FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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506 gesamt| Patent | |||
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17.05.2023
Zeitgesteuerte Detektion, Zweischichtige Spad-Basierte Elektronendetektion
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.05.2023
Verfahren und Vorrichtungen zur Vorbereitung von Proben für die Kryogene Elektronenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.04.2023
Elektronenstrahlgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.04.2023
Vibrationsfreie Kryogene Kühlung
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.04.2023
System und Verfahren zur Beschleunigten Konvergenz von Iterativer Tomographischer Rekonstruktion
Software & Datenverarbeitung
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19.04.2023
Elektronenoptisches Modul zur Erzeugung eines Ausseraxialen Elektronenstrahls mit Abstimmbarem Koma
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.04.2023
Modulares Ultrahochvakuumelektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.04.2023
Datenerfassung in der Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Software & Datenverarbeitung
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05.04.2023
Schutzblende für ein Mikroskop mit Geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.06.2022
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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05.04.2023
Verfahren und Systeme zur Elementaren Abbildung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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01.02.2023
Verfahren zur Korrektur von Astigmatismus Erster Ordnung und Verzerrung Erster Ordnung in Mehrstrahl-Rasterelektronenmikroskopen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.03.2022
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
An example multi-beam scanning electron microscope (MB-SEM) for correcting both astigmatism and linear distortion at least includes an electron source coupled to provide an electron beam, an aperture plate comprising an array of apertures, the aperture plate arranged to form an array of electron beamlets from the electron beam, and an electron column including a plurality of lenses and first and second stigmators, the electron column coupled to direct the array of electron beamlets toward a sample, wherein the first and second stigmators are arranged and excited to correct both astigmatism and linear distortion. |
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25.01.2023
Elektronenbeugungsholografie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.01.2023
Probenträger zur Verwendung in einem Mikroskop für Geladene Teilchen und Verfahren zur Verwendung eines Solchen Probenträgers in einem Solchen Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.01.2023
System und Verfahren zur Klammerkompensation
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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04.01.2023
Energiespektrometer mit Dynamischem Fokus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.01.2023
Verwaltung Defekter Pixel in der Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.01.2023
Verfahren und System zur Untersuchung von Proben unter Verwendung eines Rastertransmissionsmikroskops für Geladene Teilchen mit Reduzierter Strahlinduzierter Probenschädigung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.06.2021
Anhängig
Vertretung
Pecharová, Petra · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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04.01.2023
Verminderung von Bilddrift in einem Mikroskopiesystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.06.2021
Anhängig
Vertretung
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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28.12.2022
Bereichsauswahl bei der Mikroskopischen Abbildung Geladener Teilchen
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.12.2022
Löschmaterial mit Profiliertem Bereich, Verfahren zu dessen Herstellung und dessen Verwendungen
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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28.12.2022
Ladungsteilchenmikroskopische Abtastmaskierung für Dreidimensionale Rekonstruktion
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.11.2022
Verbesserte Spärliche Bildrekonstruktion aus Benachbarten Tomographischen Kippbildern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.05.2022
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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30.11.2022
Flüssigkeitsformung mit Ladungsteilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.05.2021
Anhängig
Vertretung
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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02.11.2022
Verfahren und Systeme zur Einschlussanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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02.11.2022
Verfahren und Systeme zur Erfassung von 3D-Beugungsdaten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.11.2022
Verfahren und System zur Bestimmung der Molekularen Struktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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05.10.2022
Verfahren und System zur Abbildung einer Probe mit mehreren Säulen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.10.2022
Verfahren und System zur Bestimmung einer Kristallstruktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.03.2022
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Pecharová, Petra · Eindhoven
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05.10.2022
Probenträger zur Verwendung in einem Mikroskop für Geladene Teilchen und Verfahren zur Verwendung eines Solchen Probenträgers in einem Solchen Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.10.2022
Mehrfache Bildsegmentierung Und/oder Mehrfache Dynamische Spektrale Erfassung für Material und Mineralklassifizierung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 31.03.2021
Anhängig
Vertretung
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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28.09.2022
In-Situ-Laser-Wiederablagerungsreduzierung durch Kontrollierte Gasströmung und System zur Reduzierung von Kontaminationen
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.09.2022
Erfassung mit Doppelter Geschwindigkeit für Driftkorrigierte, Schnelle, Dosisarme, Adaptive Bildgebung mit Geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.09.2022
Probenhalter für Elektronenmikroskop
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.09.2022
Mechanisch Stabile Elektronenquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.09.2022
Intelligenter Probenbehälter für Komplexe Probenauswertungsarbeitsabläufe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.09.2022
Verfahren und Systeme zur Erfassung von Elektronenrückstreubeugungsmustern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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20.07.2022
Mikroskopsysteme mit Geladenen Teilchen und Clustering-Verfahren zur Analyse von Proben mit Hohem Dynamikbereich
Software & Datenverarbeitung
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20.07.2022
Verminderung von Thermischem Magnetfeldrauschen in Tem-Korrektursystemen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.07.2022
Beleuchtungsaperturen für Verlängerte Probenlebensdauer in der Helixtomographie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2021
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant LLP · London
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06.07.2022
Parallele Bildsegmentierung und Spektrale Erfassung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.12.2020
Anhängig
Vertretung
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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