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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
24.03.2011
Measurement circuit and electronic device
WO2011033691
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.03.2011
Testing apparatus and testing method
WO2011033588
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.03.2011
Testing apparatus and testing method
WO2011033589
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.03.2011
Probe circuit, multi-probe circuit, testing apparatus and electronic device
WO2011033564
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.03.2011
Container, container arrangement method, and measurement method
WO2011030877
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.03.2011
Conductive member, connecting member, testing apparatus and method for repairing connecting member
WO2011030379
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.03.2011
Testing apparatus, testing method, and program
WO2011027392
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.03.2011
Probe, probe card and electronic component testing apparatus
WO2011024303
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.03.2011
Test device and test method for modulated signal to be tested
WO2011024394
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.03.2011
Interface apparatus and semiconductor testing apparatus
WO2011024295
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.02.2011
Punch unit and tcp handling device
WO2011018847
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.02.2011
Differential sr flip-flop and tester using same
WO2011018818
Elektronik & Schaltungstechnik
16.02.2011
Elektronenstrahllithographiesystem und Verfahren zur Elektronenstrahllithographie
EP2284864
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.02.2011
Wafer tray and testing apparatus
WO2011016097
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.02.2011
Testing device and testing method
WO2011016096
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.02.2011
Probe card holding apparatus and prober
WO2011013231
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.02.2011
Temperatursteuerungsvorrichtung
EP2154541
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.01.2011
Test apparatus, additional circuit, and board for testing
WO2011010409
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.01.2011
Test apparatus
WO2011010412
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.01.2011
Test apparatus, additional circuit, and board for testing
WO2011010410
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.01.2011
Testing device
WO2011010349
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.01.2011
Electronic part pressing device, electronic part test device, and interface device
WO2011007419
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.01.2011
Test device and method for analyzing refief
WO2011007383
Akustik, Musik & Datenspeicherung
06.01.2011
Test apparatus, method for correcting and program
WO2011001463
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.01.2011
Connector and semiconductor testing device including the connector
WO2011002848
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Connector, cable assembly, and semiconductor testing device
WO2011002833
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Electromagnetic wave measurement device, measurement method, program, and recording medium
WO2011001922
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.01.2011
Edge Connector
WO2011002880
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Connector and semiconductor testing device including the connector
WO2011002840
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2011
Test apparatus
WO2011001462
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.12.2010
Phase detection device, test device, and adjustment method
WO2010150304
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.12.2010
Timing generator and tester
WO2010150303
Elektronik & Schaltungstechnik
23.12.2010
Pattern inspection device and pattern inspection method
WO2010146927
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.12.2010
Electronic-part transfer apparatus, and electronic-part testing system provided with the transfer device
WO2010146708
Verpackungs- & Fördertechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.12.2010
Electronic parts transfer system, and electronic parts transfer method
WO2010146709
Verpackungs- & Fördertechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.12.2010
Test device
WO2010140344
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.12.2010
Comparative decision circuit and test device using same
WO2010140190
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.12.2010
Sondenwafer, Sondenvorrichtung und Testsystem
EP2259296
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.12.2010
Prüfwafer, Prüfeinrichtung und Testsystem
EP2259297
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.12.2010
Pulse measurement device, pulse measurement method, and test apparatus using the device and the method
WO2010137076
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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