FEI Company Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

882

Patente

2000–2026

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
03.06.2015	03.06.2015 Aberrationskorrigierter Wien-ExB-Massenfilter mit Beseitigung von Neutralen aus dem Strahl EP2511935 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.04.2012 Erteilt am 03.06.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.06.2015	03.06.2015 Mikroskopie mit geladenen Teilchen mit erweiterter Elektronendetektion EP2879156 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.12.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.05.2015	20.05.2015 Endpunktbestimmung für Fokussierte Ionenstrahlverarbeitung EP2873088 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.07.2012 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.05.2015	14.05.2015 Sub-pixel analysis and display of fine grained mineral samples WO2015069879 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.11.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.05.2015	13.05.2015 Plasmafokussiertes Ionenstrahlsystem mit mehreren Quellen EP2041756 Metallurgie & Oberflächentechnik Elektrische Energietechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.07.2007 Erteilt am 13.05.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.05.2015	13.05.2015 Beschichteter O-Ring EP2722566 Metallurgie & Oberflächentechnik Maschinenelemente & Fluidtechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.10.2012 Erteilt am 13.05.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.05.2015	06.05.2015 Kontrolle der Drift in einem Strahlsystem geladener Teilchen EP2610889 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.12.2012 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.05.2015	06.05.2015 Differentielle Bildgebung mit Mustererkennung für die Prozessautomatisierung von Querschnittanwendungen EP2869328 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.10.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.05.2015	06.05.2015 Integrierte Lamellenextraktionsstation EP2869053 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.10.2014 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.04.2015	01.04.2015 Verfahren zum Zentrieren eines optischen Elements in einem TEM mit kontrastverstärkendem Element EP2485240 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.02.2012 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung The invention relates to a method for adjusting or aligning one or more optical elements in a Transmission Electron Microscope (TEM), the TEM (500) equipped with an objective lens (512) for guiding a beam of electrons to a sample (508) and the TEM showing a diffraction plane (514) in which at least a beam of unscattered electrons is focused, the TEM equipped with a structure (518,410) to enhance the Contrast Transfer Function (CTF), said structure situated in the diffraction plane or an image thereof, the method comprising adjusting or aligning the optical elements, characterized in that irradiation with unscattered electrons of the structure during said adjusting or aligning is prevented (602) by deflecting the beam of unscattered electrons away from the structure. The structure to enhance the CTF can, for example, be a phase plate, a single side band device, or a 'tulip' (410). In a preferred embodiment of the method the optical element to be aligned is the phase enhancing structure itself. Alle Patent-Informationen
25.03.2015	25.03.2015 Automatisierter Ionenstrahlleerlauf EP2645402 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.03.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.03.2015	04.03.2015 Verfahren zur S/tem-Sample-Erzeugung und Sample-Struktur EP2104864 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.10.2007 Erteilt am 04.03.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.02.2015	25.02.2015 Elektronenstrahlinduziertes Ätzen EP2814050 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.06.2014 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.02.2015	25.02.2015 Verfahren zur Einstellung eines STEMs mit Aberrationskorrektor EP2584585 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.10.2012 Erteilt am 25.02.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung The invention relates to a method for adjusting a C<s> corrector in a STEM using a crystalline sample. The method comprises recording a through-focus series (104), converting the obtained images to Fourier space (106), thus forming a set of images alike diffraction images. By then determining the symmetry of the Fourier images (108), the corrector can be tuned for better symmetry (110), and the transfer limit can be determined by determining the maximum distance of the spots from the centre. By repeatedly performing these steps, the corrector can be tuned to its optimum performance. <img class="EMIRef" id="124949504-iaf01" /> Alle Patent-Informationen
18.02.2015	18.02.2015 Verfahren zur Verwendung eines Environmental-TEMs (Transmissionselektronenmikroskop) EP2838109 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.08.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.02.2015	18.02.2015 Gerät und Verfahren zur Beobachtung von Fehlern in Halbleiterscheiben EP2068160 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.12.2008 Erteilt am 18.02.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.02.2015	18.02.2015 Verfahren zur Verwendung eines Environmental-TEMs (Transmissionselektronenmikroskop) EP2838108 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.08.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.02.2015	04.02.2015 Verwendung von elektrostatischen Objektivlinsen in einem Elektronenmikroskop EP2833390 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.08.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.01.2015	28.01.2015 Mikroskopie mit geladenen Teilchen mit Okklusionsdetektion EP2525386 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.05.2012 Erteilt am 28.01.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.01.2015	21.01.2015 Magnetische Linse zum Fokussieren eines Strahls geladener Teilchen EP2827357 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.07.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.01.2015	21.01.2015 Magnetlinse zur Konzentration eines Strahls aus geladenen Partikeln EP2827356 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.07.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.01.2015	07.01.2015 Reinigung von Ausrichtmarken mit einem Ionenstrahl EP1424723 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.11.2003 Erteilt am 07.01.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.01.2015	07.01.2015 Verfahren zur S/tem-Probenanalyse EP2106555 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.10.2007 Erteilt am 07.01.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.12.2014	31.12.2014 Vorbereitung einer Draufsichtprobe EP2818844 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.06.2014 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.12.2014	17.12.2014 Verbesserte Strahlpositionierung zur Strahlverarbeitung EP2096663 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.02.2009 Erteilt am 17.12.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.12.2014	17.12.2014 Bilden einer Elektronenmikroskopprobe aus hochdruckgefrorenem Material EP2685234 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.07.2013 Erteilt am 17.12.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.12.2014	17.12.2014 Verfahren zur Durchführung von Tomographiebildgebung einer Probe in einem Ladungsträger-Mikroskop EP2738787 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.11.2013 Erteilt am 17.12.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.11.2014	26.11.2014 Verbesserter Detektor für Instrumente mit Geladenem Teilchenstrahl EP2002459 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.03.2007 Erteilt am 26.11.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.11.2014	26.11.2014 Kompaktes Rasterelektronenmikroskop EP2024733 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.06.2007 Erteilt am 26.11.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.11.2014	26.11.2014 Plasmazünder für eine induktiv gekoppelte Plasmaionenquelle EP2362410 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.02.2011 Erteilt am 26.11.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.11.2014	26.11.2014 Verfahren zur Untersuchung und Korrektur von Aberrationen in einem Linsensystem mit geladenen Teilchen EP2704177 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.09.2012 Erteilt am 26.11.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.10.2014	29.10.2014 Verfahren zur Verwendung einer Phasenplatte in einem Transmissionselektronenmikroskop EP2797100 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.04.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.10.2014	15.10.2014 In-Column-Detektor für eine teilchenoptische Säule EP2518755 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.04.2011 Erteilt am 15.10.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.10.2014	15.10.2014 Verfahren zur Herstellung und Abbildung einer Lamelle in einer partikeloptischen Vorrichtung EP2690648 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.07.2012 Erteilt am 15.10.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.09.2014	10.09.2014 Verfahren zum Untersuchen einer Kryoprobe in einem optisches Mikroskop EP2775338 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.03.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.08.2014	20.08.2014 Abbildung einer Probe in einem TEM, das mit einer Phasenplatte ausgerüstet ist EP2704178 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.08.2012 Erteilt am 20.08.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.08.2014	13.08.2014 Au-haltige Schicht erhältlich mittels eines geladenen Teilchenstrahls EP2270254 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.06.2010 Erteilt am 13.08.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.08.2014	13.08.2014 Verfahren für die strahlinduzierte Ablagerung bei kryogenen Temperaturen EP2402477 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.06.2011 Erteilt am 13.08.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.07.2014	23.07.2014 Quelle für geladene Teilchen mit integriertem elektrostatischen Energiefilter EP2453462 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.11.2011 Erteilt am 23.07.2014 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.07.2014	23.07.2014 Glanzwinkelfräse EP2756282 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.09.2012 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen