Nikon Logo

Nikon Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

5.286
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

5.286 gesamt
Patent
12.09.2003
Projection optical system adjustment method, prediction method, evaluation method, adjustment method, exposure method, exposure device, program, and device manufacturing method
WO03075328
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.09.2003
Ausrichtgerät, Ausrichtungsverfahren und Vorrichtungsherstellungsverfahren
EP1341221
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.08.2003
Verfahren zur Bewertung der Abbildungsleistung
EP1338913
Optik & Fototechnik
27.08.2003
Optische Vorrichtung, Belichtungsvorrichtung und deren Herstellungsverfahren
EP1339099
Optik & Fototechnik
21.08.2003
Position measuring method, exposure method, and device producing method
WO03069276
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
21.08.2003
Digital Camera
WO03069903
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
20.08.2003
Katadioptrisches System und Belichtungseinrichtung mit Diesem System
EP1336887
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.08.2003
Poliereinrichtung und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
EP1336988
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.08.2003
Shearing interference measuring method and shearing interferometer, production method of projection optical system, projection optical system, and projection exposure system
WO03067182
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.08.2003
Interference measuring method, interference measuring device, production method for projection optical system, projection optical system, and projection aligner
WO03064966
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.08.2003
Digital Camera
WO03065714
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
06.08.2003
Positionsdetektionsverfahren, Positionsdetektionseinrichtung, Belichtungsverfahren; Belichtungssystem, Steuerprogramm und Bauelementeherstellungsverfahren
EP1333246
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
31.07.2003
Spectroscope
WO03062776
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.07.2003
Stage device and exposure device
WO03063212
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.07.2003
Röntgenstrahlen reflektierende Spiegel mit verminderten thermischen Spannungen und Röntgenstrahloptische Systeme mit diesen Spiegeln
EP1331646
Elektrische Energietechnik
24.07.2003
Digital Camera
WO03061281
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
23.07.2003
Verfahren zur ringförmigen Beleuchtung für Teilchenstrahl-Optik
EP1329937
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.07.2003
Spectroscope
WO03058182
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
16.07.2003
Optisches Element mit optischer Beschichtung und Ultraviolett Belichtungsgerät
EP1172670
Optik & Fototechnik
16.07.2003
Herstellungsverfahren für Filterelemente, Schneideverfahren für Filterelemente, Schneideverfahren für Filterchips und Filterchipherstellungsverfahren
EP1327894
Metallurgie & Oberflächentechnik Optik & Fototechnik
09.07.2003
Haltevorrichtung für Optische Elemente
EP1326114
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.07.2003
Gas purging method and exposure system, and device production method
WO03054936
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.06.2003
Film forming device, and production method for optical member
WO03052468
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.06.2003
Substrate holding apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
WO03052804
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.06.2003
Imaging optical system and projection aligner
WO03052482
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.06.2003
Grind stone and production method for optical element
WO03049903
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
19.06.2003
Diffraction optical device, refraction optical device, illuminating optical device, exposure system and exposure method
WO03050856
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.06.2003
Reflective illuminating optical element, reflective illuminating optical system, and duv to euv exposure device
WO03050857
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.06.2003
Method and device for measuring film layer state, polishing device, and method of manufacturing semiconductor device
WO03049166
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.06.2003
Electronic apparatus, electronic camera, electronic device, image display apparatus, and image transmission system
WO03049424
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
05.06.2003
Projection optical system, exposure device, and exposure method
WO03046634
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.06.2003
Evaluating method and method for manufacturing exposure apparatus
WO03046962
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
04.06.2003
Optisches Relais-Bildsystem und Optische Beleuchtungsvorrichtung und Belichtungssystem mit dem Optischen System
EP1316832
Optik & Fototechnik
15.05.2003
Image compression apparatus, image compression program, and image compression method
WO03041394
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
15.05.2003
Optical element, method of manufacturing the optical element, optical system, exposure device, and method of manufacturing micro device
WO03040785
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.05.2003
Zone plate, measuring method using it, and production method for projection optical system
WO03040650
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.05.2003
Displacement detecting device and lens-barrel
WO03040661
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
15.05.2003
Illumination optical device, exposure device, and exposure method
WO03041134
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.05.2003
Hochleistungsquelle für Elektronenstrahl-Lithographie
EP1310978
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.05.2003
Image accumulation apparatus, image accumulation support apparatus, image accumulation system, image control apparatus, image storage apparatus
WO03039143
Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Wer vertritt Nikon?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Nikon vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

Zum Anmelder-Profil

Technologiefelder

Optik & Fototechnik
3.147
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.606
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
1.016
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
737
Software & Datenverarbeitung
486
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
344
Pharma & Biotechnologie
153
Elektrische Energietechnik
139
Medizintechnik & Gesundheit
138
Kunststoff- & Polymertechnik
120
Anorganische Chemie & Werkstoffe
102
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
93

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen