JEOL Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288

Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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288 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
28.05.2025	28.05.2025 Dreidimensionales Pulverbettschmelzgerät zur Generativen Fertigung und Dreidimensionales Pulverbettschmelzverfahren zur Generativen Fertigung EP4119269 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.07.2022 Erteilt am 28.05.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.05.2025	07.05.2025 Kalte Atomerzeugungsvorrichtung, Kaltes Atomerzeugungsverfahren, Physikalisches Paket EP4550593 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.05.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.04.2025	23.04.2025 Magnetische Optische Falle, Physikalisches Gehäuse für Atomuhren, Physikalisches Gehäuse EP4542794 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.04.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2025	16.04.2025 Derivatisierungsreagenz, Derivatisierungsreagenz-Kit und Verfahren zur Verbesserung der Empfindlichkeit Stickstoffhaltiger Verbindungen in der Massenspektrometrie EP4538710 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.10.2024 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2025	16.04.2025 Rasterelektronenmikroskop und Kartenanzeigeverfahren für Absorptionsrandstruktur EP4148422 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.09.2022 Erteilt am 16.04.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.03.2025	26.03.2025 Teilchenstrahlvorrichtung und Steuerungsverfahren für ein Optisches System eines Teilchenstrahls EP3731256 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.03.2020 Erteilt am 26.03.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.03.2025	19.03.2025 Atomstrahlerzeugungsvorrichtung, Physikpaket und Physikpaket EP4525560 Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.05.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.03.2025	12.03.2025 Rastertransmissionselektronenmikroskop und Einstellungsverfahren eines Optischen Systems EP3905302 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.04.2021 Erteilt am 12.03.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.03.2025	12.03.2025 Kühlvorrichtung für ein Gerät mit Geladenem Teilchenstrahl EP3809445 Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.10.2020 Erteilt am 12.03.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.03.2025	12.03.2025 Rasterelektronenmikroskop und Objektivlinse EP4117013 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.06.2022 Erteilt am 12.03.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.03.2025	05.03.2025 Supraleitende Magnetvorrichtung EP4517358 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.08.2024 Anhängig Vertretung TBK · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.03.2025	05.03.2025 Elektronenmikroskop, Aberrationskorrekturverfahren und Bildgebungsverfahren EP4415021 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.02.2024 Erteilt am 05.03.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung An electron microscope (100) includes an electron optical system (20, 40), and a control unit (60) that controls the electron optical system (20, 40), the control unit (60) performing: processing for determining a standard deviation of a brightness distribution of an electron microscope image; processing for determining an optimum value of a parameter of the electron optical system (20, 40) such that the standard deviation becomes the maximum, by Gaussian process regression; and processing for capturing the electron microscope image with setting a value of the parameter to the optimum value, and the control unit (60) repeating the processing for determining the standard deviation, the processing for determining the optimum value, and the processing for capturing the electron microscope image to determine a value of the parameter. Alle Patent-Informationen
05.03.2025	05.03.2025 Vorrichtung und Verfahren zur Automatisierten Analyse EP3561519 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.04.2019 Erteilt am 05.03.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.03.2025	05.03.2025 Elektronenmikroskop und Bilderfassungsverfahren EP4174902 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.10.2022 Erteilt am 05.03.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.02.2025	12.02.2025 Röntgenmessvorrichtung und Röntgenmessverfahren EP3995820 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.11.2021 Erteilt am 12.02.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung In a preliminary measurement, spectrums obtained by detecting characteristic X-rays emitted from preliminary measurement points are transmitted to a spectrum processing unit (20) via a noise filter unit (22). In a main measurement, a spectrum obtained by detecting characteristic X-rays emitted from a main measurement point is transmitted to the spectrum processing unit (20) by bypassing the noise filter unit (22). The noise filter unit (22) includes a machine learning type filter constituted of a CNN or the like. In a learning process, teacher data are generated using artificially-generated noise. Alle Patent-Informationen
12.02.2025	12.02.2025 Analysevorrichtung und Spektrumerzeugungsverfahren EP3705878 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.03.2020 Erteilt am 12.02.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.01.2025	29.01.2025 Kollisionsbeurteilungsvorrichtung, Aufzeichnungsmedium, Aufzeichnungsprogramm und Kollisionsbeurteilungsverfahren EP4404235 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.12.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.01.2025	01.01.2025 Rasterelektronenmikroskop und Bildverarbeitungsverfahren EP3654360 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.11.2019 Erteilt am 01.01.2025 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.12.2024	18.12.2024 Datenverarbeitungsvorrichtung und Probenbeurteilungsverfahren EP4478073 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.06.2024 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.12.2024	11.12.2024 Magneto-Optische Falle, Physikalisches Gehäuse für Atomuhr, Physikalisches Gehäuse EP4475356 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektrische Energietechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.01.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.11.2024	27.11.2024 Atomstrahlerzeugungsvorrichtung, Physikpaket und Physikpaket EP4468537 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.11.2022 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.11.2024	13.11.2024 Kristallstrukturanalysesystem und Kristallstrukturanalyseverfahren EP3588069 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.06.2019 Erteilt am 13.11.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.11.2024	13.11.2024 Dreidimensionales Gerät zur Generativen Fertigung durch Pulverbettschmelzung EP4134190 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.08.2022 Erteilt am 13.11.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.09.2024	25.09.2024 Massenbildverarbeitungsvorrichtung, -Verfahren und -Program EP4283656 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.05.2023 Erteilt am 25.09.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.09.2024	18.09.2024 Ionenfräsvorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Probe EP3944285 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.07.2021 Erteilt am 18.09.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.09.2024	11.09.2024 Dreidimensionale Pulverbettfusionsvorrichtung zur Additiven Herstellung EP3862114 Kunststoff- & Polymertechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.01.2021 Erteilt am 11.09.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.09.2024	04.09.2024 Quelle für Geladene Teilchenstrahlen und System für Geladene Teilchenstrahlen EP4254465 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.03.2023 Erteilt am 04.09.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.08.2024	28.08.2024 Vorrichtung zur Messung des Ionenstrahlstroms, Probenvorbereitungsvorrichtung und Verfahren zur Berechnung des Ionenstrahlstroms EP3703098 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.02.2020 Erteilt am 28.08.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.08.2024	14.08.2024 Vorrichtung zum Halten einer Probenkartusche EP4220682 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.01.2023 Erteilt am 14.08.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.08.2024	07.08.2024 Phasenanalysator, Probenanalysator und Analyseverfahren EP4174481 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.10.2022 Erteilt am 07.08.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.07.2024	31.07.2024 Isotopenmarkierte Indolcarbonsäureverbindung, Gemische und Analyseverfahren damit EP4406930 Organische Chemie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.09.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.07.2024	31.07.2024 Automatische Analysevorrichtung und Verfahren zur Steuerung einer Automatischen Analysevorrichtung EP3896456 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.03.2021 Erteilt am 31.07.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.07.2024	24.07.2024 Probenhalter, Probenhaltersatz und Probenherstellungsverfahren EP4404234 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.12.2023 Anhängig Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.07.2024	17.07.2024 Analysegerät und Verfahren zur Bildverarbeitung EP4123299 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.05.2022 Erteilt am 17.07.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.07.2024	03.07.2024 Nmr-Messgerät und Verfahren zur Identifizierung von Lösungsmitteln EP4134694 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.08.2022 Erteilt am 03.07.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.07.2024	03.07.2024 Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Bildes auf der Grundlage einer Mehrfachheit von Massenspektra EP3514820 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.01.2019 Erteilt am 03.07.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.06.2024	19.06.2024 Nmr-Sonde EP4060361 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.03.2022 Erteilt am 19.06.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.06.2024	19.06.2024 Aberrationskorrekturvorrichtung und Elektronenmikroskop EP4231327 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.02.2023 Erteilt am 19.06.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.06.2024	19.06.2024 Höhenmessvorrichtung, Gerät mit Geladenem Teilchenstrahl und Höhenmessverfahren EP3848669 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.12.2020 Erteilt am 19.06.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.06.2024	12.06.2024 Röntgendurchlässiges Fenster und Strahlungsdetektor EP3889990 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.03.2021 Erteilt am 12.06.2024 Vertretung Boult Wade Tennant LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen