same
WO2011001797
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Pattern shape evaluation method and pattern shape evaluation apparatus
WO2011001967
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.12.2010
Fluorescence analyzing apparatus and fluorescence detecting apparatus
WO2010150468
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.12.2010
Defect inspection device and inspection method
WO2010146799
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.12.2010
Fluorescent analysis method
WO2010146758
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.12.2010
Charged particle radiation device
WO2010146790
Maschinenelemente & Fluidtechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.12.2010
Charged particle radiation device
WO2010146833
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.12.2010
Microcontact Prober
WO2010146773
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.12.2010
Charged-particle microscope device, and method of controlling charged-particle beams
WO2010147104
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.12.2010
Vorrichtung zur Messung von Magnetsignalen
EP1731917
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.12.2010
Surface observation device and surface observation method
WO2010140511
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.12.2010
Defect image processing apparatus, defect image processing method, semiconductor defect classifying apparatus, and semiconductor defect classifying method
WO2010140577
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.12.2010
Charged particle beam device and evaluation method using the charged particle beam device
WO2010140649
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.12.2010
Vorrichtung zum Nachweis von hexavalentem Chrom
EP2259056
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.12.2010
Method of manufacturing a template matching template, as well as a device for manufacturing a template
WO2010137267
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
02.12.2010
Charged particle beam device and sample observation method
WO2010137257
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.12.2010
Nucleic acid analysis device, nucleic acid analysis apparatus, and nucleic acid analysis method
WO2010137543
Pharma & Biotechnologie
02.12.2010
Liquid Metal Ion Gun
WO2010137476
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.12.2010
Scanning electron microscope device, evaluation point generating method, and program
WO2010137586
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.12.2010
Liquid delivery device and liquid chromatography device
WO2010137554
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.12.2010
Fotometrisches Gerät
EP2063258
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.11.2010
Electron Gun
WO2010134259
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.11.2010
Kompakter Elektronenstrahlerzeuger
EP1515358
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.11.2010
Automatisches Analysegerät
EP2096441
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.11.2010
Method for displaying error factor extraction and system for displaying the same
WO2010125919
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.11.2010
Defect inspection device and defect inspection method
WO2010125911
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.11.2010
Method of selecting and processing observation defects, method of observing defects, device for selecting and processing observation defects, and device for observing defects
WO2010125877
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.11.2010
Vorrichtung zur Materialuntersuchung mittels Elektronenstrahl
EP1463088
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.10.2010
Sample holder, method for use of the sample holder, and charged particle device
WO2010122717
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.10.2010
Defect inspecting method and defect inspecting apparatus
WO2010123074
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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