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Nikon Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

5.286
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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5.286 gesamt
Patent
31.12.2003
Kinematische Linsenhalterung mit Reduzierter Klemmkraft und Lithographie-Gerät
WO2004001478
Optik & Fototechnik
31.12.2003
Soft support to reduce deformation of vertically mounted lens or mirror
WO2004001479
Optik & Fototechnik
31.12.2003
Optical processing system
WO2004001485
Optik & Fototechnik
31.12.2003
Combiner optical system and information display unit
WO2004001484
Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
31.12.2003
Image processing system
WO2004002132
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
31.12.2003
Polishing body, polishing device, semiconductor device, and method of manufacturing semiconductor device
WO2004001829
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.12.2003
Position measurement method, exposure method, exposure device, and device manufacturing method
WO03104746
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
18.12.2003
On-line manual display system
WO03105038
Software & Datenverarbeitung
18.12.2003
Residual film monitoring device, polishing device, method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor device
WO03103898
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.12.2003
Belichtungsapparat und Trägerplattevorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
EP1372037
Optik & Fototechnik
11.12.2003
Method of measuring electric characteristics of flat substrate using terahertz light
WO03102557
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.12.2003
Scanning projection aligner and aligning method
WO03100838
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.12.2003
Image Processing Method, Image Processing Program, Image Processor
WO03101119
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
04.12.2003
Electronic camera and image processing program
WO03101091
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
03.12.2003
Reflektierende Spiegel mit Mehrschichtfilm und optische Systeme mit diesen
EP1367605
Elektrische Energietechnik
26.11.2003
Extrem-Ultraviolett-Erzeugungseinrichtung, Belichtungseinrichtung mit der Erzeugungseinrichtung und Halbleiterherstellungsverfahren
EP1365636
Elektronik & Schaltungstechnik
20.11.2003
Optical filter module and light amplifier using the module
WO03096496
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.11.2003
Spiegelhalterungssystem mit Korrecktur der Formfehler und dessen Verfahren, und dasselbe verwendendes mikrolithographisches System
EP1363165
Optik & Fototechnik
19.11.2003
Bildverarbeitungssystem, Abbildungsvorrichtung und Programm zur Parameterbestimmung
EP1349115
Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation
13.11.2003
Photodetector and exposure system
WO03093905
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
06.11.2003
Exposure system and device manufacturing method
WO03092057
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.11.2003
"optisches Projektionssystem und Herstellungsverfahren Dafür, Belichtungssystem und Herstellungsverfahren dafür und Herstellungsverfahren für ein Mikrobauelement"
EP1359608
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.10.2003
Support apparatus, optical apparatus, light exposure apparatus, and method for producing device
WO03090265
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.10.2003
Binokulares Fernrohr und optische Vorrichtung mit Augenmuschel
EP1116978
Optik & Fototechnik
23.10.2003
Projection optical system, exposure system and exposure method
WO03088330
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.10.2003
"verfahren zur Messung von Bildeigenschaften, Verfahren zur Einstellung von Bildeigenschaften, Belichtungsverfahren und System, Programm und Aufzeichnungsmedium und Bauelementeherstellungs-Verfahren"
EP1355140
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
16.10.2003
Image processing device, image processing program, and image processing method
WO03085989
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
09.10.2003
Waveguide type optical unit and method for detecting position
WO03083551
Optik & Fototechnik
09.10.2003
Fizeau lens, interference measuring device, interference measuring method, method of manufacturing projective optical system, and projective exposure device
WO03083408
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.10.2003
Position detection mark, mark identification method, position detection method, exposure method, and position information detection method
WO03083914
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.10.2003
Exposure device, exposure method, and device manufacturing method
WO03081648
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.10.2003
Lautsprechersysteme
EP1349201
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
25.09.2003
Polishing equipment, and method of manufacturing semiconductor device using the equipment
WO03078103
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.09.2003
Mask storage device, exposure device, and device manufacturing method
WO03079419
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.09.2003
Treatment condition decision method, treatment condition decision system, treatment system, treatment condition decision calculator program, program recording medium, and semiconductor device manufacturing method
WO03078104
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.09.2003
Aligner and device manufacuring method
WO03079418
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2003
Wellenfront-Aberrationsmessinstrument, Wellenfront-Aberrationsmessverfahren, Belichtungsvorrichtung und Verfahren zur Herstellung eines Mikrobauelements
EP1347501
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
18.09.2003
Shape measuring method, interference measuring device, porduction method for projection optical system, and porjectionj aligner
WO03076872
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
18.09.2003
Light amplifying device and method of manufacturing the device, light source device using the light amplifying device, light treatment device using the light source device, and exposure device using the light source device
WO03077383
Medizintechnik & Gesundheit Optik & Fototechnik
12.09.2003
Exposure equipment and device manufacturing method
WO03075327
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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