FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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882 gesamt| Patent | |||
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11.12.2013
Blockierelement zur Verwendung in einer TEM-Beugungsebene
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.12.2013
Fokussierte Ladungsteilchensäule zum Betrieb mit unterschiedlichen Strahlenenergien an einem Ziel
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.12.2013
Siliziumdriftdetektor zur Verwendung in einer Vorrichtung für geladene Teilchen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.11.2013
Verbesserte Phasenplatte für ein TEM
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.11.2013
Halteranordnung für die Kooperation mit einer Umgebungszelle und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.11.2013
Teilchenoptische Einrichtung und Detektionsmittel
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.09.2003
Erteilt am 06.11.2013
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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06.11.2013
Mikroskopie mit geladenen Teilchen mit Bildaneinanderreihung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.10.2013
Rekonstruktion von Mehrdimensionalen Dynamischen Bilddaten
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 21.12.2011
Anhängig
Vertretung
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30.10.2013
Verfahren und System zur Spektraldatenanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.02.2009
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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23.10.2013
Plasmaquelle für ein Teilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.10.2013
Verfahren zur Analyse eines EDS-Signals
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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09.10.2013
Ladungsträger-Mikroskop mit Tiefenauflösungsdarstellung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.10.2013
Verzerrungsfreie Stigmation eines TEM
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.10.2013
Verfahren zum Schutz eines Strahlungsdetektors in einem Ladungsteilcheninstrument
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.08.2013
Halteranordnung für die Kooperation mit einer Umgebungszelle und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.08.2013
Interner, geschlitzter Faraday-Schild für eine induktiv gekoppelte Plasmaquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.10.2012
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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21.08.2013
Bildverbessernder Anzeige-Modus auswählbarer Bildbereiche für digitale Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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An apparatus to permit a viewer of a digital microscopy original image to manipulate the display and/or the microscope to obtain an enhanced view of a region of interest within the original image. In one preferred embodiment a spotlight mode matches the gray shade scale for a spotlight region-of-interest to the pixel intensity variation present in the spotlight region. The gray shade scale used for the spotlight mode may then be generalized to the original image. In a preferred embodiment, spotlight mode provides an easy mechanism for permitting a user to command a re-imaging of a selected spotlight region from a displayed image. Such re-imaging may permit the use of imaging parameter selections that better fit the spotlight region. |
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14.08.2013
Formen einer Probe aus glasartigem Eis für ein Elektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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31.07.2013
Verfahren zur Vorbereitung einer Biologischen Probe zur Inspektion mittels Elektronenmikroskopie und Fluoreszenzmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.07.2013
Verfahren zum Untersuchen einer ETEM-Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.07.2013
REM-Abbildungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.06.2013
Clustern von multimodalen Daten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.06.2013
Einstellhilfe für Teilchenstrahlmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.06.2013
Koaxiale FIB-SEM-Säule
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.08.2003
Erteilt am 05.06.2013
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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08.05.2013
Mikroskopie mit geladenen Teilchen
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.04.2013
Verfahren zur Bestimmung eines rekonstruierten Bildes mit Hilfe einer partikel-optischen Vorrichtung
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A method for determining a reconstructed image using a particle-optical apparatus is described. The method comprises receiving (60) the plurality of pixel signals, determining (70) a reconstructed image from using Viterbi Detection on the plurality of pixel signals, the Viterbi Detection using a plurality of different states corresponding to a plurality of configurations of particles incident on the detector, and at least two states of the plurality of different states corresponding to a same, non-zero multiplicity of incident particles on a single pixel of the plurality of pixel signals. |
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24.04.2013
Abtastverfahren zum Abtasten einer Probe mit einer Sonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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24.04.2013
Verfahren zur Einstellung eines STEM mit Aberrationskorrektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.04.2013
Abtastverfahren zum Abtasten einer Probe mit einer Sonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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10.04.2013
Verfahren zum Erfassen von Daten mit einem Bildsensor
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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20.03.2013
In-Column-Detektor für eine teilchenoptische Säule
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.03.2013
Hochpräzise Strahlplatzierung zur Navigation in lokalen Bereichen
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.02.2013
Kombinationslaser und System mit Geladenen Partikelstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.02.2013
Verringerung von Rückstreuereignissen in dünnen Elektronendetektoren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.02.2013
Mikroskopiebildgebungsverfahren mit geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.02.2013
Ladungsträger-Mikroskop mit Tiefenauflösungsdarstellung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.02.2013
Detektionssystem für geladene Teilchen mit einer Wandlerelektrode
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.01.2013
Verfahren zur Abtrennung einer kleinen Probe von einem Werkstück
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.01.2013
Siliziumdriftdetektor zur Verwendung in einer Vorrichtung für geladene Teilchen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.11.2012
Benutzerschnittstelle für ein Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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