Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente

🇩🇪 Deutschland

Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.

609

Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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609 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
12.07.2017	12.07.2017 Verfahren und Anordnung zur Autofokussierung eines Mikroskops EP2592462 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.10.2012 Erteilt am 12.07.2017 Vertretung Geyer, Fehners & Partner · München Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.07.2017	12.07.2017 Optische Partikelsysteme und Anordnungen und Optische Partikelkomponenten für Solche Systeme und Anordnungen EP2575144 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektrische Energietechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.09.2004 Erteilt am 12.07.2017 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.07.2017	12.07.2017 Konfokales Mikroskop mit Aperturkorrelation EP3123228 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.03.2015 Erteilt am 12.07.2017 Vertretung Müller, Silke · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.07.2017	05.07.2017 Phasenkontrast-Bildgebung EP3186672 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.08.2015 Anhängig Vertretung Neusser, Sebastian · München Kraus & Weisert Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.05.2017	18.05.2017 Mikroskopierverfahren zur Ermittlung eines Kontrastbildes und Mikroskop WO2017080921 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.11.2016 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.05.2017	10.05.2017 Vorrichtung, die in ein optisches System einbettbar ist, und Verfahren EP2360506 Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.02.2010 Erteilt am 10.05.2017 Vertretung Sticht, Andreas · München Kraus & Weisert Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.04.2017	26.04.2017 Kontrolle von Instrumenten, insbesondere von Elektronenmikroskopen EP1403901 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.07.2003 Erteilt am 26.04.2017 Vertretung Roberts, David Leslie · Cambridge Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.04.2017	19.04.2017 Kombinationsmikroskopie EP2350726 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.10.2009 Erteilt am 19.04.2017 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.04.2017	12.04.2017 Verbesserungen bei und im Zusammenhang mit Strahlenvorrichtungen mit geladenen Teilchen EP2442346 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.10.2011 Erteilt am 12.04.2017 Vertretung Roberts, David Leslie · Cambridge Zusammenfassung In a charged particle beam device, such as an electron microscope, a beam generating means (101) generates a focussed charged particle beam e- that is incident on a specimen (104) in a specimen chamber (102) which holds the specimen in a gaseous environment. A pressure limiting aperture (144) provides partial gaseous isolation of the specimen chamber from the beam generating means, and is located in a lens (114) of the latter. The device includes a conduit, such as an intermediate chamber (132) in the lens, through which, in use, gas is supplied to set up a flow of gas from the region of the lens towards the specimen, thereby to prevent material released from the specimen from impinging on the pressure limiting aperture, to prevent contamination of the latter. The device can be used in a method of scanning a specimen with a charged particle beam, for example in a method of electron microscopy. Alle Patent-Informationen
06.04.2017	06.04.2017 Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens Zweier Spektralbereiche WO2017055405 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.09.2016 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.03.2017	22.03.2017 Verfahren und System zur Datenanalyse zur halbautomatischen Partikelanalyse mit einem geladenen Teilchenstrahl EP2881972 Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.08.2013 Erteilt am 22.03.2017 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.03.2017	22.03.2017 System zur Erkennung von Geladenen Partikeln und Inspektionssystem mit mehreren Teilstrahlen EP2556527 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.03.2011 Erteilt am 22.03.2017 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.03.2017	15.03.2017 Elektronenstrahlgerät und Verfahren zum Betrieb dessen EP2463889 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.01.2004 Erteilt am 15.03.2017 Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.03.2017	08.03.2017 Ionquellen, Systeme und Verfahren EP2416344 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.11.2006 Erteilt am 08.03.2017 Vertretung Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.01.2017	26.01.2017 Hochauflösende, Spektral Selektive Scanning-Mikroskopie einer Probe WO2017013033 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.07.2016 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.01.2017	25.01.2017 Teilchenoptische Systeme und Anordnungen sowie Teilchenoptische Komponenten für Derartige Systeme und Anordnungen EP2622626 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.09.2011 Erteilt am 25.01.2017 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.01.2017	25.01.2017 Vorrichtung zur Spektroskopischen Untersuchung von Proben EP2622323 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.09.2011 Erteilt am 25.01.2017 Vertretung Sticht, Andreas · München Kraus & Weisert Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.01.2017	25.01.2017 Schwenkarmstativ für Digitalmikroskope EP2803895 Maschinenelemente & Fluidtechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.03.2014 Erteilt am 25.01.2017 Vertretung Müller, Silke · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.12.2016	22.12.2016 Verfahren zur Multiliniendetektion WO2016202611 Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.06.2016 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.12.2016	08.12.2016 Verfahren zum Ermitteln einer Ortsaufgelösten Höheninformation einer Probe mit einem Weitfeldmikroskop und Weitfeldmikroskop WO2016193037 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.05.2016 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.11.2016	02.11.2016 Gekühlte geladene Partikelsysteme und -verfahren EP2610888 Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.06.2010 Erteilt am 02.11.2016 Vertretung Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.11.2016	02.11.2016 Verfahren zum Generieren eines Kontrastbildes einer Objektbeschaffenheit und Diesbezügliche Vorrichtungen EP3089105 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.04.2016 Anhängig Vertretung Müller, Silke · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.10.2016	26.10.2016 Messeinrichtung zur optischen und spektroskopischen Untersuchung einer Probe EP1956361 Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.01.2008 Erteilt am 26.10.2016 Vertretung Holst, Sönke · Mannheim Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.10.2016	26.10.2016 Teilchenstrahlgerät und Verfahren zur Anwendung bei einem Teilchenstrahlgerät EP2001038 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.06.2008 Erteilt am 26.10.2016 Vertretung Freischem & Partner Patentanwälte mbB · Köln Patentanwälte Freischem · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.10.2016	05.10.2016 Laser-Scanning-Mikroskop und Verfahren zu seinem Betrieb EP2497412 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.02.2012 Erteilt am 05.10.2016 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.10.2016	05.10.2016 Lichtmikroskop mit Innenfokussierendem Objektiv und Mikroskopieverfahren zum Untersuchen mehrerer Mikroskopischer Objekte EP3074808 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.10.2014 Anhängig Vertretung Ridderbusch, Oliver · München Prisma IP Schiffer, Axel Martin · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.09.2016	28.09.2016 Phasenkontrast-Elektronenmikroskop EP1835523 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.02.2007 Erteilt am 28.09.2016 Vertretung Gnatzig, Klaus · Oberkochen Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.09.2016	15.09.2016 Mikroskop zur Sphärisch Korrigierten Abbildung Dreidimensionaler Objekte WO2016142236 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.03.2016 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.09.2016	14.09.2016 Digitalmikroskop mit Schwenkstativ, Verfahren zur Kalibrierung und Verfahren zur Automatischen Fokus- und Bildmittennachführung für ein Solches Digitalmikroskop EP3066510 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.10.2014 Anhängig Vertretung Müller, Silke · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.08.2016	11.08.2016 Teilchenstrahlsystem und Verfahren zur Teilchenoptischen Untersuchung eines Objekts WO2016124648 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.02.2016 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.07.2016	28.07.2016 Optische Anordnung für ein Laser-Scanner-System WO2016116424 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.01.2016 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.07.2016	27.07.2016 Vorrichtung und Verfahren zur Ausbildung eines Immersionsmittelfilms EP3048466 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.01.2016 Anhängig Vertretung Müller, Silke · Jena Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.07.2016	06.07.2016 Verbesserte Verfahren und Vorrichtungen für die Mikroskopie mit Strukturierter Beleuchtung EP2347294 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.09.2009 Erteilt am 06.07.2016 Vertretung Loritz, Rainer · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.06.2016	29.06.2016 Ionenquellen, Systeme und Verfahren EP2416342 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.11.2006 Erteilt am 29.06.2016 Vertretung Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.06.2016	23.06.2016 Druckreduzierungseinrichtung, Vorrichtung zur Massenspektrometrischen Analyse eines Gases und Reinigungsverfahren WO2016096233 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.11.2015 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.06.2016	22.06.2016 Verfahren zur Analyse einer Probe und geladene Partikelstrahlvorrichtung zur Analyse einer Probe EP2755021 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.01.2013 Erteilt am 22.06.2016 Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung The invention refers to a method and a charged particle beam device (1) for analyzing an object (24) using a charged particle beam interacting with the object (24). The object (24) comprises a sample (15A) embedded in a resin (15B). Interaction radiation in the form of cathodoluminescence light is detected for identifying areas in which the resin (15B) is arranged and in which the sample (15A) is arranged. Interaction particles are detected to identify particles within the resin (15B) and the sample (15A) for further analysis by using EDX analysis. Alle Patent-Informationen
22.06.2016	22.06.2016 Hochauflösende 3D-Fluoreszenzmikroskopie EP3033647 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.07.2014 Anhängig Vertretung Loritz, Rainer · Jena Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.06.2016	15.06.2016 Verfahren zur Analyse Und/oder Verarbeitung eines Objekts sowie Teilchenstrahlvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens EP2988315 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.07.2015 Anhängig Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.06.2016	01.06.2016 Laser-Mikrodissektionsverfahren, Steuersystem für eine Laser-Mikrodissektionsvorrichtung und Trägervorrichtung EP1963815 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.11.2006 Erteilt am 01.06.2016 Vertretung Banzer, Hans-Jörg · München Kraus & Weisert Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.05.2016	26.05.2016 Detektorvorrichtung zur Detektion eines Spektralen Teilbereichs für ein Mikroskop WO2016078925 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.11.2015 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen