JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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520 gesamt| Patent | |||
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15.10.2025
Vorrichtung für Geladene Teilchenstrahlen und Analyseverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.10.2025
Transmissionselektronenmikroskop, Bildklassifizierungsverfahren und Elektronenstrahleinstellverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.10.2025
Kühlvorrichtung und Kühlvorbereitungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.10.2025
System zur Dreidimensionalen Generativen Fertigung, Steuerungsverfahren dafür und Steuerungsprogramm dafür
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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01.10.2025
Phasenanalysator, Probenanalysator und Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
A phase analyzer (80) includes: a data acquisition unit that acquires spectrum imaging data in which a position on a sample (S) is associated with a spectrum of a signal from the sample (S); a candidate determination unit (804) that performs multivariate analysis on the spectrum imaging data to determine candidates for the number of phases; a phase analysis unit (806) that creates, for each of the candidates, a phase map group including a number of phase maps corresponding to the number of phases; and a display control unit (808) that causes a display unit (820) to display, for each of the candidates, the phase map group. |
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24.09.2025
Spannvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.09.2025
Atomstrahlerzeugungsvorrichtung, Physikalisches Gehäuse, Atomuhrgehäuse, Physikalisches Atominterferometerpaket, Quanteninformationsverarbeitungssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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27.08.2025
Spektrumsanalysevorrichtung und Datenbankerzeugungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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27.08.2025
Massenspektrometrievorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.08.2025
Massenspektrometriedatenverarbeitungsgerät und -Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.08.2025
Rastertransmissionselektronenmikroskop und Ausrichtungsverfahren der Apertur
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.08.2025
Vorrichtung und Verfahren zur Verarbeitung eines Massenspektrums
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.08.2025
Vorrichtung zur Rekondensation von Helium für Kryostaten
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.08.2025
System mit Geladenem Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.08.2025
Phasenanalysator, Probenanalysator und Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.08.2025
Analyseverfahren und Röntgenfluoreszenzanalysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
An analysis method using an X-ray fluorescence analyzer (100) is provided in which an X-ray spectrum is acquired by detecting a secondary X-ray emitted from a specimen (S) when the specimen (S) is irradiated with a primary X-ray. The analysis method includes: acquiring a first X-ray spectrum obtained, with a take-off angle of the secondary X-ray being set as a first take-off angle; acquiring a second X-ray spectrum obtained, with a take-off angle of the secondary X-ray being set as a second take-off angle that is different from the first take-off angle; and obtaining information on an element in a depth direction of a specimen (S) based on the first X-ray spectrum and the second X-ray spectrum. |
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30.07.2025
Strahlungsdetektionsvorrichtung und Probenanalysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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30.07.2025
System mit Fokussiertem Ionenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.07.2025
Automatisches Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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23.07.2025
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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16.07.2025
Chromatograph-Massenspektrometrievorrichtung und Chromatograph-Massenanalyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.07.2025
Massenspektrometriesystem und Verfahren zur Spitzenwertbeurteilung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.06.2025
Nmr-Probenröhrchentransportvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
A load unit (34) jets a load gas from a cone-shaped slit (Gl) to a first position (PI) located in a pathway. As a result, a first gas stream for loading a sample tube is generated. An eject unit (36) jets an eject gas from a cone-shaped slit (G2) to a second position (P2) in the pathway. As a result, a second gas stream for ejecting a sample tube is generated. |
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18.06.2025
Ionendünnungsvorrichtung und Probenhalter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.06.2025
Ausgabesondenvorrichtung und Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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18.06.2025
Flüssigkeitszuführvorrichtung
Medizintechnik & Gesundheit
Verfahrens- & Trenntechnik
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11.06.2025
Physikalisches Gehäuse für Optische Gitteruhr
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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11.06.2025
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung und Kamerabildanzeigeverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.06.2025
System mit Fokussiertem Ionenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.06.2025
Beurteilungsvorrichtung, System und Beurteilungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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28.05.2025
Dreidimensionales Pulverbettschmelzgerät zur Generativen Fertigung und Dreidimensionales Pulverbettschmelzverfahren zur Generativen Fertigung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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28.05.2025
Vorrichtung und Verfahren zur Probenbearbeitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A specimen machining device for machining a specimen by irradiating the specimen with an ion beam includes an ion source for irradiating the specimen with the ion beam, a shielding member disposed on the specimen to block the ion beam, a specimen stage for holding the specimen, a camera for photographing the specimen, a coaxial illumination device for irradiating the specimen with illumination light along an optical axis of the camera, and a processing unit for determining whether to terminate the machining based on an image photographed by the camera, wherein the processing unit performs processing for acquiring information indicating a target machined width, processing for acquiring the image, processing for measuring a machined width on the acquired image, and processing for terminating the machining when the measured machined width equals or exceeds the target machined width. |
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07.05.2025
Kalte Atomerzeugungsvorrichtung, Kaltes Atomerzeugungsverfahren, Physikalisches Paket
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.04.2025
Magnetische Optische Falle, Physikalisches Gehäuse für Atomuhren, Physikalisches Gehäuse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.04.2025
Derivatisierungsreagenz, Derivatisierungsreagenz-Kit und Verfahren zur Verbesserung der Empfindlichkeit Stickstoffhaltiger Verbindungen in der Massenspektrometrie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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16.04.2025
Rasterelektronenmikroskop und Kartenanzeigeverfahren für Absorptionsrandstruktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.03.2025
Teilchenstrahlvorrichtung und Steuerungsverfahren für ein Optisches System eines Teilchenstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.03.2025
Supraleitende Spuleneinrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.03.2025
Atomstrahlerzeugungsvorrichtung, Physikpaket und Physikpaket
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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12.03.2025
Rasterelektronenmikroskop und Objektivlinse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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