Advantest Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
610
Patente
2000–2018
Anmeldejahre
19
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
610 gesamt| Patent | |||
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26.11.2009
Pattern Generator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 21.05.2008
Anhängig
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26.11.2009
Pattern generator and memory testing device using the same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 21.05.2008
Anhängig
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19.11.2009
Manufacturing method and wafer unit for testing
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.05.2008
Anhängig
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12.11.2009
Digital modulated signal test equipment and test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 09.05.2008
Anhängig
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12.11.2009
Digital modulated signal test equipment, and digital modulator, moudlating method and semiconductor device using the same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 09.05.2008
Anhängig
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12.11.2009
Memory test apparatus and testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 07.05.2009
Anhängig
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11.11.2009
Messvorrichtung und Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.01.2008
Anhängig
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner GbR · München
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29.10.2009
Test system and probe apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.04.2008
Anhängig
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29.10.2009
Test system and probe apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.04.2008
Anhängig
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22.10.2009
Semiconductor testing apparatus and testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.04.2008
Anhängig
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22.10.2009
Power source stabilization circuit, electronic devce and testing apparatus
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 17.04.2008
Anhängig
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15.10.2009
Driver circuit and testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 11.04.2008
Anhängig
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15.10.2009
Loop type clock adjustment circuit and test device
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 07.04.2009
Anhängig
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08.10.2009
Test module, test device, and test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 27.03.2009
Anhängig
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08.10.2009
Test device and test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 27.03.2009
Anhängig
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08.10.2009
Test module, test device, and test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 27.03.2009
Anhängig
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01.10.2009
Socket guide, socket unit, electronic component test apparatus, and method of controlling socket temperature
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.03.2008
Anhängig
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01.10.2009
Measuring apparatus, parallel measuring apparatus, testing apparatus, and electronic device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.03.2009
Anhängig
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01.10.2009
Operation deviation reporting device and operation deviation reporting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 13.03.2009
Anhängig
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30.09.2009
Kalibriervorrichtung, Testvorrichtung und Kalibrierverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.09.2004
Anhängig
Vertretung
Hoffmann, Eckart, Dipl.-Ing · Gräfelfing
MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann · München
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24.09.2009
Tray conveying device and electronic part test device with the same
Verpackungs- & Fördertechnik
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Status
Angemeldet am 21.03.2008
Anhängig
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24.09.2009
Test device, demodulation device, test method, demodulation method, and electronic device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 04.03.2009
Anhängig
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17.09.2009
Device for measuring pattern length and method for measuring pattern length
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.03.2008
Anhängig
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17.09.2009
Multi-column electron beam photolithography system
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.03.2008
Anhängig
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03.09.2009
Electronic component transfer apparatus, and electronic component test equipment equipped with the same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.02.2008
Anhängig
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27.08.2009
Method for correcting traveling error of tray transfer device and program for correction
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.02.2008
Anhängig
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27.08.2009
Method for transferring electronic component and control program for executing the same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.02.2008
Anhängig
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27.08.2009
Digital modulation signal test device, digital modulator, digital demodulator, and semiconductor device using the devices
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 20.02.2009
Anhängig
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27.08.2009
Ring Oscillator
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 30.01.2009
Anhängig
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26.08.2009
Testeinrichtung und Testmodul
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.11.2007
Anhängig
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner GbR · München
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20.08.2009
Match plate base portion and body portion, electronic component handling device, and jig and method for exchanging match plate body portion and test portion unit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.02.2008
Anhängig
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13.08.2009
Variety exchanging unit, and manufacturing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.02.2008
Anhängig
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06.08.2009
Electronic component handling apparatus and method for detecting position of electronic component
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.12.2008
Anhängig
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30.07.2009
Memory testing device and testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 22.01.2008
Anhängig
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30.07.2009
Electronic component testing method and electronic component testing device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.01.2008
Anhängig
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30.07.2009
Testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.12.2008
Anhängig
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23.07.2009
Power supply circuit and testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2008
Anhängig
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16.07.2009
Testing apparatus, probe card and testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2008
Anhängig
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09.07.2009
Semiconductor test apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 28.12.2007
Anhängig
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02.07.2009
Test apparatus and measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2008
Anhängig
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Wer vertritt Advantest?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advantest vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
425
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
145
Elektronik & Schaltungstechnik
72
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
62
Akustik, Musik & Datenspeicherung
34
Software & Datenverarbeitung
31
Optik & Fototechnik
26
Elektrische Energietechnik
15
Medizintechnik & Gesundheit
12
Verpackungs- & Fördertechnik
8
Steuerungs- & Regelungstechnik
5
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
5