Advantest Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
1.227 gesamt| Patent | |||
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01.11.2007
Modulator
Elektronik & Schaltungstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 10.04.2007
Anhängig
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25.10.2007
Signal analysis device, method, program, and recording medium
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 08.03.2007
Anhängig
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18.10.2007
Carriage for transporting mother board for test apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.04.2006
Anhängig
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18.10.2007
Test apparatus and test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 01.06.2006
Anhängig
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18.10.2007
Testing apparatus and testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.03.2007
Anhängig
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11.10.2007
Emergency stop device, electronic-component testing device with the same, and emergency stop method for electronic component testing device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.04.2006
Anhängig
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11.10.2007
Jitter amplifier, jitter amplifying method, electronic device, test device and test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.03.2007
Anhängig
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11.10.2007
Test method, test system, and auxiliary substrate
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.03.2007
Anhängig
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11.10.2007
Variable delay circuit, testing apparatus and electronic device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 30.03.2007
Anhängig
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27.09.2007
Testing apparatus, memory device and testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 15.03.2007
Anhängig
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27.09.2007
Probability density function isolating device, probability density function isolating method, test device, bit error ratio measuring device, electronic device, and program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.03.2007
Anhängig
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27.09.2007
Probability density function isolating device, probability density function isolating method, noise isolating device, noise isolating method, test device, test method, calculation device, calculation method, program, and recording medium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.03.2007
Anhängig
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26.09.2007
Vorrichtung zum Prüfen einer Einrichtung mit einem Hochfrequenzsignal
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.11.2004
Erteilt am 26.09.2007
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner GbR · München
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26.09.2007
Halbleiterbauelement, Testvorrichtung und Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.11.2005
Anhängig
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner GbR · München
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26.09.2007
Signalübertragungssystem, Signalausgabe-Schaltungsleiterplatte, Signalempfangsschaltungs-Leiterplatte, Signslausgabeverfahren und Signalempfangsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 26.12.2005
Anhängig
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner GbR · München
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20.09.2007
Moving apparatus and electronic component testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.02.2007
Anhängig
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20.09.2007
Jitter measuring device, electronic device, and test device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.03.2007
Anhängig
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20.09.2007
Electronic device, testing apparatus and testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.03.2007
Anhängig
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20.09.2007
Calibration apparatus, testing apparatus, calibration method and testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.03.2007
Anhängig
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13.09.2007
Pattern inspecting system and pattern inspecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.03.2007
Anhängig
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07.09.2007
Signal measuring device, method, program, and recording medium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.02.2007
Anhängig
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07.09.2007
Measuring device, measuring method, test device, test method, and electronic device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2007
Anhängig
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07.09.2007
Measuring device, test device, electronic device, program, and recording medium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2007
Anhängig
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07.09.2007
Measuring device, test device, electronic device, measuring method, program, and recording medium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2007
Anhängig
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07.09.2007
Measuring device, test device, and electronic device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.02.2007
Anhängig
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07.09.2007
Measuring device, measuring method, test device, test method, and electronic device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.02.2007
Anhängig
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23.08.2007
Contact pusher, contact arm and electronic component testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.02.2006
Anhängig
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23.08.2007
Measuring device and measuring method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.02.2007
Anhängig
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22.08.2007
Verfahren und System zur Durchführung von Installations- und Konfigurationsverwaltung von Tester-Instrumentmodulen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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16.08.2007
Change point detection circuit, jitter measurement device, and test device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 18.01.2007
Anhängig
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09.08.2007
Temperature compensating circuit and testing apparatus
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 10.01.2007
Anhängig
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08.08.2007
Sampling-Schaltung und Tester
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 27.10.2005
Anhängig
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner GbR · München
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02.08.2007
Probe card, probe card manufacturing method and probe card repairing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.01.2006
Anhängig
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02.08.2007
Tester and selector
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 20.12.2006
Anhängig
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02.08.2007
Analyzing device and analyzing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.01.2007
Anhängig
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02.08.2007
Test device and test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.01.2007
Anhängig
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01.08.2007
Testeinrichtung und Einstellverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.03.2004
Erteilt am 01.08.2007
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner GbR · München
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26.07.2007
Electronic component testing apparatus and electronic component testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.01.2006
Anhängig
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26.07.2007
Electronic component testing apparatus and electronic component testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.01.2006
Anhängig
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26.07.2007
Contact device and process for producing the same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.01.2007
Anhängig
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Wer vertritt Advantest?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advantest vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
870
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
259
Elektronik & Schaltungstechnik
151
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
105
Software & Datenverarbeitung
71
Akustik, Musik & Datenspeicherung
58
Optik & Fototechnik
52
Medizintechnik & Gesundheit
23
Elektrische Energietechnik
22
Steuerungs- & Regelungstechnik
14
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
8
Verpackungs- & Fördertechnik
8