JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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288 gesamt| Patent | |||
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12.04.2023
System mit Geladenem Teilchenstrahl
EP4027369
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.03.2023
Ionenstrahlverarbeitungsgerät und Verfahren zur Steuerung Seines Betriebs
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15.03.2023
Generative Fertigungsverfahren und -Vorrichtung mit Erkennung von Defekten mittels Rückstreuelektronen
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Zusammenfassung
In a squeegeeing step of the three-dimensional powder bed fusion additive manufacturing (PBF-AM) method, a powder sample is supplied onto a base plate to stack powder layers. In a main melting step, a powder bed which is a top layer of the powder layers is irradiated with an electron beam to melt a two-dimensional shape area, which is a single layer obtained by slicing a shaping model. In a shaping surface checking step, a backscattered electron that is generated when the melted area is irradiated with the electron beam is detected and, based on the backscattered electron, it is determined whether the melting state is normal or not. When it is determined in the shaping surface checking step that the melting state is not normal, a re-melting step is performed to re-irradiate the area melted in the main melting step with an electron beam generated by the beam generation unit. |
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15.03.2023
Massenspektrometer
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Status
Angemeldet am 25.05.2011
Erteilt am 15.03.2023
Vertretung
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15.03.2023
Probenträgerwerkzeug, Trägervorrichtung und Probenvorbereitungsverfahren
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08.02.2023
Triaxiale Magnetfeldkorrekturspule, Physikpaket und Atomuhr
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08.02.2023
Uhr mit Optischem Gitter und Magnetfeldkorrekturverfahren für Uhr mit Optischem Gitter
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08.02.2023
Dreiachsige Magnetfeldkorrekturspule, Physisches Gehäuse für Atomuhr, Physikalisches Gehäuse
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11.01.2023
Automatisierter Analysator und Verfahren zur Steuerung des Automatisierten Analysators
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04.01.2023
Beobachtungsverfahren und Objektträger
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23.11.2022
Ladungsteilchenstrahlsystem
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09.11.2022
Automatischer Analysator und Programm
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02.11.2022
Nmr-Rotor mit Deckel mit Einlageteil aus Material mit Negativem Thermischem Ausdehnungskoeffizienten
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19.10.2022
Ausgabeeinheit und Automatisierter Analysator
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07.09.2022
Beobachtungsverfahren, Bildverarbeitungsvorrichtung und Elektronenmikroskop
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27.07.2022
Dauerstromschalter und Supraleitende Vorrichtung
EP4033501
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.08.2020
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.05.2022
Verringerung der Taubildung durch Vorbereitung der Probe für die Untersuchung
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Status
Angemeldet am 19.01.2018
Erteilt am 04.05.2022
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
A lower-side structure (12) forms a specimen chamber (18) in which a specimen base is provided. An upper-side structure (14) forms a nozzle chamber (20) above the specimen chamber (18). The specimen chamber (18) and the nozzle chamber (20) are separated by a gate valve (16). In the nozzle chamber (20), at least a tip opening (36) of a nozzle (34) that ejects a specimen is present. A control device (74) maintains a relationship of gas pressures such that a gas pressure in the specimen chamber (18) is higher than a gas pressure in the nozzle chamber (20) when the lower-side structure (12) and the upper-side structure (14) are in communication with each other. |
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04.05.2022
Nmr-Messvorrichtung und Verfahren zur Steuerung der Rotation eines Probenröhrchens
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27.04.2022
Massenspektrumverarbeitungsvorrichtung und -Verfahren
EP3989261
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.04.2022
Nmr-Messvorrichtung und Verfahren zur Berechnung der Karte eines Magnetischen Feldes
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20.04.2022
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
EP3985711
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.04.2022
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung und Verfahren zum Maschinellen Lernen
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Zusammenfassung
An image conversion unit (28) includes a selector (30) and a plurality of image converters (32-1, ... 32-n). Each image converter is formed from an estimator of machine learning type, and estimates, based on an image acquired under a first observation condition and as a reference image, an image which is presumed to be acquired under a second observation condition. When a particular reference image is selected from among a plurality of reference images displayed on a display (36), a second observation condition corresponding to the selected reference image is set in an observation mechanism (10) as a next observation condition. |
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06.04.2022
Nmr-Sondensystem und Verfahren zur Verwendung des Nmr-Sondensystems
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06.04.2022
Dnp-Nmr-Sonde und Ihre Verwendung
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30.03.2022
Transmissionselektronenmikroskop und Verfahren zur Steuerung davon
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23.03.2022
Verfahren zur Erzeugung einer Elementaren Karte und Oberflächenanalysator
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02.03.2022
Röntgenanalysator und Verfahren zum Korrigieren der Zählrate
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Zusammenfassung
An X-ray analyzer (100) includes: an X-ray detector (16b) that detects an X-ray emitted from a specimen (S) and outputs a signal a step of which has a height corresponding to energy of the X-ray; a pulse generation circuit (34) that converts the signal output from the X-ray detector (16b) into a first pulse signal; a pulse-width setting circuit (36) that sets a pulse width; a pulse-width conversion circuit (38) that converts a pulse width of the first pulse signal into the pulse width set by the pulse-width setting circuit (36) to form a second pulse signal; a pulse-height discriminator (40) that discriminates the second pulse signal according to a pulse height of the second pulse signal; a counting circuit (50) that calculates a counting rate of the discriminated second pulse signal; and a counting-loss correction processing unit (62) that corrects the counting rate calculated by the counting circuit (50), and the counting-loss correction processing unit (62) corrects the counting rate based on the pulse width set by the pulse-width setting circuit (36). |
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02.03.2022
Elektronenmikroskop und Verfahren zur Steuerung davon
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Status
Angemeldet am 09.05.2017
Erteilt am 02.03.2022
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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19.01.2022
Bilderfassungsverfahren und Elektronenmikroskop
EP3940742
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.12.2021
Steuerverfahren für Elektronenmikroskop und Elektronenmikroskop
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15.12.2021
Fokuseinstellungsverfahren für Geladene Teilchenstrahlvorrichtung und Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
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15.09.2021
Vorrichtung und Verfahren zur Berechnung der Drift und System mit Geladenem Teilchenstrahl
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Status
Angemeldet am 24.04.2015
Erteilt am 15.09.2021
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
A drift amount computing device capable of precisely computing an amount of drift is offered. The drift amount computing device (100) is used to compute an amount of drift between a first image and a second image, and comprises a correlation function computing section (112) for calculating a correlation function between the first and second images, a local maximum position searching section (114) for searching a range of positions of the correlation function for local maximum positions at which the correlation function assumes its local maxima, a local maximum position determining section (116) for assigning weights to intensities of plural local maximum positions searched for by the local maximum position searching section (114) according to the distance from the center of the correlation function, comparing the weighted intensities of the local maximum positions, and determining one of the maximum local positions which corresponds to the amount of drift, and a drift amount computing section (118) for computing the amount of drift, based on the local maximum position corresponding to the amount of drift. |
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08.09.2021
Monochromator und System für Geladene Teilchenstrahlen
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01.09.2021
Automatischer Analysator und Programm
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Status
Angemeldet am 11.07.2017
Erteilt am 01.09.2021
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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18.08.2021
Energiefilter und Vorrichtung für Geladene Teilchenstrahlen
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26.05.2021
Steuerungsvorrichtung und Informationsspeichermedium
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Status
Angemeldet am 01.12.2017
Erteilt am 26.05.2021
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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12.05.2021
Deflektor und System für Geladene Teilchenstrahlen
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05.05.2021
Rastertransmissions-Elektronenmikroskop und Aberrationskorrekturverfahren
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Zusammenfassung
In a scanning transmission electron microscope, a control unit performs: processing of calculating a first auto-correlation function that is an auto-correlation function of a first scanning transmission electron microscope image; processing of acquiring a first intensity profile along a straight line that passes through a center of the first auto-correlation function; processing of obtaining a position of an inflection point that is closest to the center of the first auto-correlation function in the first intensity profile and adopting an intensity at the position as a first reference intensity; processing of obtaining an aberration coefficient by fitting a first aberration function to an isointensity line that connects positions where intensity is equal to the first reference intensity in the first auto-correlation function and by fitting a second aberration function to an isointensity line that connects positions where intensity is equal to a second reference intensity in a second auto-correlation function; and processing of controlling an electron optical system based on the aberration coefficient. |
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05.05.2021
Vakuumvorrichtung und Verfahren zur Fehlerbehebung
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05.05.2021
Teilchenstrahlvorrichtung und Steuerungsverfahren für Teilchenstrahlvorrichtung
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Wer vertritt JEOL?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die JEOL vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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