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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
29.05.2008
Electronic component test equipment and method for conveying tray
WO2008062522
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.05.2008
Verfahren zum Identifizieren von Einrichtungen, Verfahren zur Herstellung von Einrichtungen und Elektronische Einrichtungen
EP1926138
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.05.2008
Measuring circuit and test device
WO2008059766
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.05.2008
Messvorrichtung, Verfahren, Programm und Aufzeichnungsmedium
EP1923690
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.05.2008
Tcp handling device, and method for positional alignment of connecting terminals in the device
WO2008056418
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.05.2008
Testvorrichtung, Programm für eine Testvorrichtung und Verfahren zur Steuerung einer Testvorrichtung
EP1605271
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.05.2008
Kalibrierungsplatte für eine Vorrichtung zum Testen Elektronischer Bauteile
EP1921459
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.05.2008
Variable-capacity element, resonator, and modulator
WO2008053704
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.05.2008
Customer tray and electronic component testing apparatus
WO2008050443
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.05.2008
Electronic component testing apparatus
WO2008050442
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.05.2008
Semiconductor testing apparatus and method of testing semiconductor memory
WO2008050527
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
02.05.2008
Tester, driver comparator chip, response measuring device, calibration method, and calibration device
WO2008050607
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2008
Calibration device, calibration method, and test equipment
WO2008047682
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2008
Jitter applying device, jitter applying method, test equipment, and communication chip
WO2008047685
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2008
Calibration device, calibration method, and test equipment
WO2008047683
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2008
Measuring apparatus, measuring method, program and testing apparatus
WO2008047684
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.04.2008
Tray transfer apparatus and electronic component testing apparatus provided with the same
WO2008044305
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.04.2008
Testing device, testing method, and manufacturing method
WO2008044391
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.04.2008
Tester and control method
WO2008044421
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.04.2008
Semiconductor test device
WO2008044464
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.04.2008
Electron beam lithography system and electron beam lithography
WO2008044479
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.04.2008
Calibration apparatus, contact judging method and semiconductor testing apparatus
WO2008044670
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.04.2008
Electronic component testing apparatus
WO2008041334
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.04.2008
Testvorrichtung
EP1909109
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.04.2008
Jitter measuring device, jitter measuring method, recording medium, and program
WO2008038521
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.04.2008
Delay circuit, jigger-apllied circuit, and tester
WO2008038594
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
03.04.2008
Bimorph Switch
WO2008038339
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.03.2008
Switching device and testing apparatus
WO2008035532
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.03.2008
Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen Integrierter Schaltungen
EP1592975
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.03.2008
Test tray and electronic component testing apparatus provided with same
WO2008032396
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.03.2008
Pattern dimension measuring device and pattern area measuring method
WO2008032387
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.03.2008
A/d converter, a/d converting method, a/d converting program and control apparatus
WO2008032607
Elektronik & Schaltungstechnik
20.03.2008
A/d converter and a/d converting method
WO2008032694
Elektronik & Schaltungstechnik
20.03.2008
A/d converter and a/d converting method
WO2008032695
Elektronik & Schaltungstechnik
20.03.2008
Electronic component testing apparatus
WO2008032397
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.03.2008
Pattern size measuring device, and pattern area measuring method
WO2008032488
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.03.2008
Laser device
WO2008029859
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.03.2008
Schiebetakt-Erzeugungseinrichtung
EP1662267
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.03.2008
Element judging device, method, program, recording medium and measuring device
WO2008026711
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.03.2008
Error factor identification device, method, program, recording medium, output correction device having the device, and reflection coefficient measuring device
WO2008026483
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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