FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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882 gesamt| Patent | |||
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23.07.2014
Elektronenstrahl-Skizzenätzung mit hoher Selektivität und geringer Schädigung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.07.2014
Achsendetektor für ein System mit geladenem Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.06.2014
Verfahren zum Erfassen von Daten mit einem Bildsensor
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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11.06.2014
Grafische Automatisierte Maschinensteuerung und Metrologie
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 23.08.2002
Erteilt am 11.06.2014
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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04.06.2014
Herstellung von Strukturen mit Hohem Spezifischen Widerstand unter Verwendung Fokussierter Ionenstrahlen
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.06.2014
Detektorsystem zur Verwendung mit Transmissionselektronenmikroskop-Spektroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.06.2014
Signalbasierte Probenherstellung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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04.06.2014
Verfahren zur Durchführung von Tomographiebildgebung einer Probe in einem Ladungsträger-Mikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.05.2014
Verfahren zur Entnahme einer Probe und Anzeigen der erhaltenen Informationen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.05.2014
Verbesserte Kühlung einer elektrischen Spulenstruktur
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.05.2014
Probenzelle mit kontrollierter Umgebung für einen Teilchenoptischen Apparat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.05.2014
Mineralidentifizierung Mithilfe von Mineraldefinitionen mit Kompositorischen Bereichen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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01.05.2014
Mineralienidentifikation durch Sequentielle Zersetzung in Elemente aus Mineraliendefinitionen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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01.05.2014
Mineralidentifizierung anhand von Mineraldefinitionen Einschliesslich Variabilität
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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23.04.2014
Gasunterstützte Laserablation
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 04.08.2010
Erteilt am 23.04.2014
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Pollard, Peter Julian · Veldhoven
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23.04.2014
Ladungsträgerteilchenstrahlbearbeitung mittels einer Cluster-Quelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.04.2014
Kompaktes Rasterelektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.04.2014
Konfigurierbarer Teilchenstrahlapparat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.04.2014
Strahlpuls-Erzeuger zur Verwendung in der Teilchenstrahlmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.04.2014
Verfahren zur Herstellung lokaler Nanostrukturen von hochreinem Material
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.04.2014
Mikroskopiebildgebungsverfahren mit geladenen Teilchen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.03.2014
Induktiv gekoppelte Plasmaionenquelle zur Verwendung mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule mit auswählbaren Ionen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.03.2014
Verfahren zur Durchführung von Tomographiebildgebung einer Probe in einem Mikroskop mit geladenen Teilchen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.03.2014
Messung der Probendicke und Endpunkbestimmung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.03.2014
Verfahren zur Verwendung von stickstoffbasierten Verbindungen bei strahleninduzierter Bearbeitung
Metallurgie & Oberflächentechnik
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05.03.2014
Laserinduzierte Abscheidung auf einer Keimschicht
Metallurgie & Oberflächentechnik
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20.02.2014
Method of performing edx in a charged particle microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.08.2013
Anhängig
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19.02.2014
Verfahren zur Durchführung von EDX in einem Ladungsträger-Mikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.02.2014
Lamellenerzeugungsverfahren und Vorrichtung unter Verwendung eines winkelstabilen Trägers und eines rotierenden Probentischs
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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29.01.2014
Röntgenstrahlspektroskopietechnik mit zusammengeführten Spektraldaten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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22.01.2014
Automatische Scheibenmühle zur Ansicht eines Merkmals
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.01.2014
Mikrokalometrie für die Röntgenstrahlspektroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.01.2014
Bilden einer Elektronenmikroskopprobe aus hochdruckgefrorenem Material
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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08.01.2014
Detektionsverfahren zur Verwendung in der Mikroskopie mit geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A method of investigating a sample using a charged-particle microscope, comprising the steps of: - Providing a charged-particle microscope, having a particle-optical column; - Using the particle-optical column to direct an imaging beam of charged particles at the sample; - Irradiating the sample with the imaging beam, as a result of which a flux ("Photon Flux") of output radiation is caused to emanate from the sample; - Examining at least a portion of said output radiation using a detector, which method comprises the following additional steps: - Embodying said detector to comprise a Solid State Photo-Multiplier (1) that is connected to a power supply providing an adjustable electrical bias ("MPPC Bias"); - Adjusting said bias so as to adjust a gain value ("MPPC Gain") of the Solid State Photo-Multiplier; - Matching said gain value to the magnitude of said flux, so as to cause the Solid State Photo-Multiplier to operate below its saturation threshold. A Solid State Photo-Multiplier is also sometimes referred to as a Silicon Photo-Multiplier (SiPM), on-chip pixelated Avalanche Photodiode array (with shared/common detection circuitry), MPPC®, etc. |
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08.01.2014
Berarbeitung mit einem geladenen Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.01.2014
Umgebungszelle für ein System mit geladenem Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.01.2014
Verfahren und Strukturen zum schnellen Umschalten zwischen unterschiedlichen Prozessgasen in einer induktiv gekoppelten Plasmaionquelle (ICP)
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.01.2014
Verfahren und System zum Herstellen einer mikroskopischen Struktur auf einem Werkstück unter Verwendung einer auf diesem Werkstück geformten Maske
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
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18.12.2013
Mit verbessertem Cc-Korrektor vom Wien-Typ ausgestattete Ladungsteilchenvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.12.2013
Mustermodifikationsschemata für Verbesserte Fib-Musterung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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