Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente

🇩🇪 Deutschland

Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.

609

Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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609 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
18.05.2016	18.05.2016 Vorrichtung und Verfahren zur Durchlichtbeleuchtung für Lichtmikroskope und Mikroskopsystem EP2656132 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.08.2012 Erteilt am 18.05.2016 Vertretung Schiffer, Axel Martin · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.05.2016	18.05.2016 Massenspektrometer, dessen Verwendung, sowie Verfahren zur Massenspektrometrischen Untersuchung eines Gasgemisches EP3020063 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.02.2014 Anhängig Vertretung dompatent · Köln Kohler Schmid Möbus Patentanwälte · Reutlingen Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.05.2016	18.05.2016 Anordnung zur Lichtblattmikroskopie EP3019904 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.07.2014 Anhängig Vertretung Loritz, Rainer · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.05.2016	12.05.2016 Verfahren zur Erzeugung eines Bildes einer Probe WO2016071033 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.09.2015 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.05.2016	04.05.2016 Gasfeldionenquelle mit Beschichteter Spitze EP2263248 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.02.2009 Erteilt am 04.05.2016 Vertretung Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.04.2016	20.04.2016 Teilchenstrahlsystem und Verfahren zum Betreiben dieses Systems EP2575159 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.09.2011 Erteilt am 20.04.2016 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.04.2016	13.04.2016 Fahrzeug mit Anordnung zur Spektroskopischen Bestimmung der Bestandteile und Konzentrationen Pumpfähiger Organischer Verbindungen und Verfahren EP1721139 Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.02.2005 Erteilt am 13.04.2016 Vertretung Müller, Silke · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.04.2016	13.04.2016 Verfahren zur Rekalibrierung eines Spektrometrischen Messkopfes EP1740928 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.04.2005 Erteilt am 13.04.2016 Vertretung Müller, Silke · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.04.2016	13.04.2016 Auswerteschaltung für einen Optoelektronischen Detektor und Verfahren zum Aufzeichnen von Fluoreszenzereignissen EP2761276 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.09.2012 Erteilt am 13.04.2016 Vertretung Loritz, Rainer · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.04.2016	13.04.2016 Lichtrastermikroskop mit Spektraler Detektion EP2823347 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.02.2013 Erteilt am 13.04.2016 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.03.2016	31.03.2016 Laserscansystem WO2016046012 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.09.2015 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.03.2016	16.03.2016 Elektronenmikroskopiesystem EP2996138 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.08.2003 Anhängig Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.03.2016	09.03.2016 Mikroskop und Verfahren für die Hochauflösende 3-D Fluoreszenzmikroskopie EP2802921 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.12.2012 Erteilt am 09.03.2016 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.03.2016	09.03.2016 Mikroskop und Verfahren für die Hochauflösende 3-D Fluoreszenzmikroskopie EP2807515 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.12.2012 Erteilt am 09.03.2016 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.02.2016	04.02.2016 Zoommikroskop WO2016015978 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.07.2015 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.02.2016	03.02.2016 Strahlenvorrichtung und System mit einer Partikelstrahlenvorrichtung und einem optischem Mikroskop EP2565900 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.11.2007 Erteilt am 03.02.2016 Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.01.2016	27.01.2016 Steuermodul und Steuersystem zur Beeinflussung von Probenumgebungsparametern eines Inkubationssystems, Verfahren zur Steuerung einer Mikroskopanordnung und Computerprogrammprodukt EP1926011 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.08.2007 Erteilt am 27.01.2016 Vertretung Banzer, Hans-Jörg · München Kraus & Weisert Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.01.2016	27.01.2016 Anordnung zur Signalverarbeitung am Ausgang eines Mehrkanaldetektors EP2047237 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.07.2007 Erteilt am 27.01.2016 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.01.2016	27.01.2016 Laser-Scanning-Mikroskop EP1944600 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.07.2006 Erteilt am 27.01.2016 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.01.2016	14.01.2016 Positionsbestimmung eines Objekts im Strahlengang einer Optischen Vorrichtung WO2016005571 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.07.2015 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.01.2016	06.01.2016 Aufnahmevorrichtung und Aufnahmeverfahren EP2962095 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.02.2014 Anhängig Vertretung Loritz, Rainer · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.12.2015	16.12.2015 Teilchenstrahlgerät mit Detektoranordnung EP2506285 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.03.2012 Erteilt am 16.12.2015 Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.12.2015	02.12.2015 Lebendzellmikroskop mit UV-Licht-Sterilisator EP2799092 Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.04.2014 Erteilt am 02.12.2015 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.11.2015	25.11.2015 Laserverarbeitungssystem, Objektmontage und Laserverarbeitungsverfahren EP2359977 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.02.2011 Erteilt am 25.11.2015 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.11.2015	12.11.2015 Verfahren zum Segmentieren eines Farbbildes sowie Digitales Mikroskop WO2015169675 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.04.2015 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.11.2015	11.11.2015 Verfahren zur Untersuchung einer Probe EP2195697 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.09.2008 Erteilt am 11.11.2015 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.10.2015	21.10.2015 Elektronenmikroskopiesystem EP1389793 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.08.2003 Erteilt am 21.10.2015 Vertretung Schorr, Frank, Dr · München Diehl & Partner GbR · München Diehl & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.10.2015	14.10.2015 Verfahren zur Beleuchtung eines Objektes in einem digitalen Lichtmikroskop, digitales Lichtmikroskop und Hellfeld-Auflichtbeleuchtungsvorrichtung für ein digitales Lichtmikroskop EP2793067 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.04.2014 Erteilt am 14.10.2015 Vertretung Müller, Silke · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.09.2015	16.09.2015 TEM-Lamelle und Verfahren zu deren Herstellung EP2413126 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.07.2011 Erteilt am 16.09.2015 Vertretung Diehl & Partner GbR · München Diehl & Partner · München Zusammenfassung A process for manufacturing a TEM-lamella includes mounting (51) a plate shaped substrate having a thickness in a support, manufacturing (53) a first strip-shaped recess on a first side of the substrate under a first angle to the support by means of a particle beam, and manufacturing (55) a second strip-shaped recess on a second side of the substrate under a second angle to the support by means of a particle beam, such that the first and the second strip-shaped recess mutually form an acute or right angle, and between them form an overlap region of lesser thickness. The lamella has a thicker rim region and a thinner central region, with a first strip-shaped recess on a first side of the lamella and a second strip-shaped recess on a second side of the lamella, wherein the first and the second strip-shaped recess mutually form an acute or right angle, and between them form an overlap region having a thickness of below 100 nm. An apparatus for executing the process or manufacturing the lamella includes a lamella support pivotable about a transverse axis and a longitudinal axis inclined to the vertical direction, a device for rotating about the longitudinal axis, and stop means for limiting a tilt of the lamella support about the transverse axis. Alle Patent-Informationen
26.08.2015	26.08.2015 Beobachtungsgerät mit separater Bedienungseinheit EP1533643 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.11.2004 Erteilt am 26.08.2015 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.07.2015	29.07.2015 Verfahren zur Herstellung und Analyse eines Objekts und Teilchenstrahlvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens EP2899744 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.01.2014 Anhängig Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.07.2015	23.07.2015 Laser-Scanning-Mikroskop und Verstärkerbaugruppe WO2015107065 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.01.2015 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.05.2015	21.05.2015 Mikroskopische Abbildungseinrichtung WO2015071359 Verfahrens- & Trenntechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.11.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.05.2015	20.05.2015 Einrichtung zur Positionierung optischer Komponenten an einem Mikroskop EP2873996 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.02.2013 Anhängig Vertretung Müller, Silke · Jena Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.05.2015	14.05.2015 Multispot-Scanning-Mikroskop WO2015067669 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.11.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.04.2015	22.04.2015 Verfahren und Systeme für das Abrastern der Oberfläche eines Objekts unter Verwendung eines Teilchenstrahls EP2615620 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.01.2013 Erteilt am 22.04.2015 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung A method of raster scanning a surface of an object using a particle beam comprises determining a basic set of raster points within a surface; determining a surface portion of the surface of the object, wherein the surface portion is to be raster scanned; ordering a set of raster points of the basic set located within the surface portion; and scanning of the surface portion by directing the particle beam onto the raster points of the ordered set in an order corresponding to an order of the raster points in the ordered set from the outside to the inside, i.e. starting from the boundary of the surface portion towards its center, or in the reverse order, i.e. from the inside to the outside. Alle Patent-Informationen
22.04.2015	22.04.2015 Teilchenstrahlgerät und Verfahren zum Betreiben eines Teilchenstrahlgeräts EP2355125 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.01.2011 Erteilt am 22.04.2015 Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.04.2015	15.04.2015 Verfahren zur Abbildung einer Probe mit einem Mikroskop, Mikroskop und Datenspeicher EP2175301 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.10.2008 Erteilt am 15.04.2015 Vertretung Schiffer, Axel Martin · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.04.2015	08.04.2015 Verfahren zum Betrieb eines Partikelstrahlmikroskops und ein Partikelstrahlmikroskop EP2824690 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.07.2014 Anhängig Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2015	02.04.2015 Lichtmikroskop und Verfahren zum Untersuchen einer Probe mit einem Lichtmikroskop WO2015044035 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.09.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen