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ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

5.380
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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5.380 gesamt
Patent
22.05.2024
Breitbandstrahlungsquelle
EP4372462
Optik & Fototechnik
22.05.2024
Verfahren zur Herstellung von Photonischen Kristallfasern
EP4371951
Anorganische Chemie & Werkstoffe
22.05.2024
Faserherstellungszwischenprodukt und Verfahren zur Herstellung von Photonischen Kristallfasern
EP4371949
Anorganische Chemie & Werkstoffe
22.05.2024
Objekthalter und Herstellungsverfahren
EP4372467
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.05.2024
Verfahren und Quellenmodul zur Erzeugung Breitbandiger Strahlung
EP4372463
Optik & Fototechnik
16.05.2024
Method and apparatus for inspection focus measurement
WO2024099740
Optik & Fototechnik
16.05.2024
Systems, methods, and software for overlay model building and application
WO2024099686
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
16.05.2024
Alignment method and associated alignment and lithographic apparatuses
WO2024099744
Optik & Fototechnik
16.05.2024
Correcting Scan Data
WO2024099685
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.05.2024
Contamination Control
WO2024099673
Optik & Fototechnik
16.05.2024
Linear motor motion system and method
WO2024099823
Optik & Fototechnik Elektrische Energietechnik
16.05.2024
Methods and systems for cleaning a portion of a lithography apparatus
WO2024099852
Optik & Fototechnik
15.05.2024
Positionsmesssystem, Positionierungssystem, Lithografische Vorrichtung und Vorrichtungsherstellungsverfahren
EP4367557
Optik & Fototechnik
15.05.2024
Verfahren und System zur Anomaliebasierten Defektinspektion
EP4367632
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.05.2024
Bildverzerrungskorrektur bei der Inspektion Geladener Teilchen
EP4367627
Software & Datenverarbeitung
15.05.2024
Verfahren zur Entkopplung von Variationsquellen in der Halbleiterherstellung
EP4367556
Optik & Fototechnik
15.05.2024
Breitbandstrahlungsgenerator mit Hohlkern auf der Basis von Photonischen Kristallfasern
EP3964888
Optik & Fototechnik
10.05.2024
Source optimization for mitigating mask error impact
WO2024094385
Optik & Fototechnik
10.05.2024
Cooling system for a linear actuator
WO2024094386
Optik & Fototechnik Elektrische Energietechnik
10.05.2024
Positioning system and method for positioning a moveable object using a positioning system
WO2024094365
Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
10.05.2024
A coated assembly with a brazed feature and a ceramic cvd coating; and processes of fabricating the same
WO2024094370
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik
08.05.2024
Verfahren zur Herstellung von Photonischen Kristallfasern
EP4363383
Kunststoff- & Polymertechnik Anorganische Chemie & Werkstoffe
02.05.2024
Simulation-assisted methods and software to guide selection of patterns or gauges for lithographic processes
WO2024088666
Optik & Fototechnik
02.05.2024
Compact optical arrangement for a metrology system
WO2024088727
Optik & Fototechnik
02.05.2024
An illumination module for a metrology device
WO2024088708
Optik & Fototechnik
02.05.2024
Training a machine learning model to predict images representative of defects on a substrate
WO2024088665
Optik & Fototechnik
02.05.2024
Failure Mode Identification
WO2024088664
Software & Datenverarbeitung
02.05.2024
Method of tilt metrology and associated apparatuses
WO2024088663
Optik & Fototechnik
01.05.2024
Inspektionswerkzeug, Verfahren und Lithographische Vorrichtung
EP4359866
Optik & Fototechnik
01.05.2024
Detektor zur Detektion von Strahlung, Verfahren zur Detektion von Strahlung, Bewertungssystem
EP4361683
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.05.2024
Inferenzmodelltraining
EP4361726
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
01.05.2024
Verfahren zur Neigungsmetrologie und Zugehörige Vorrichtungen
EP4361727
Optik & Fototechnik
01.05.2024
Fehlermodusidentifikation
EP4361903
Software & Datenverarbeitung
01.05.2024
Beleuchtungsmodul für eine Metrologievorrichtung
EP4361703
Optik & Fototechnik
01.05.2024
Druckgetriebene Hülse für Hochdrucktröpfchengeneratordüse
EP4360408
Elektronik & Schaltungstechnik
01.05.2024
Strukturen zur Verwendung auf einem Substrathalter, Substrathalter, Lithografische Vorrichtung und Verfahren
EP4359867
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.05.2024
Lithographische Vorrichtung, Substrattisch und Herstellungsverfahren
EP4359868
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.04.2024
Method of predicting a parameter of interest in a semiconductor manufacturing process
WO2024083435
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.04.2024
Defect map based d2d alignment of images for machine learning training data preparation
WO2024083437
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
25.04.2024
Method to determine an absolute position of an object, interferometer system, projection system and lithographic apparatus
WO2024083441
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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171
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92
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67
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
60
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55
Anorganische Chemie & Werkstoffe
39
Metallurgie & Oberflächentechnik
35

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