JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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520 gesamt| Patent | |||
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17.07.2024
Elektronenmikroskop, Mehrpoliges Element zur Verwendung Darin und Steuerungsverfahren für Solch ein Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.07.2024
Analysegerät und Verfahren zur Bildverarbeitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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03.07.2024
Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Abschirmungsplatte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.07.2024
Nmr-Messgerät und Verfahren zur Identifizierung von Lösungsmitteln
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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03.07.2024
Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Bildes auf der Grundlage einer Mehrfachheit von Massenspektra
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.06.2024
Aberrationskorrekturvorrichtung und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.06.2024
Nmr-Sonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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19.06.2024
Höhenmessvorrichtung, Gerät mit Geladenem Teilchenstrahl und Höhenmessverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.06.2024
Röntgendurchlässiges Fenster und Strahlungsdetektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.06.2024
Röntgenstrahlanalysevorrichtung und -Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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08.05.2024
Analyseverfahren und Analysegerät mit einem Wellenlängendispersiven Röntgenspektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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01.05.2024
Röntgenstrahlenanalysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
An X-ray analyzer (100) includes: a specimen stage (15); a spectrometer (18) having a spectroscopic element and an X-ray detector (17); a temperature measuring unit (20) including at least one of a first temperature sensor (22) for measuring a temperature of the specimen stage (15) and a second temperature sensor (24) for measuring a temperature of the spectrometer (18); a storage unit (42) which stores calibration data of the spectrometer (18), and a previous measurement result by the temperature measuring unit (20) at the time of execution of the calibration of the spectrometer (18); and a notifying unit (34) which acquires a measurement result by the temperature measuring unit (20), calculates a temperature variation amount of the acquired measurement result with respect to the previous measurement result stored in the storage unit (42), and notifies that calibration is needed, based on the temperature variation amount. |
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01.05.2024
Verfahren zur Einstellung eines Optischen Systems mit Geladenen Teilchen und Vorrichtung mit Geladenem Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.04.2024
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung und Bilderfassungsverfahren
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.04.2024
Derivatisierungsverfahren, Massenspektrometrieverfahren, Derivatisierungsreagenz und Derivatisierungsreagenz-Kit für Östrogen
Organische Chemie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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03.04.2024
Probenfräsvorrichtung und Verfahren zur Einstellung davon
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.04.2024
Polymeranalysevorrichtung und -Verfahren
Software & Datenverarbeitung
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03.04.2024
Analysegerät und Bildverarbeitungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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27.03.2024
Beschichtungsvorrichtung mit nicht Verdampfbarem Getter, Verfahren zur Herstellung eines mit nicht Verdampfbarem Getter Beschichteten Behälters/rohrs und mit nicht Verdampfbarem Getter Beschichteter Behälter/rohr
Metallurgie & Oberflächentechnik
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen)
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20.03.2024
Transmissionselektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.03.2024
Vorrichtung mit Geladenem Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
Light which is radiant energy is emitted from a sample (20) which is heated, and is detected by a backscattered electron detector (36). A detection signal from the backscattered electron detector (36) includes a radiant component. A radiant component removal section (46) extracts the radiant component from the detection signal using a filter, and then removes the radiant component from the detection signal. An optical detector which detects the radiant component may be provided. A divided detector may be provided as the backscattered electron detector (36). |
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20.03.2024
Ionenfräsvorrichtung, Abschirmungsplatte und Verfahren zur Herstellung einer Probe durch eine Ionenfräsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.03.2024
Probenverarbeitungshalter und Probenverarbeitungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.03.2024
Vorrichtung mit Fokussiertem Ionenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.03.2024
Winkeleinstellvorrichtung für Nmr
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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21.02.2024
Elektronenstrahleinstellungsverfahren und Dreidimensionale Pulverbettschmelzvorrichtung zur Generativen Fertigung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.02.2024
Langsamer Atomstrahlgenerator, Physikalisches Gehäuse für Optischen Gitter, Physikalisches Gehäuse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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14.02.2024
Massenspektrumverarbeitungsvorrichtung und -Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.02.2024
Vorrichtung zur Generativen Fertigung durch Dreidimensionale Pulverbettfusion
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Elektrische Energietechnik
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07.02.2024
Verbindung, Derivatisierungsreagens und Verfahren zur Synthese einer Verbindung
Organische Chemie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.02.2024
Vakuumkühlvorrichtung, Ionenstrahlätzvorrichtung und Betriebsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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31.01.2024
Probenanalysevorrichtung und -Verfahren
Software & Datenverarbeitung
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17.01.2024
Ladungsträgerteilchenstrahlsystem und Steuerverfahren dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.01.2024
Aberrationskorrektor und Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.01.2024
Dreidimensionale Pulverbettfusionsvorrichtung, Generatives Pulverbettverfahren und Verfahren zur Einstellung der Bewegungsgeschwindigkeit von der Rakel
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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03.01.2024
Vorrichtung zur Generativen Fertigung durch Dreidimensionale Pulverbettfusion
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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03.01.2024
Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.06.2016
Erteilt am 03.01.2024
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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03.01.2024
Nmr-Gerät und Gasaustauschverfahren zum Austauschen von Gas in einer Nmr-Sonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
An NMR apparatus (10) includes a depressurizing device 20 for depressurizing an NMR probe (16), a gas supply device (22) for supplying gas into the NMR probe (16) to thereby pressurize the NMR probe (16), and a control device (24). The control device (24) alternately repeats depressurization of the NMR probe (16), using the depressurizing device (20), and pressurization of the NMR probe (16), using the gas supply device (22). This replaces the gas in the NMR probe (16). |
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27.12.2023
Analytisches Verfahren und Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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20.12.2023
Automatisierter Analysator und Automatisiertes Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Wer vertritt JEOL?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die JEOL vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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