FEI Company Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

882

Patente

2000–2026

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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882 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
03.02.2016	03.02.2016 Herstellung einer kryogenen Probe für Ladungsteilchenmikroskopie EP2853847 Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.09.2013 Erteilt am 03.02.2016 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.01.2016	27.01.2016 Korrektor für axiale Aberrationen einer teilchenoptischen Linse EP2325863 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.11.2010 Erteilt am 27.01.2016 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.01.2016	27.01.2016 Gaszufuhr für Strahlenverarbeitungssysteme EP2501839 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.11.2010 Erteilt am 27.01.2016 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.01.2016	20.01.2016 Elektrostatische Linse Durchlässig für von einer Probe Kommende Emissionen EP2975630 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.06.2015 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.01.2016	13.01.2016 Detektorsystem für Transmissionselektronenmikroskop EP2423942 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.08.2011 Erteilt am 13.01.2016 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.01.2016	13.01.2016 Mikroskopie mit geladenen Teilchen mit verbessertem Elektronennachweis EP2879157 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.11.2014 Erteilt am 13.01.2016 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.01.2016	06.01.2016 Computergestützte Rastermikroskopie mit verbesserter Auflösung EP2963672 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.06.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.01.2016	06.01.2016 Abscheidung einer Schutzschicht durch Sputtern mittels eines Strahls geladener Teilchen und Bearbeitung der Schicht mittels eines Strahls geladener Teilchen EP2209047 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.02.2007 Erteilt am 06.01.2016 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.12.2015	30.12.2015 Verfahren und System zur Erzeugung von Symmetrischer Fib-Abscheidung EP2960924 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.06.2015 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.12.2015	30.12.2015 Mischungsmodi für Mineralogiebilder EP2960865 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.06.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.12.2015	23.12.2015 Amplitudenkontrastbildgebung mit Hoher Auflösung EP2956761 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.02.2014 Anhängig Vertretung Winger · Boortmeerbeek DenK iP · Boortmeerbeek Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.12.2015	23.12.2015 Lokalisierte in-Vakuum-Modifizierung kleiner Strukturen EP2570519 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.09.2012 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.12.2015	23.12.2015 Mathematische Bildrekonstruktion in einem Abtastmikroskop EP2958130 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.06.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.12.2015	09.12.2015 Oberflächenentschichtung mit programmiertem Manipulator EP2952872 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.06.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.11.2015	18.11.2015 Wien-ExB-Massenfilter mit großer Blendenöffnung EP2511934 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.04.2012 Erteilt am 18.11.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung An ExB Wien mass filter provides an independently-adjustable electric field combined with the dipole electric field required for mass separation. The independently adjustable electric field can be used to provide a larger optical aperture, to correct astigmatism and to deflect the beam in direction parallel and/or perpendicular to the magnetic field. Alle Patent-Informationen
18.11.2015	18.11.2015 Verbundwerkzeug für die mikroskopische Behandlung von Proben EP1770751 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.09.2006 Erteilt am 18.11.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.11.2015	04.11.2015 Verfahren zur Vorbereitung von Proben für Bildgebung EP2939260 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.12.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.11.2015	04.11.2015 Bezugsmarke für Geneigte oder Glättende Fräsoperationen mittels Ladungsträgerstrahlen EP2939254 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.12.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.10.2015	21.10.2015 TEM-Gitter mit hoher Kapazität EP2933820 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.06.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.10.2015	07.10.2015 Ladungsträger-Mikroskop mit Tiefenauflösungsdarstellung EP2557587 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.08.2012 Erteilt am 07.10.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.09.2015	30.09.2015 Abbildung einer Probe mittels mehrerer Strahlen und einem einzigen Detektor EP2924710 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.03.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.09.2015	30.09.2015 Abbildung einer Probe mit mehreren Strahlen und mehreren Detektoren EP2924708 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.03.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.09.2015	30.09.2015 Abbildung einer Probe mit mehreren Strahlen und mehreren Detektoren EP2924709 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.03.2015 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.09.2015	17.09.2015 Blend modes for mineralogy images WO2015138619 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.03.2015 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.09.2015	09.09.2015 Dreidimensionale Bezugsmarke EP2680296 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.06.2013 Anhängig Vertretung Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.09.2015	09.09.2015 Herstellung einer Lamelle zur korrelativen tomografischen Analyse mit atomarer Auflösung EP2916342 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.05.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.09.2015	02.09.2015 Automatisierte Klassifizierung von Mineralien EP2912443 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.09.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.09.2015	02.09.2015 Verfahren zur Untersuchung einer Probe EP2278307 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.07.2010 Erteilt am 02.09.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.09.2015	02.09.2015 Verfahren und Vorrichtung zum aktiven Überwachen einer induktiv gekoppelten Plasmaionenquelle mit einem optischen Spektrometer EP2642507 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.03.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.08.2015	26.08.2015 Verfahren zur Untersuchung einer Probe in einem Ladungsträger-Mikroskop EP2911180 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.02.2014 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.08.2015	12.08.2015 Verfahren zur Erstellung einer Stammzellenprobe und einer Probenstruktur EP2104946 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.10.2007 Erteilt am 12.08.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.08.2015	12.08.2015 Verfahren und System zur Verringerung des Curtaining-Effekts in einem Probenpräparat aus Geladenen Teilchenstrahlen EP2904632 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.10.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.08.2015	12.08.2015 Verbesserung der Strahlqualität in FIB-Systemen EP2270837 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.06.2010 Erteilt am 12.08.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.07.2015	22.07.2015 Substrat, Verfahren zu dessen Herstellung, und System und Verfahren zur Ex-situ-Analyse des Substrats mittels TEM, STEM, oder SEM EP2711684 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.09.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Janssen, Francis-Paul · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.07.2015	08.07.2015 Zweistrahlsystem EP2256779 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.05.2010 Erteilt am 08.07.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.07.2015	08.07.2015 Zusammenwirkendes Kapillarröhrchen und Verschluss zur Verwendung in einem Hochdrucktiefkühlgerät EP2706342 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.09.2012 Erteilt am 08.07.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.07.2015	01.07.2015 Optische Sondierung in Elektronenmikroskopen EP2419215 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.04.2010 Erteilt am 01.07.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Valea AB · Göteborg Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.06.2015	24.06.2015 Apparat zur Evakuierung von Proben EP1622185 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.06.2005 Erteilt am 24.06.2015 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.06.2015	10.06.2015 Ökologisches Sem-Gasinjektionssystem EP2880675 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.07.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.06.2015	10.06.2015 Verfahren zur Herstellung eines freistehenden Dünnfilms aus nanokristallinem Kohlenstoff EP2881970 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.12.2013 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen