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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
02.12.2010
Valve device, and device for regulating temperature of electronic part
WO2010137137
Maschinenelemente & Fluidtechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.12.2010
Pulse measurement device, pulse measurement method, and test apparatus using the device and the method
WO2010137076
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.12.2010
Reception device, test device, reception method, and test method
WO2010137058
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.12.2010
Piping joint and test head with the same
WO2010137138
Maschinenelemente & Fluidtechnik Elektronik & Schaltungstechnik
18.11.2010
Electromagnetic wave measuring apparatus, measuring method, program and recording medium
WO2010131763
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.11.2010
Housing, housing placement method, and measurement method
WO2010131762
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.11.2010
Reception device, test device, reception method, and test method
WO2010131286
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
04.11.2010
Testing apparatus and testing method
WO2010125793
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.11.2010
Clock generating apparatus, testing apparatus and clock generating method
WO2010125610
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
04.11.2010
Wiring board unit and testing apparatus
WO2010125605
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.10.2010
Correction device, probability density function measuring device, jitter measuring device, jitter separating device, electronic device, correction method, program, and recording medium
WO2010122748
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.10.2010
Driver comparator circuit and test device using the same
WO2010122603
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
13.10.2010
Testapparat
EP1978527
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
30.09.2010
Testing device, calibration method, and program
WO2010109847
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.09.2010
Test device, test method, and production method
WO2010109740
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.09.2010
Multicolumn electronic beam lithography mask retainer and multicolumn electronic beam lithography system
WO2010109647
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.09.2010
Electron beam lithography system and electron beam lithographing method
WO2010109655
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.09.2010
Manufacturing apparatus, manufacturing method and package device
WO2010109739
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.09.2010
Testeinrichtung und Testverfahren
EP1742074
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.09.2010
Testeinrichtung und Testverfahren
EP2233936
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.09.2010
Testeinrichtung und Testverfahren
EP1818676
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.09.2010
Test device and testing method
WO2010103567
Akustik, Musik & Datenspeicherung
16.09.2010
Testing apparatus and testing method
WO2010103786
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.09.2010
Pufferschaltung
EP1703291
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.09.2010
Method and apparatus for time vernier calibration
WO2010100955
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.09.2010
Equalizer circuit and testing apparatus using the same
WO2010100674
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
02.09.2010
Testing apparatus and testing method
WO2010097841
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.08.2010
Output device and testing device
WO2010095378
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
26.08.2010
Test apparatus, calibration method and program
WO2010095167
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.08.2010
Prüfeinrichtung, Prüfverfahren, Herstellungsverfahren für Elektronische Bauelemente, Prüfsimulator und Prüfsimulationsverfahren
EP1870725
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.08.2010
Testing device and testing method
WO2010092800
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.08.2010
Semiconductor wafer testing apparatus
WO2010092672
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.08.2010
Mask inspection apparatus and image creation method
WO2010089954
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
12.08.2010
Test device and test method
WO2010089996
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.08.2010
Strukturierungsverfahren
EP1887614
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.08.2010
Electronic device, test equipment, and test method
WO2010087009
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Test device and test method
WO2010086971
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Electronic device, testing apparatus and testing method
WO2010087008
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.08.2010
Timing-Generator und Halbleiterprüfvorrichtung
EP1746428
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.08.2010
Testvorrichtung und Testverfahren
EP2003653
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung

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