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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
28.02.2008
Signal generating apparatus, testing apparatus and circuit device
WO2008023486
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
28.02.2008
Threshold voltage control apparatus, testing apparatus and circuit device
WO2008023485
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
28.02.2008
Variable delay circuit, timing generator and semiconductor testing apparatus
WO2008023624
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
28.02.2008
Spectrum analyzer system and spectrum analyze method
WO2008023640
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.02.2008
Load variation compensating circuit, electronic device, testing apparatus, timing generator circuit and load variation compensating method
WO2008020524
Elektronik & Schaltungstechnik
21.02.2008
Test device and test method
WO2008020555
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
21.02.2008
Electronic component handling apparatus, method for operating the electronic component handling apparatus, test tray and pusher
WO2008020523
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.02.2008
Probability density function separator, probability density function separating method, program, tester, bit error rate measurement device, electronic device, and jitter transfer function measurement device
WO2008018588
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.02.2008
Noise separator, noise separating method, probability density function separator, probability density function separating method, tester, electronic device, program, and recording medium
WO2008018587
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.02.2008
Teilchenstrahlgerät
EP1160825
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.01.2008
Electronic component transfer method and electronic component handling device
WO2008012889
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.01.2008
Mustergenerator und Testeinrichtung
EP1640735
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.01.2008
Testeinrichtung, Testverfahren und Teststeuerprogramm
EP1882956
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.01.2008
Testinstrument, Programm und Aufzeichnungsmedium
EP1882957
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.01.2008
Testvorrichtung
EP1607758
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.01.2008
Tester, adjustment method, and adjustment program
WO2008007636
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.01.2008
Verfahren und Struktur zur Entwicklung eines Testprogramms für Integrierte Halbleiterschaltungen
EP1592976
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
10.01.2008
High speed serial crossbar switch based loopback module
WO2008004693
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
03.01.2008
Semiconductor testing apparatus and semiconductor memory testing method
WO2008001543
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
27.12.2007
Method for calibrating electronic component testing apparatus
WO2007148375
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.12.2007
Calibration method employed in electronic component test system
WO2007148422
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.12.2007
Testemulator, Testmodulemulator und Aufzeichnungsmediumspeicherprogramm darin
EP1870724
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
12.12.2007
Einrichtung zur Handhabung Elektronischer Komponenten und Verfahren für Temperaturanwendung in einer Handhabungseinrichtung für Elektronische Komponenten
EP1637892
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.12.2007
Tester und Testverfahren
EP1865332
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.12.2007
Strommessvorrichtung, Testvorrichtung, Strommessverfahren und Testverfahren
EP1865333
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.12.2007
Vorrichtung zur Belichtung Mehrspaltiger Elektronenstrahlen
EP1865538
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.12.2007
Testing apparatus and test module
WO2007138814
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.12.2007
Power supply, tester, and stabilizer
WO2007138819
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
29.11.2007
Electronic component testing apparatus
WO2007135709
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.11.2007
Electronic component testing apparatus
WO2007135710
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.11.2007
Frequency component measuring device
WO2007132660
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.11.2007
Testvorrichtung
EP1666898
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.11.2007
Switch circuit, filter circuit and testing apparatus
WO2007129583
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
14.11.2007
Testvorrichtung mit einer Einrichtung zur Wellenform-Formatierung
EP1653239
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.11.2007
Testing apparatus and testing method
WO2007125798
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
07.11.2007
Verfahren und System zum Simulieren eines Modularen Testsystems
EP1756605
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
01.11.2007
Signal output device, signal detection device, tester, electron device, and program
WO2007122990
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.11.2007
Feature acquiring device, method, and program
WO2007123056
Elektronik & Schaltungstechnik
01.11.2007
Calibration device, calibration method, tester, and test method
WO2007123054
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.11.2007
Testing apparatus, testing method, jitter filter circuit and jitter filtering method
WO2007123055
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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