ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336

Patente

2000–2026

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
21.06.2018	21.06.2018 An optical device and associated systems WO2018108440 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2018	21.06.2018 Radiation source apparatus and method, lithographic apparatus and inspection apparatus WO2018108468 Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2018	21.06.2018 Method of measuring a structure, inspection apparatus, lithographic system and device manufacturing method WO2018108507 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2018	21.06.2018 Methods and apparatus for calculating electromagnetic scattering properties of a structure and for reconstruction of approximate structures WO2018108503 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2018	21.06.2018 Method for monitoring a characteristic of illumination from a metrology apparatus WO2018108499 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2018	21.06.2018 Lithographic apparatus and method WO2018108444 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2018	21.06.2018 Method and apparatus for image analysis WO2018108528 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2018	21.06.2018 Method of measuring a property of a substrate, inspection apparatus, lithographic system and device manufacturing method WO2018108527 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.06.2018	20.06.2018 Verfahren zur Messung einer Struktur, Inspektionsvorrichtung, Lithographiesystem und Vorrichtungsherstellungsverfahren EP3336605 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.12.2016 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.06.2018	20.06.2018 Verfahren zur Überwachung der Eigenschaft von Beleuchtung aus einer Metrologievorrichtung EP3336606 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.12.2016 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.06.2018	20.06.2018 Verfahren zur Messung einer Eigenschaft eines Substrats, Inspektionsvorrichtung, Lithografisches System und Vorrichtungsherstellungsverfahren EP3336607 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.12.2016 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.06.2018	20.06.2018 Verfahren und Vorrichtung für Bildanalyse EP3336608 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.12.2016 Anhängig Vertretung Peters, John Antoine · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.06.2018	14.06.2018 Method of measuring a target, metrology apparatus, polarizer assembly WO2018104021 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.06.2018	14.06.2018 Methods and apparatus for predicting performance of a measurement method, measurement method and apparatus WO2018104039 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.06.2018	14.06.2018 Metrology apparatus, lithographic system, and method of measuring a structure WO2018104025 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.06.2018	14.06.2018 Method and apparatus for controlling a computing process WO2018104073 Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.06.2018	13.06.2018 Verfahren zur Messung eines Ziels, Metrologievorrichtung, Polarisatoranordnung EP3333631 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.12.2016 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.06.2018	13.06.2018 Metrologiesystem EP3333632 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.12.2016 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.06.2018	13.06.2018 Verfahren und Vorrichtung zur Vorhersage der Leistung eines Messverfahrens, Messverfahren und Vorrichtung EP3333633 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.12.2016 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.06.2018	13.06.2018 Positionsmesssystem, Interferometer und Lithografische Vorrichtung EP3332292 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.07.2016 Anhängig Vertretung Ras, Michael Adrianus Josephus · Veldhoven ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.06.2018	07.06.2018 A Method To Change an Etch Parameter WO2018099690 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.06.2018	07.06.2018 Method and system for pattern configuration WO2018099716 Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.06.2018	07.06.2018 Model for estimating stochastic variation WO2018099742 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.06.2018	06.06.2018 Effiziente Dunkelstromsubtraktion in einem Bildsensor EP3001670 Nachrichtentechnik & Telekommunikation	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.04.2002 Erteilt am 06.06.2018 Vertretung EP&C · Rijswijk Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.06.2018	06.06.2018 Verfahren zum Wechseln eines Ätzparameters EP3330797 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.12.2016 Anhängig Vertretung Peters, John Antoine · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.05.2018	31.05.2018 Metrology using a plurality of metrology target measurement recipes WO2018095705 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.05.2018	30.05.2018 Auf Diffraktion basierendes Verfahren und System zur Bestimmung von einem Überlagerungsfehler, und entsprechender lithographischer Apparat EP2223186 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.12.2008 Erteilt am 30.05.2018 Vertretung Peters, John Antoine · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.05.2018	30.05.2018 Verfahren zur Herstellung einer Membrananordnung EP3326032 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.07.2016 Anhängig Vertretung Filip, Diana · Veldhoven ASML Netherlands B.V · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.05.2018	24.05.2018 Radiation analysis system WO2018091189 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.10.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.05.2018	23.05.2018 Lithographische Vorrichtung, Flüssigkeitssteuerungsvorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung EP3323021 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.07.2016 Anhängig Vertretung Verhoeven, Johannes Theodorus Maria · Veldhoven Verhoeven, Johannus Theodorus Maria · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.05.2018	17.05.2018 Illumination source for an inspection apparatus, inspection apparatus and inspection method WO2018086816 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.10.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.05.2018	17.05.2018 Method for determining an optimized set of measurement locations for measurement of a parameter of a lithographic process, metrology system and computer program products for implementing such methods WO2018086795 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.09.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.05.2018	17.05.2018 Method of measuring a parameter of a device manufacturing process, and metrology apparatus. WO2018086968 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.10.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.05.2018	17.05.2018 A fuel collector and associated system WO2018086870 Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.10.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.05.2018	17.05.2018 Measurement system, lithographic system, and method of measuring a target WO2018086852 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.10.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.05.2018	17.05.2018 Design and correction using stack difference WO2018087207 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.05.2018	17.05.2018 Compensating For A Physical Effect in an Optical System Technical Field WO2018089177 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.10.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.05.2018	16.05.2018 Sensor, Objektpositionierungssystem, Lithografische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung eines Artikels EP3189377 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.07.2015 Erteilt am 16.05.2018 Vertretung Ketting, Alfred · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.05.2018	16.05.2018 Messsystem, Lithographiesystem und Verfahren zur Messung eines Ziels EP3321736 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.11.2016 Anhängig Vertretung Broeken, Petrus Henricus Johannes · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.05.2018	16.05.2018 Verfahren zur Messung eines Parameters eines Vorrichtungsherstellungsverfahrens, Metrologievorrichtung, Substrat, Ziel, Vorrichtungsherstellungssystem und Vorrichtungsherstellungsverfahren EP3321738 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.11.2016 Anhängig Vertretung Peters, John Antoine · Veldhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen