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ASML Patente

🇳🇱 Niederlande

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.336 gesamt
Patent
16.08.2018
Lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
15.08.2018
Gerät und Verfahren zur Inspektion von Strukturen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
09.08.2018
Method and system for increasing accuracy of pattern positioning
Optik & Fototechnik
09.08.2018
Metrology method, apparatus and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
09.08.2018
Lithographic apparatus, lithographic projection apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
09.08.2018
Metrology method and apparatus and associated computer product
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
08.08.2018
Lasererzeugte Plasma-Euv-Lichtquelle
Medizintechnik & Gesundheit Optik & Fototechnik
08.08.2018
Metrologieverfahren, Vorrichtung und Computerprogramm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
08.08.2018
Verfahren zur Steuerung einer Lithografischen Vorrichtung, Lithografische Vorrichtung und Vorrichtungsherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
02.08.2018
A lithography apparatus and a method of manufacturing a device
Optik & Fototechnik
02.08.2018
Method and apparatus for measuring a structure on a substrate
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
02.08.2018
Methods of tuning process models
Optik & Fototechnik
26.07.2018
Lithographic apparatus and method
Optik & Fototechnik
26.07.2018
Generating predicted data for control or monitoring of a production process
Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
26.07.2018
Knowledge recommendation for defect review
Steuerungs- & Regelungstechnik
26.07.2018
Defect pattern grouping method and system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
26.07.2018
Defect displaying method
Software & Datenverarbeitung
26.07.2018
Cascade Defect Inspection
Software & Datenverarbeitung
25.07.2018
Substrattisch, Lithographievorrichtung, Inspektionsgerät und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
25.07.2018
Erzeugung von Vorhersagedaten zur Regelung oder Überwachung eines Produktionsprozesses
Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
19.07.2018
Reducing Speckle in an Excimer Light Source
Optik & Fototechnik
18.07.2018
Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
18.07.2018
Substrathandhabungssystem und Lithografische Vorrichtung
Optik & Fototechnik
12.07.2018
Reducing an Optical Power Of A Reflected Light Beam
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.07.2018
Guiding device and associated system
Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik
05.07.2018
Methods of determining scattering of radiation by structures of finite thicknesses on a patterning device
Optik & Fototechnik
05.07.2018
Methods of guiding process models and inspection in a manufacturing process
Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
05.07.2018
Lithographic process&apparatus and inspection process and apparatus
Optik & Fototechnik
05.07.2018
Simulation-assisted alignment between metrology image and design
Optik & Fototechnik
04.07.2018
Reflektor für Streifenden Einfall, Lithographiegerät, Verfahren zur Herstellung eines Reflektors für Streifenden Einfall und Verfahren zur Herstellung eines Artikels
Optik & Fototechnik Elektrische Energietechnik
04.07.2018
Lithographische Vorrichtung, Verfahren zur Übertragung eines Substrats und Vorrichtungsherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
04.07.2018
Lithographisches Verfahren und Vorrichtung sowie Prüfverfahren und Vorrichtung
Optik & Fototechnik
28.06.2018
Metrology sensor, lithographic apparatus and method for manufacturing devices
Optik & Fototechnik
28.06.2018
Method and apparatus for pattern fidelity control
Optik & Fototechnik
28.06.2018
Charged particle beam inspection of ungrounded samples
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.06.2018
Niveausensor für ein lithografisches Gerät und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
27.06.2018
Positionskalibrierung von Ausrichtungsköpfen in einem Mehrfach-Kopf-Ausrichtungssystem
Optik & Fototechnik
27.06.2018
Verfahren zum Optimierung eines Lithografischen Verfahrens
Optik & Fototechnik
27.06.2018
Verfahren zur Bestimmung einer Position eines Merkmals
Optik & Fototechnik
21.06.2018
Lithography apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik

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