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JEOL Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

520
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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520 gesamt
Patent
27.01.2010
Probenhalter, Probenprüfvorrichtung und Probenprüfverfahren
EP2148359
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.12.2009
Rekonstruktionsverfahren für ein dreidimensionales Bild und Transmissions-Elektronenmikroskop
EP1628321
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.09.2009
Mehrfach abgestimmter Resonanzkreis und Probe für NMR-Spektrometer
EP1249709
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2009
NMR-Sonde
EP2015093
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.12.2008
Verfahren zur Herstellung einer Multipollinse, Multipollinse und damit ausgerüsteter Teilchenstrahlapparat
EP1463086
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.11.2008
Abstimmkreis für mehrere Frequenzen und Probenkopf für NMR-Spektrometer
EP1298445
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.10.2008
Mehrpol-Linse and Ladungsträgerteilchenstrahlgerät mit einer Mehrpol-Linse
EP1811540
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.09.2008
Energiefilter und Elektronenmikroskop
EP1432006
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.09.2008
Magnetenergiefilter
EP1780762
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.08.2008
Detektor und Spektrometer der Kernspinresonanz
EP1600785
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.06.2008
Apparat für geladene Teilchen mit Aberrationskorrektur
EP1313125
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.06.2008
Kondensatormodul, Gruppe von Modulen und Gehäuse für solche Modulen
EP1033730
Elektrische Energietechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.06.2008
Energiefilter
EP1037252
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.05.2008
Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von Querschnittsproben mithilfe von Ionenstrahlen
EP1921434
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.01.2008
Elektronenmikroskop
EP1598848
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.12.2007
Herstellungsverfahren einer Mehrpol-Linse
EP1492151
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.11.2007
Magnetresonanzmikroskop
EP1830172
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.11.2007
Magentischer Energiefilter
EP1058287
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.10.2007
Verfahren zur Optimisierung eines Parameters einer NMR-Messung
EP1473574
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.09.2007
Probeninspektionsgerät
EP1162645
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.05.2007
Vorrichtung zur organischen Synthese und Reaktionen
EP1790411
Verfahrens- & Trenntechnik
17.01.2007
Energiefilter und seine Verwendung in einem Elektronenmikroskop
EP1067576
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.01.2007
Teilchenstrahlapparat und Verfahren zur Untersuchung einer Probe unter Verwendung des Teilchenstrahlapparats
EP1739713
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.07.2006
Raster Ladungsträgerstrahlgerät
EP1071112
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.06.2006
Nmr-Sonde zur Messung einer Hohen Temperatur
EP1669771
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.05.2006
Verfahren zur Herstellung einer ionenempfindlichen Schicht für einen Ionensensor
EP1324026
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.05.2006
Probenuntersuchungsverfahren für die Rasterkraftmikroskopie und Rasterkraftmikroskop
EP1244113
01.03.2006
Elektrisches Speicherkondensatorsystem mit Initialisierungsfunktion
EP1122852
Elektrische Energietechnik
26.10.2005
Verfahren zur Ermittlung Geometrisch Optischer Abbildungsfehler
EP1252646
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.10.2005
Verfahren der Quantifizierung eines Magnetresonanzspektrums
EP1586915
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.08.2005
Vorrichtung und Verfahren zur Bestrahlung mittels Elektronen
EP1339085
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.08.2005
NMR-Gerät mit Kontrolleinrichtung für die RF-Leistung
EP1467219
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.06.2005
System mit variabel verschaltbaren kapazitiven Energiespeichern
EP1300933
Elektrische Energietechnik
17.11.2004
Raster-Ladungsträgerstrahlgerät und Verfahren zur Beobachtung von Probenbildern mittels einem solchen Gerät
EP1061551
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.10.2004
Inspektionsvorrichtung mit Rasterelektronenmikroskop
EP1469306
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.10.2004
Alkalische Waschlösung für Klinische Analyseautomaten
EP1253187
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
07.05.2003
System und Verfahren zur Wafer-Halterung und Evakuierung in einer Elektronenbestrahlungsanlage
EP1308985
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.05.2003
Electron Microscope Having X-Ray Spectrometer
WO03036677
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektrische Energietechnik
20.02.2002
Schaltreglersytem mit schaltbar verbundenden Kondensatoren
EP1035637
Elektrische Energietechnik
29.08.2001
Bildbeobachtungsverfahren und Rasterelektronenmikroskop
EP1128413
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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16
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5
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4
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