FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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882 gesamt| Patent | |||
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08.01.2025
Verbesserte Kryogene Zelle zum Anbringen einer Probe in einem Geladenen Teilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.01.2025
Fokusstapelanwendungen zur Probenvorbereitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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18.12.2024
Techniken zur Erkennung von Sondenlandung in Testsystemen für Integrierte Schaltungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.12.2024
Verfahren und System zur Probenvorbereitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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12.12.2024
Verfahren und System zur Probenvorbereitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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04.12.2024
Verfahren zur Dreidimensionalen Tomographie von Länglichen Proben
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.11.2024
Partikelinduzierte Röntgenstrahlenemission (pixe) unter Verwendung von Wasserstoff und Fokussierten Ionenstrahlen mehrerer Spezies
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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20.11.2024
Objektverfolgung mittels Bildsegmentierung
Software & Datenverarbeitung
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13.11.2024
Verfahren zur Bestätigung einer Ionisationskante in einem Gemessenen Eels-Spektrum und zur Lokalisierung davon
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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13.11.2024
Systeme und Verfahren zur Durchführung von Probenaushebung für Hochreaktive Materialien
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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30.10.2024
Systeme und Verfahren zur Vorausrichtung von Proben zur Effizienteren Verarbeitung mehrerer Proben mit einem System mit Breitem Ionenstrahl (bib)
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.10.2024
System und Verfahren zur Spektrometrie einer Probe in einem Plasma
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.09.2024
Laserphasenplatte mit Fabry-Perot-Faserhohlraum für Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.09.2024
Auf Überwachtem Maschinenlernen Basierende Klassifizierung von Adenoassoziierten Viren in der Kryogenen Elektronenmikroskopie (cryo-Em)
Software & Datenverarbeitung
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28.08.2024
Systeme und Verfahren zur Durchführung von Probenaushebung für Hochreaktive Materialien
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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21.08.2024
Transportvorrichtung und Verfahren zum Transportieren einer Probe zwischen Zwei Vorrichtungen sowie System zur Probenhandhabung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
The invention relates to a transport apparatus for transferring a sample between two devices, for example for transferring an electron microscope (EM) sample. The transport apparatus comprises a transport tube provided with a carrier for holding a sample. The carrier is movable within said transport tube along a length thereof. The transport apparatus further comprises an actuator tube extending substantially next to said transport tube. The actuator tube is provided with an actuator element that is movable within said actuator tube. As disclosed herein, said actuator element comprises a first magnet part, and said sample carrier is provided with a second magnet part, wherein said first magnet part and said second magnet part are provided in such a way that movement of the sample carrier through said transport tube is linked to movement of the magnetic actuator element through the actuator tube. This way, movement of the magnetic actuator causes movement of the sample carrier, allowing safe, reliable and protected transport of the sample between two devices. |
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21.08.2024
Inertgasprobentransfer für Strahlsysteme
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.08.2024
Datentriage in Mikroskopiesystemen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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02.08.2024
Techniques For Reducing Electromagnetic Interference Effects in Charged Particle Microscopy
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.01.2024
Anhängig
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24.07.2024
Verfahren zur Herstellung einer Kryogenen Probe mit Verbesserten Kühleigenschaften
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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17.07.2024
Vorrichtung zum Bewegen von Probenhaltern
Verpackungs- & Fördertechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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10.07.2024
Verbesserte Detektoren für die Mikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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10.07.2024
Verfahren und Rastertransmissionsmikroskop für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.06.2024
Mikroskopvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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26.06.2024
Detektion von Ereignissen Geladener Teilchen bei Hohen Dosisraten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.06.2024
Polstück mit Optischem Resonator für Verbesserten Phasenkontrast in der Elektronenmikroskopbildgebung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.06.2024
Ladungsträgerteilchensensoren mit Materialien mit Breiter Bandlücke
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.06.2024
Laservorrichtung mit Sicherheitsverriegelung und Wissenschaftliches Instrument zur Verwendung damit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.06.2024
Zeitaufgelöste Ladungsträgerteilchenspektroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.06.2024
Verfahren und System zur Komponentenanalyse von Spektraldaten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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12.06.2024
Verfahren zur Bewertung einer Probe mittels Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.12.2022
Anhängig
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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12.06.2024
Einfacher Korrektor der Sphärischen Aberration für Sem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.06.2024
Verfahren zur Mikrobearbeitung einer Biologischen Probe zur Erzeugung einer Lamelle zur Analyse in einem Mikroskop mit Kryogeladenen Partikeln
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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22.05.2024
Ladungsträgerteilchenmikroskop mit Mehrstrahlenabtastübertragung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.05.2024
Verfahren zur Herstellung einer Kryogenen Probe mit Verbesserten Kühleigenschaften
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.05.2024
Verbesserte Transmissionselektronenmikroskopie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.05.2024
Pixelelemente, Teilchenstrahlmikroskope damit und Zugehörige Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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01.05.2024
Verfahren und System zum Bestimmen der Probenzusammensetzung aus Spektraldaten durch Retraining eines Neuronalen Netzes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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24.04.2024
Plasmasteuerung für die Optische Funkenemissionsspektroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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24.04.2024
Elektronenbeugungsholographie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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