JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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520 gesamt| Patent | |||
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12.03.2025
Kühlvorrichtung für ein Gerät mit Geladenem Teilchenstrahl
Verfahrens- & Trenntechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.03.2025
Rasterelektronenmikroskop und Objektivlinse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.03.2025
Rastertransmissionselektronenmikroskop und Einstellungsverfahren eines Optischen Systems
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.03.2025
Vorrichtung zur Erzeugung von Aufbaudaten, System zur Generativen Fertigung mittels Dreidimensionaler Pulverbettfusion und Anzeigeverfahren für Kumulative Energiedichteverteilung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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05.03.2025
Supraleitende Magnetvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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05.03.2025
Vorrichtung und Verfahren zur Automatisierten Analyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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05.03.2025
Elektronenmikroskop, Aberrationskorrekturverfahren und Bildgebungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
An electron microscope (100) includes an electron optical system (20, 40), and a control unit (60) that controls the electron optical system (20, 40), the control unit (60) performing: processing for determining a standard deviation of a brightness distribution of an electron microscope image; processing for determining an optimum value of a parameter of the electron optical system (20, 40) such that the standard deviation becomes the maximum, by Gaussian process regression; and processing for capturing the electron microscope image with setting a value of the parameter to the optimum value, and the control unit (60) repeating the processing for determining the standard deviation, the processing for determining the optimum value, and the processing for capturing the electron microscope image to determine a value of the parameter. |
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05.03.2025
Probenfrässystem und -Vorrichtung und Verfahren zur Bilderzeugung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.03.2025
Elektronenmikroskop und Bilderfassungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.02.2025
Baudatenerzeugungsvorrichtung, System zur Generativen Fertigung durch Dreidimensionale Pulverbettfusion und Verfahren zur Generativen Fertigung durch Dreidimensionale Pulverbettfusion
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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26.02.2025
Baudatenerzeugungsvorrichtung, System zur Generativen Fertigung von Dreidimensionaler Pulverbettfusion und Verfahren zur Generativen Fertigung von Dreidimensionaler Pulverbettfusion
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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26.02.2025
Informationsverarbeitungsvorrichtung und Vorrichtung zur Generativen Fertigung durch Dreidimensionale Pulverbettfusion
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Software & Datenverarbeitung
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12.02.2025
Röntgenmessvorrichtung und Röntgenmessverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
In a preliminary measurement, spectrums obtained by detecting characteristic X-rays emitted from preliminary measurement points are transmitted to a spectrum processing unit (20) via a noise filter unit (22). In a main measurement, a spectrum obtained by detecting characteristic X-rays emitted from a main measurement point is transmitted to the spectrum processing unit (20) by bypassing the noise filter unit (22). The noise filter unit (22) includes a machine learning type filter constituted of a CNN or the like. In a learning process, teacher data are generated using artificially-generated noise. |
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12.02.2025
Analysevorrichtung und Spektrumerzeugungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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29.01.2025
Kollisionsbeurteilungsvorrichtung, Aufzeichnungsmedium, Aufzeichnungsprogramm und Kollisionsbeurteilungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.01.2025
Spektrumsverarbeitungsvorrichtung, Probenanalysevorrichtung und Spektrumsverarbeitungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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08.01.2025
Vorrichtung zur Generativen Fertigung durch Dreidimensionale Pulverbettfusion
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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01.01.2025
Rasterelektronenmikroskop und Bildverarbeitungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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18.12.2024
Datenverarbeitungsvorrichtung und Probenbeurteilungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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18.12.2024
Analysevorrichtung und Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.12.2024
Magneto-Optische Falle, Physikalisches Gehäuse für Atomuhr, Physikalisches Gehäuse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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11.12.2024
Analysevorrichtung und Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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27.11.2024
Atomstrahlerzeugungsvorrichtung, Physikpaket und Physikpaket
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.11.2024
Kristallstrukturanalysesystem und Kristallstrukturanalyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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13.11.2024
Dreidimensionales Gerät zur Generativen Fertigung durch Pulverbettschmelzung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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30.10.2024
Vorrichtung zur Generativen Fertigung mittels Dreidimensionaler Pulverbettfusion und Verfahren zur Steuerung der Vorrichtung zur Generativen Fertigung mittels Dreidimensionaler Pulverbettfusion
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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16.10.2024
Vorrichtung zur Generativen Fertigung mit Dreidimensionaler Pulverbettfusion und Verfahren zur Steuerung der Vorrichtung zur Generativen Fertigung mit Dreidimensionaler Pulverbettfusion
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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02.10.2024
Probenanalysevorrichtung und Verfahren zur Erzeugung einer Pyrolyseproduktbibliothek
Software & Datenverarbeitung
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Zusammenfassung
A pyrolysis product library (24) formed from a plurality of groups of predicted mass spectra corresponding to a plurality of resin candidates is created using a prediction model (13). An information processing unit (16) generates a plurality of measured mass spectra corresponding to a plurality of compounds generated due to pyrolysis of a resin sample (22). Next, the information processing unit (16) searches through the pyrolysis product library (24) based on the plurality of measured mass spectra, to thereby judge one or a plurality of contained resins contained in the resin sample (22). |
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02.10.2024
Probenhalter und Probenverarbeitungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.09.2024
Massenbildverarbeitungsvorrichtung, -Verfahren und -Program
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.09.2024
Ionenfräsvorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.09.2024
Dreidimensionale Pulverbettfusionsvorrichtung zur Additiven Herstellung
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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06.09.2024
Three-dimensional layering-forming device and three-dimensional layering-forming method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2023
Anhängig
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04.09.2024
Quelle für Geladene Teilchenstrahlen und System für Geladene Teilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.08.2024
Vorrichtung zur Messung des Ionenstrahlstroms, Probenvorbereitungsvorrichtung und Verfahren zur Berechnung des Ionenstrahlstroms
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.08.2024
Vorrichtung zum Halten einer Probenkartusche
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.08.2024
Phasenanalysator, Probenanalysator und Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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31.07.2024
Automatische Analysevorrichtung und Verfahren zur Steuerung einer Automatischen Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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31.07.2024
Isotopenmarkierte Indolcarbonsäureverbindung, Gemische und Analyseverfahren damit
Organische Chemie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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24.07.2024
Probenhalter, Probenhaltersatz und Probenherstellungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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