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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
06.04.2017
Flow passage module and cell culture apparatus using same
WO2017056142
Pharma & Biotechnologie Maschinenelemente & Fluidtechnik
06.04.2017
Charged particle beam device
WO2017056171
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.04.2017
Automatic analyzing device
WO2017057178
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.04.2017
Artikelförderungssystem und Analytverarbeitungssystem
EP2461165
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.04.2017
Massenspektrometer
EP2378539
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.04.2017
Automatische Analysevorrichtung
EP2891888
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.03.2017
Ion milling device
WO2017051469
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.03.2017
Charged particle beam device and pattern measurement device
WO2017051621
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.03.2017
Information processing device, information processing method, and information processing program
WO2017051864
Medizintechnik & Gesundheit Software & Datenverarbeitung
23.03.2017
Mass Spectrometer
WO2017046849
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.03.2017
Vacuum device
WO2017046886
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen) Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.03.2017
Automated analysis device
WO2017047240
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.03.2017
Inspection device
WO2017042932
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.03.2017
Temperature adjustment apparatus
WO2017043203
Pharma & Biotechnologie Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
16.03.2017
Automated Analyzer
WO2017043192
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.03.2017
Absaug- und Kontrollvorrichtung einer Mehrstufigen Labyrinthdichtung eines im Vakuum Verwendeten Hydrostatischen Lagers
EP1333187
Maschinenelemente & Fluidtechnik
09.03.2017
Circuit inspection method and testpiece inspection apparatus
WO2017038293
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.03.2017
Image processing apparatus for semiconductor pattern image
WO2017038377
Software & Datenverarbeitung
09.03.2017
Automatic analysis device
WO2017038545
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.03.2017
Observation support unit for charged particle microscope and sample observation method using same
WO2017033219
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.03.2017
Optical microscope and electronic microscope
WO2017033654
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
02.03.2017
Charged particle beam device and sample stage alignment adjustment method
WO2017033591
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.03.2017
Automatic analysis device, dispensing method, and liquid surface detection method
WO2017033910
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.02.2017
Ion beam device and method for cleaning gas field ion source
WO2017029742
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.02.2017
Method for measuring pattern height and device for measuring pattern height
WO2017022004
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.02.2017
Defect determining method and x-ray inspection device
WO2017017745
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.02.2017
Dynamic Response Analysis Prober
WO2017018148
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.02.2017
Charged particle beam device
WO2017018432
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2017
Far-infrared spectroscopy device
WO2017013759
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
26.01.2017
Inspection device and inspection method
WO2017013771
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.01.2017
Reaktionsküvette für einen automatischen Analysator und Oberflächenbehandlungsverfahren für eine Reaktionsküvette
EP1994988
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.01.2017
Charged particle beam device
WO2017006408
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.01.2017
Sample height adjustment method and observation system
WO2017002152
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.01.2017
Aberration correction method, aberration correction system, and charged particle beam device
WO2017002243
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.01.2017
Capillary cartridge and electrophoresis device
WO2017002239
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.01.2017
Automatic Analyzer
WO2017002436
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.12.2016
Charged particle beam device and charged particle beam device control method
WO2016199271
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.12.2016
Adsorbent material, and antibody purification apparatus using said absorbent material
WO2016199550
Organische Chemie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.12.2016
Defect image classification device and defect image classification method
WO2016194210
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.12.2016
Etikett zur Ausrichtungserkennung, Trägerstruktur für einen Reagenzbehälter und Analysegerät
EP2173488
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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148
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92
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83
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58
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41
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29

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