Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.840 gesamt| Patent | |||
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19.11.2015
Charged particle beam device and detection method using said device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.04.2015
Anhängig
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19.11.2015
Charged-particle-beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.04.2015
Anhängig
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18.11.2015
Ladungsträgerteilchenstrahlbelichtungs- Verfahren und -Gerät und Verfahren zur Herstellung von Vorrichtungen mittels eines solchen Gerätes
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.07.2004
Erteilt am 18.11.2015
Vertretung
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18.11.2015
Drogennachweisausrüstung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.08.2011
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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12.11.2015
Sample processing method and charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.05.2014
Anhängig
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12.11.2015
Ion milling apparatus and sample processing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.05.2014
Anhängig
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05.11.2015
Electron beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.04.2015
Anhängig
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29.10.2015
Charged particle beam apparatus, and static removal method for same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.03.2015
Anhängig
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29.10.2015
Examination device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.03.2015
Anhängig
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29.10.2015
Measurement system and measurement method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.04.2015
Anhängig
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29.10.2015
Scanning electron microscope and method for controlling same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.04.2015
Anhängig
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28.10.2015
Transmissionselektronenmikroskop mit einem Elektronenspektroskop, Probenhalter, Probentisch und Verfahren zur Aufnahme eines Spektralbildes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.06.2009
Erteilt am 28.10.2015
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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28.10.2015
Probeninjektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.10.2013
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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22.10.2015
Specimen inspection automation system, check module, and sample check method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.03.2015
Anhängig
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22.10.2015
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.04.2015
Anhängig
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22.10.2015
Mass spectrometer and cartridge for use in mass spectrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.04.2015
Anhängig
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22.10.2015
Charged particle beam device and inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.03.2015
Anhängig
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22.10.2015
Defect observation method and device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.03.2015
Anhängig
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21.10.2015
Netzwerk-E/A-System und Netzwerkkonfigurationsverfahren
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 25.05.2010
Erteilt am 21.10.2015
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner · München
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15.10.2015
Inspection device and inspection condition determination method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.03.2015
Anhängig
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15.10.2015
Lithium ion secondary battery, method for manufacturing same and apparatus for manufacturing same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.04.2015
Anhängig
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15.10.2015
Image-processing system, image-processing method, and sem device in which image-processing system is used
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.03.2015
Anhängig
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08.10.2015
Charged particle beam device and spherical aberration correction method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.04.2014
Anhängig
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08.10.2015
Hole formation method and measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.03.2015
Anhängig
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08.10.2015
Analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.03.2015
Anhängig
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08.10.2015
Defect inspection device and inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.01.2015
Anhängig
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08.10.2015
Fluorometric Analyzer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.03.2015
Anhängig
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08.10.2015
Pinch valve and automatic analysis device provided with pinch valve
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.03.2015
Anhängig
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08.10.2015
Cryostation system
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.04.2015
Anhängig
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08.10.2015
Sequence data analyzer, dna analysis system and sequence data analysis method
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 12.03.2015
Anhängig
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01.10.2015
Apparatus for manufacturing power storage device, and method for manufacturing power storage device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.09.2014
Anhängig
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01.10.2015
Sample holder for charged particle beam device, and charged particle beam device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.03.2014
Anhängig
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01.10.2015
Valve state diagnosis system
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 04.02.2015
Anhängig
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30.09.2015
Informationsverarbeitungsvorrichtung, Informationsverarbeitungsverfahren, Informationsverarbeitungssystem und Programm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 27.03.2015
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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17.09.2015
Sample observation method and charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.03.2014
Anhängig
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11.09.2015
Microspectroscopy device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.01.2015
Anhängig
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11.09.2015
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.02.2015
Anhängig
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03.09.2015
Stage device and charged particle ray device using the same
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 07.01.2015
Anhängig
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03.09.2015
Electron scanning microscope and image generation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.02.2015
Anhängig
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02.09.2015
Elektronenmikroskop mit Vorrichtung zur Messung des absorbierten Stroms für die Erzeugung von Bildern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.06.2004
Erteilt am 02.09.2015
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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