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ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

5.380
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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5.380 gesamt
Patent
27.11.2024
Verfahren zur Steuerung eines Produktionssystems und Verfahren zur Thermischen Steuerung Zumindest eines Teils einer Umgebung
EP4466636
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
27.11.2024
Kollektorströmungsring
EP4081863
Optik & Fototechnik
21.11.2024
Heating apparatus
WO2024235526
Optik & Fototechnik
21.11.2024
Substrate Support
WO2024235535
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.11.2024
Method and apparatus for measuring a topography of a surface of an object
WO2024235538
Optik & Fototechnik
21.11.2024
Magnetic levitation positioner assembly for use in a lithographic apparatus, lithographic apparatus with the magnetic levitation positioner assembly and method of manufacturing devices using the lithographic apparatus
WO2024235539
Optik & Fototechnik
21.11.2024
Method of predicting component drift on an exposure apparatus
WO2024235558
Optik & Fototechnik
21.11.2024
Droplet Generator
WO2024235562
Elektronik & Schaltungstechnik
20.11.2024
Tropfenerzeuger
EP4465768
Elektronik & Schaltungstechnik
20.11.2024
System zur Verwendung in einem Lithographischen Apparat
EP4463743
Optik & Fototechnik
14.11.2024
Kompensation der Sammelvariation einer Optischen Abtastvorrichtung für Geladene Teilchen
EP4710358
14.11.2024
Kompensation der Sammelvariation einer Optischen Abtastvorrichtung für Geladene Teilchen
WO2024231004
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.11.2024
Method of performing a qualification action on an exposure apparatus
WO2024231008
Optik & Fototechnik
13.11.2024
Spiegel
EP4462187
Optik & Fototechnik
13.11.2024
Laserstrahlverstärkungssystem
EP4460876
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.11.2024
Euv-Kollektorspiegel
EP4045949
Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik
07.11.2024
Correcting for grid distortion
WO2024227556
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.11.2024
Lithographischer Apparat, Beleuchtungssystem und Verbindungsabdichtungsvorrichtung mit Schutzschild
EP4457567
Verfahrens- & Trenntechnik Maschinenelemente & Fluidtechnik
06.11.2024
Strahlmanipulator in einer Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
EP4457851
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.10.2024
Metrology method and apparatus and computer program background
WO2024223282
Optik & Fototechnik
31.10.2024
Exposure apparatus and metrology measurement system
WO2024223169
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.10.2024
Lithographic apparatus with a fluid handling structure
WO2024223155
Optik & Fototechnik
31.10.2024
Image positioning control method and system
WO2024223142
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Optik & Fototechnik
31.10.2024
Method and system to control the position of an optical element
WO2024223143
Optik & Fototechnik
30.10.2024
Ausrichtungsbestimmungsverfahren und Computerprogramm
EP4453990
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.10.2024
Metrologieverfahren und -Vorrichtung und Computerprogrammhintergrund
EP4455786
Optik & Fototechnik
30.10.2024
Systeme und Verfahren zur Reinigung von Elektronenquellen in Ladungsträgerstrahlsystemen
EP4453989
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.10.2024
Verfahren und Vorrichtung zur Lithographischen Bilderzeugung
EP4453656
Optik & Fototechnik
30.10.2024
Verfahren und System zur Steuerung der Position eines Optischen Elements
EP4455785
Optik & Fototechnik
30.10.2024
Verfahren und System zur Bildpositionierungssteuerung
EP4455784
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Optik & Fototechnik
30.10.2024
Strahlungsquelle
EP3770677
Optik & Fototechnik
30.10.2024
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Überlagerung
EP4453655
Optik & Fototechnik
30.10.2024
Projektionseinheit für einen Pegelsensor, Verfahren zur Überwachung der Höhe eines Substrats und Lithografiesystem mit der Projektionseinheit
EP4453660
Optik & Fototechnik
30.10.2024
Belichtungsvorrichtung und Metrologiemesssystem
EP4455782
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.10.2024
Vakuumsystem
EP4455783
Optik & Fototechnik
24.10.2024
Photonic Crystal Fiber
WO2024217786
Optik & Fototechnik
24.10.2024
Using reinforcement learning to determine optimal alignment for an optical system
WO2024217818
Optik & Fototechnik
24.10.2024
Optical Amplifier
WO2024217855
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.10.2024
Substrate Processing
WO2024217816
Verfahrens- & Trenntechnik Optik & Fototechnik
24.10.2024
Method for evaluating the flatness of a substrate support
WO2024217800
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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