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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
25.09.2008
Tester and electronic device
WO2008114701
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
18.09.2008
Scanning electron microscope having length measuring function and sample dimension length measuring method
WO2008111365
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.09.2008
Testvorrichtung
EP1666896
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.09.2008
Method for replacing tray
WO2008107959
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.09.2008
Tester
WO2008107996
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
12.09.2008
Driver Circuit
WO2008108195
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
12.09.2008
Signal measuring apparatus and testing apparatus
WO2008108374
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.09.2008
Driver Circuit
WO2008105251
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
28.08.2008
Electron gun, electron beam exposure apparatus and electron beam exposure method
WO2008102435
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.08.2008
Device for pressing electronic component and device for testing electronic component
WO2008102581
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.08.2008
Testeinrichtung
EP1640736
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.08.2008
Testing apparatus and program
WO2008099686
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.08.2008
Testing apparatus and testing method
WO2008099861
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
20.08.2008
Trägermodule zum Anpassen von Nicht-Standard-Gerätekarten an Testsysteme
EP1747475
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.08.2008
Testvorrichtung und -Verfahren
EP1959455
Akustik, Musik & Datenspeicherung
20.08.2008
Testvorrichtung und Testverfahren
EP1959456
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
14.08.2008
Amplification Control Device, Test Signal Generation Module, Test Device, Amplification Control Method, Program, Recording Medium
WO2008096653
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
07.08.2008
Testing apparatus and probe card
WO2008093465
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.07.2008
Current-limiting voltage generator, and semiconductor testing device
WO2008090627
Steuerungs- & Regelungstechnik
24.07.2008
Substrate fixing device and substrate fixing method
WO2008087725
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.07.2008
Beseitigung der Spiegelfrequenz in Frequenzumsetzern für Spektralanalysatoren
EP1657558
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.07.2008
Steuerverfahren und Steuersystem
EP1947539
Steuerungs- & Regelungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.07.2008
Testgerät und Leistungsplatine
EP1947467
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.07.2008
Electron gun and electron beam exposure device
WO2008084537
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.07.2008
Dipolantenne und Herstellungsverfahren dafür
EP1933209
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.07.2008
Test equipment and test method
WO2008078529
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
26.06.2008
Electronic component testing equipment and method of testing electronic component
WO2008075439
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.06.2008
Measurement device, measurement method, calibration device, and calibration method
WO2008075602
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.06.2008
Coaxial cable unit and test device
WO2008072322
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.06.2008
Test device and inspection method
WO2008072401
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.06.2008
Testing apparatus, testing method and connecting section
WO2008072639
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.06.2008
Produktionssystem, Produktionsverfahren, Verwaltungseinrichtung, Verwaltungsverfahren und Programm
EP1933215
Steuerungs- & Regelungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.06.2008
Electronic component testing method and electronic component testing equipment
WO2008068799
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.06.2008
Electronic component handling device, electronic component handling system and electronic component testing method
WO2008068798
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.06.2008
Electron beam exposure device
WO2008068815
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.06.2008
Electronic Component Testing Equipment
WO2008068869
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.06.2008
Testing apparatus and device interface
WO2008068994
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.06.2008
Pattern controlled, full speed ate compare capability for deterministic and non-deterministic ic data
WO2008069113
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.06.2008
Program, recording medium, testing apparatus and diagnosing method
WO2008065863
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.05.2008
Electron-beam exposing device, and electron-beam exposing method
WO2008062513
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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23
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14
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8
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