Shin-Etsu Handotai Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Shin-Etsu-Gruppe, das Siliziumwafer für die Halbleiterindustrie herstellt.

1.022

Patente

2000–2024

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.022 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
01.11.2012	01.11.2012 Semiconductor wafer and method for manufacturing same WO2012147279 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.04.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.10.2012	26.10.2012 Method for resuming operation of wire saw and wire saw WO2012144136 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.04.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.10.2012	18.10.2012 Double-head grinding method and double-head grinding apparatus WO2012140842 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.04.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.10.2012	18.10.2012 Quartz glass crucible, method for producing same, and method for producing silicon single crystal WO2012140816 Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.02.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.10.2012	17.10.2012 Herstellungsmethode von Halbleiterscheiben EP1195798 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.04.2001 Erteilt am 17.10.2012 Vertretung Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München Grünecker, Kinkeldey, Stockmair & Schwanhäusser · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.09.2012	19.09.2012 System zur Herstellung von Siliciumeinkristallen und Verfahren zur Herstellung von Siliciumeinkristallen unter Verwendung des Systems EP2039811 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.05.2007 Erteilt am 19.09.2012 Vertretung Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.09.2012	13.09.2012 Process for producing silicon wafer WO2012120785 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.02.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.09.2012	13.09.2012 Susceptor and method for producing epitaxial wafer using same WO2012120787 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.02.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.09.2012	13.09.2012 Compound semiconductor substrate, method for producing compound semiconductor substrate, and light-emitting element WO2012120798 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.02.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.09.2012	13.09.2012 Silicon Single Crystal Wafer WO2012120789 Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.02.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.09.2012	12.09.2012 Verfahren zur Herstellung von Siliciumeinkristall EP1746186 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.03.2005 Erteilt am 12.09.2012 Vertretung Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.08.2012	30.08.2012 Method of manufacturing silicon substrate and silicon substrate WO2012114659 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.02.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.08.2012	16.08.2012 Single crystal production apparatus and single crystal production method WO2012108116 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.01.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.08.2012	15.08.2012 Soi-Wafer und Herstellungsverfahren dafür EP1589580 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.01.2004 Erteilt am 15.08.2012 Vertretung Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Cooper, John · Glasgow Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.08.2012	02.08.2012 Method for manufacturing silicon epitaxial wafer WO2012101968 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.01.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.08.2012	02.08.2012 Silicon single-crystal wafer production method, and annealed wafer WO2012101957 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.01.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.07.2012	26.07.2012 Single crystal manufacturing device and single crystal manufacturing method WO2012098826 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.01.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.07.2012	26.07.2012 Bonded substrate and method for producing same WO2012098825 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.01.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.07.2012	26.07.2012 Method for measurement of temperature of melt, radiation thermometer, and process for production of silicon single crystals WO2012098824 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.01.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.07.2012	05.07.2012 Light-Emitting Element WO2012090400 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.12.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.06.2012	28.06.2012 Polishing method, polishing apparatus, and polishing cloth WO2012086129 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.11.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.06.2012	27.06.2012 Bond-Wafer-Herstellungsverfahren und Vorrichting zum Schleifen des Äusseren Rands eines Bond-Wafers EP1887613 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.05.2006 Erteilt am 27.06.2012 Vertretung Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2012	21.06.2012 Method for manufacturing bonded soi wafer WO2012081164 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.11.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2012	21.06.2012 Semiconductor wafer cleaning method WO2012081161 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.11.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.06.2012	14.06.2012 Heat insulating cylinder, method for manufacturing heat insulating cylinder, and apparatus for manufacturing single crystal WO2012077279 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.11.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.06.2012	13.06.2012 Doppelscheiben-Schleifmaschine, Polster mit Statischem Druck und Verfahren zum Doppelscheibenschleifen mit einem Solchen Polster für einen Halbleiterwafer EP1959483 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.11.2006 Erteilt am 13.06.2012 Vertretung Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.06.2012	07.06.2012 Ingot cutting method WO2012073428 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.10.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.05.2012	24.05.2012 Susceptor and method of manufacturing epitaxial wafer WO2012066752 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.11.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.05.2012	23.05.2012 Verfahren zum Herstellen eines Halbleitersubstrats EP2045836 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.07.2007 Erteilt am 23.05.2012 Vertretung Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.05.2012	10.05.2012 Quartz glass crucible, method for producing same, and method for producing monocrystalline silicon WO2012060050 Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.09.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.05.2012	02.05.2012 Verfahren zur Herstellung eines Selbsttragenden Nitridhalbleitersubstrats EP2119815 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.12.2007 Erteilt am 02.05.2012 Vertretung Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.03.2012	21.03.2012 Siliziumeinkristallwafer für Epitaktischen Wafer, Epitaktischer Wafer und Verfahren zu dessen Herstellung EP1143045 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.10.2000 Erteilt am 21.03.2012 Vertretung Cooper, John · Glasgow Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.03.2012	21.03.2012 Reinigungsverfahren für ein Mehrschichtiges Substrat, Substratbondierverfahren und Herstellungsverfahren für Bondierte Wafer EP1667214 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.09.2004 Erteilt am 21.03.2012 Vertretung McBride, Peter Hill · Glasgow Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.03.2012	07.03.2012 Verfahren zur Inspektion eines Soi-Wafers EP2426717 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.04.2010 Anhängig Vertretung Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.03.2012	07.03.2012 Silizium-auf-Isolator Scheibe und deren Herstellungsverfahren EP2413352 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.03.2000 Anhängig Vertretung Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.03.2012	01.03.2012 Apparatus and method for manufacturing semiconductor single crystal WO2012026062 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.02.2012	22.02.2012 Anneal-Wafer, Verfahren zur Herstellung des Anneal-Wafers und Geräteherstellungsverfahren EP2421029 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.03.2010 Anhängig Vertretung Wibbelmann, Jobst · München Wuesthoff & Wuesthoff Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.01.2012	19.01.2012 Method of manufacturing silicon substrate, and silicon substrate WO2012008087 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.12.2011	22.12.2011 Methods for measuring and controlling distance between lower end surface of heat-blocking member and surface of starting material melt, and method for manufacturing silicon single crystal WO2011158425 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.04.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.12.2011	14.12.2011 Herstellungsverfahren eines Silizium-Wafers und eines Silizium-Epitaxial-Wafers EP1326270 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.09.2001 Erteilt am 14.12.2011 Vertretung Cooper, John · Glasgow Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen