ASML Patente
🇳🇱 Niederlande
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.336 gesamt| Patent | |||
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16.08.2018
Lithographic apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.01.2018
Anhängig
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15.08.2018
Gerät und Verfahren zur Inspektion von Strukturen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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09.08.2018
Method and system for increasing accuracy of pattern positioning
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.12.2017
Anhängig
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09.08.2018
Metrology method, apparatus and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.01.2018
Anhängig
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09.08.2018
Lithographic apparatus, lithographic projection apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.01.2018
Anhängig
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09.08.2018
Metrology method and apparatus and associated computer product
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.01.2018
Anhängig
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08.08.2018
Lasererzeugte Plasma-Euv-Lichtquelle
Medizintechnik & Gesundheit
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.06.2008
Erteilt am 08.08.2018
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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08.08.2018
Metrologieverfahren, Vorrichtung und Computerprogramm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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08.08.2018
Verfahren zur Steuerung einer Lithografischen Vorrichtung, Lithografische Vorrichtung und Vorrichtungsherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
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02.08.2018
A lithography apparatus and a method of manufacturing a device
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2017
Anhängig
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02.08.2018
Method and apparatus for measuring a structure on a substrate
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.01.2018
Anhängig
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02.08.2018
Methods of tuning process models
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.01.2018
Anhängig
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26.07.2018
Lithographic apparatus and method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.12.2017
Anhängig
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26.07.2018
Generating predicted data for control or monitoring of a production process
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 13.12.2017
Anhängig
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26.07.2018
Knowledge recommendation for defect review
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 15.01.2018
Anhängig
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26.07.2018
Defect pattern grouping method and system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.01.2018
Anhängig
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26.07.2018
Defect displaying method
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 18.01.2018
Anhängig
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26.07.2018
Cascade Defect Inspection
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 18.01.2018
Anhängig
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25.07.2018
Substrattisch, Lithographievorrichtung, Inspektionsgerät und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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25.07.2018
Erzeugung von Vorhersagedaten zur Regelung oder Überwachung eines Produktionsprozesses
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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19.07.2018
Reducing Speckle in an Excimer Light Source
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2017
Anhängig
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18.07.2018
Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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18.07.2018
Substrathandhabungssystem und Lithografische Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.03.2015
Erteilt am 18.07.2018
Vertretung
Ras, Michael Adrianus Josephus · Veldhoven
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12.07.2018
Reducing an Optical Power Of A Reflected Light Beam
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.12.2017
Anhängig
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12.07.2018
Guiding device and associated system
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 05.01.2018
Anhängig
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05.07.2018
Methods of determining scattering of radiation by structures of finite thicknesses on a patterning device
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.12.2017
Anhängig
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05.07.2018
Methods of guiding process models and inspection in a manufacturing process
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 13.12.2017
Anhängig
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05.07.2018
Lithographic process&apparatus and inspection process and apparatus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.11.2017
Anhängig
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05.07.2018
Simulation-assisted alignment between metrology image and design
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.12.2017
Anhängig
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04.07.2018
Reflektor für Streifenden Einfall, Lithographiegerät, Verfahren zur Herstellung eines Reflektors für Streifenden Einfall und Verfahren zur Herstellung eines Artikels
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 18.01.2012
Erteilt am 04.07.2018
Vertretung
Slenders, Petrus Johannes Waltherus · Eindhoven
Slenders, Petrus J. W · Eindhoven
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04.07.2018
Lithographische Vorrichtung, Verfahren zur Übertragung eines Substrats und Vorrichtungsherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
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04.07.2018
Lithographisches Verfahren und Vorrichtung sowie Prüfverfahren und Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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28.06.2018
Metrology sensor, lithographic apparatus and method for manufacturing devices
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.11.2017
Anhängig
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28.06.2018
Method and apparatus for pattern fidelity control
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2017
Anhängig
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28.06.2018
Charged particle beam inspection of ungrounded samples
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2017
Anhängig
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27.06.2018
Niveausensor für ein lithografisches Gerät und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.02.2010
Erteilt am 27.06.2018
Vertretung
van Os, Lodewijk Hubertus · Veldhoven
Raukema, Age · Veldhoven
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27.06.2018
Positionskalibrierung von Ausrichtungsköpfen in einem Mehrfach-Kopf-Ausrichtungssystem
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.07.2010
Erteilt am 27.06.2018
Vertretung
van Os, Lodewijk Hubertus · Veldhoven
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27.06.2018
Verfahren zum Optimierung eines Lithografischen Verfahrens
Optik & Fototechnik
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27.06.2018
Verfahren zur Bestimmung einer Position eines Merkmals
Optik & Fototechnik
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21.06.2018
Lithography apparatus and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.11.2017
Anhängig
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Wer vertritt ASML?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die ASML vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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