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Sumco Patente

🇯🇵 Japan

Sumco ist ein japanischer Hersteller von Siliziumwafern für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Metallurgie- und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

658
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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658 gesamt
Patent
01.07.2021
Defect inspection method for silicon wafer and defect inspection system for silicon wafer
WO2021131207
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.07.2021
Quartz glass crucible and method for producing same
WO2021131321
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
01.07.2021
Method for delivering semiconductor wafer to polishing device, and method for manufacturing semiconductor wafer
WO2021131243
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.06.2021
System and method for producing single crystal
WO2021124708
Metallurgie & Oberflächentechnik
24.06.2021
Polishing pad press-attaching tool and press-attaching method for polishing pad
WO2021124659
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.06.2021
Method for producing epitaxial silicon wafer
WO2021124693
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.06.2021
Vapor phase growth apparatus and vapor phase growth method
WO2021124756
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.06.2021
Wafer manufacturing system
WO2021117351
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.05.2021
Wafer polishing method and silicon wafer
WO2021100393
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.05.2021
Method for calibrating coordinate position identification precision of laser surface inspection device, and semiconductor wafer evaluation method
WO2021090624
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
06.05.2021
Point defect simulator, point defect simulation program, point defect simulation method, method for manufacturing silicon single crystal, and single crystal pulling device
WO2021084843
Metallurgie & Oberflächentechnik
01.04.2021
Workpiece double-face polishing method
WO2021059790
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.03.2021
Gruppe-Iii-Nitrid-Halbleitersubstrat und Herstellungsverfahren dafür
EP3799110
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.03.2021
Silicon single crystal growing method and silicon single crystal pulling device
WO2021044855
Metallurgie & Oberflächentechnik
11.02.2021
Method for printing laser mark, and method for manufacturing silicon wafer with laser mark
WO2021024674
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.12.2020
Epitaxial growth device and method for manufacturing epitaxial wafer
WO2020261789
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.12.2020
Semiconductor wafer thickness measurement method and semiconductor wafer thickness measurement system
WO2020261745
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.12.2020
Method for measuring thickness of semiconductor wafer, and system for measuring thickness of semiconductor wafer
WO2020261859
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.12.2020
Semiconductor wafer thickness measurement method and semiconductor wafer thickness measurement system
WO2020261860
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.12.2020
Deposit removing device and deposit removing method
WO2020255674
Metallurgie & Oberflächentechnik
25.11.2020
Verfahren zur Herstellung eines Gebundenen Wafers und Gebundener Wafer
EP3742473
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.11.2020
Halbleitersubstrat, Halbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung eines Halbleitersubstrats
EP2413348
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.11.2020
Verfahren zur Einschätzung, Ob ein Halbleiterwafer ein nicht Defekter Wafer Ist, durch Verwendung des Laserstreuungsverfahrens
EP3290910
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.10.2020
Verfahren zur Herstellung eines Gruppe-Iii-Nitrid-Halbleitersubstrats
EP3731260
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.10.2020
Vapor phase growth method and vapor phase growth apparatus
WO2020213236
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.10.2020
Vapor phase growth method and vapor phase growth apparatus
WO2020213237
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.10.2020
Vapor phase growth apparatus and carrier used therein
WO2020208923
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.10.2020
Polishing head, polishing apparatus, and method for manufacturing semiconductor wafer
WO2020202682
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.10.2020
Double-sided polishing method for workpiece and double-sided polishing device for workpiece
WO2020194971
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.09.2020
Method for controlling convection pattern of silicon melt and method for producing silicon single crystal
WO2020174598
Metallurgie & Oberflächentechnik
27.08.2020
Semiconductor epitaxial wafer and method for manufacturing same
WO2020170875
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.07.2020
Device and method for producing silica glass crucible
WO2020145378
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
15.07.2020
Quarzglastiegel und Dehnungsmessvorrichtung dafür
EP3088573
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
02.07.2020
Silicon epitaxial wafer production method and silicon epitaxial wafer
WO2020136972
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik
02.07.2020
Pretreatment condition determination method for heat treatment furnace, pretreatment method for heat treatment furnace, heat treatment device, and production method and production device for heat-treated semiconductor wafer
WO2020137441
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.07.2020
Vapor deposition device and method for manufacturing epitaxial silicon wafer
WO2020137021
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.07.2020
Silicon epitaxial wafer production method and silicon epitaxial wafer
WO2020136973
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik
02.07.2020
Quartz glass crucible, method for producing silicon single crystal using same, method for measuring infrared transmittance of quartz glass crucible, and method for manufacturing quartz glass crucible
WO2020137648
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
02.07.2020
Vapor phase growth device
WO2020137170
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.07.2020
Polycrystalline diamond free-standing substrate, and method for manufacturing same
WO2020137052
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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Technologiefelder

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304
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Anorganische Chemie & Werkstoffe
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Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
8
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6
Verpackungs- & Fördertechnik
4
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
4
Optik & Fototechnik
3
Elektronik & Schaltungstechnik
3
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