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Sumco Patente

🇯🇵 Japan

Sumco ist ein japanischer Hersteller von Siliziumwafern für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Metallurgie- und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

658
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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658 gesamt
Patent
31.12.2025
Herstellungsverfahren für Gruppe-Iii-Nitrid-Halbleitersubstrat und Gruppe-Iii-Nitrid-Halbleitersubstrat
EP4665121
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.12.2025
Verfahren zur Herstellung eines Gruppe-Iii-Nitrid-Halbleitersubstrats
EP3376525
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.12.2025
Halbleiterprobenbewertungsverfahren, Halbleiterprobenbewertungsvorrichtung und Halbleiterwaferherstellungsverfahren
EP4672307
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.12.2025
Wafer appearance inspection device and wafer appearance inspection method
WO2025258312
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.10.2025
Semiconductor wafer evaluation method and semiconductor wafer production method
WO2025203886
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2025
Verfahren zur Herstellung einer Probenfläche, Verfahren zur Analyse einer Probenfläche, Sonde für Spannungsfeldassistierte Oxidation und Rastersondenmikroskop damit
EP3480578
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.08.2025
Notch formation position determination method, notch formation method, wafer manufacturing method, notch formation position determination device, notch formation device, and wafer manufacturing system
WO2025173322
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik
02.07.2025
Verfahren zur Herstellung eines Diamantlaminierten Siliziumwafers und Diamantlaminierter Siliziumwafer
EP3656896
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.07.2025
Zylindrische Schleifvorrichtung, Zylindrisches Schleifverfahren und Waferherstellungsverfahren
EP4579717
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.06.2025
Method for manufacturing carrier plate for double-side polishing device, double-side polishing method for workpiece, and carrier plate for double-side polishing device
WO2025134503
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.06.2025
Single crystal manufacturing method
WO2025134715
Metallurgie & Oberflächentechnik
19.06.2025
Dopant addition device, dopant addition method, and method for producing silicon single crystal
WO2025126622
Metallurgie & Oberflächentechnik
08.05.2025
Epitaxial silicon wafer and method for manufacturing same
WO2025094485
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.05.2025
Polishing device and polishing method for workpiece
WO2025094443
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.05.2025
Silicon wafer polishing method
WO2025088991
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.04.2025
Chamfering device, chamfering method, and manufacturing method for single crystal silicon block
WO2025083933
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
24.04.2025
Epitaxial growth device and method for manufacturing epitaxial wafer
WO2025083953
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.04.2025
Solid-liquid interface shape estimation method, solid-liquid interface shape estimation device, solid-liquid interface shape estimation program, and method of manufacturing silicon single crystal
WO2025083934
Metallurgie & Oberflächentechnik
10.04.2025
Filter cleaning method
WO2025074957
Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.03.2025
Silicon single crystal production method and silicon single crystal production device
WO2025057620
Metallurgie & Oberflächentechnik
06.03.2025
Method for determining conditions for formation of oxide film, method for forming oxide film, and method for producing wafer
WO2025046976
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.03.2025
Method for measuring amount of change in height of silicon raw material, and silicon single crystal production method and silicon single crystal production device using same
WO2025046999
Metallurgie & Oberflächentechnik
13.02.2025
Silicon wafer and production method for same
WO2025033083
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.12.2024
Defect detection device, defect detection method, and program
WO2024252796
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.12.2024
Appearance inspection device and appearance inspection method
WO2024247521
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.12.2024
Method for cleaning silicon wafer, method for producing silicon wafer, and silicon wafer
WO2024247327
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.11.2024
Semiconductor wafer cleaning method
WO2024241620
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.10.2024
Silicon single crystal manufacturing method, and silicon single crystal manufacturing apparatus
WO2024224694
Metallurgie & Oberflächentechnik
23.10.2024
Induktionsheizspule und Vorrichtung zur Herstellung von Einkristallen damit
EP4450683
Metallurgie & Oberflächentechnik Elektronik & Schaltungstechnik
10.10.2024
Silicon single crystal production method and silicon single crystal production apparatus
WO2024209753
Metallurgie & Oberflächentechnik Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
03.10.2024
Epitaxial silicon wafer and manufacturing method therefor
WO2024202965
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.09.2024
Method for determining semiconductor wafer-cleaning condition, and method for cleaning semiconductor wafer
WO2024190385
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.09.2024
Verfahren zur Beurteilung einer Halbleiterprobe, Vorrichtung zur Beurteilung einer Halbleiterprobe und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterwafers
EP4432334
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.08.2024
Epitaxial silicon wafer, method for producing same, and method for producing semiconductor device
WO2024176711
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.08.2024
Method for cleaning semiconductor wafer, method for producing semiconductor wafer, and semiconductor wafer
WO2024176581
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.07.2024
Quartz glass crucible and method for producing silicon single crystal using same
WO2024150500
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
04.07.2024
Semiconductor wafer processing device
WO2024142563
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.06.2024
Semiconductor production apparatus, semiconductor production plant, and semiconductor production method
WO2024135055
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.06.2024
One-side polishing apparatus for workpiece, method for one-side polishing of workpiece, and method for manufacturing silicon wafers
WO2024116448
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.06.2024
Pulling-up apparatus control method, control program, control apparatus, singly crystal silicon ingot production method, and singly crystal silicon ingot
WO2024116476
Metallurgie & Oberflächentechnik

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