FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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506 gesamt| Patent | |||
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05.09.2018
Aberrationsmessung in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.08.2018
Navigation und Probenbearbeitung unter Verwendung einer Ionenquelle mit Sowohl Massearmen als Auch Massereichen Spezies
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.08.2011
Erteilt am 22.08.2018
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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22.08.2018
Emissionsrauschkorrektur einer Quelle für Geladene Partikel
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.07.2018
Verkapselung von Elektroden in Festen Medien zur Verwendung in Verbindung mit einer Hochspannungsisolierung durch eine Flüssigkeit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 21.06.2012
Erteilt am 25.07.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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04.07.2018
Beschleunigungssäule für Verteilte Ionenquellen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.09.2010
Erteilt am 04.07.2018
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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04.07.2018
Niedrigspannungsverbesserung von fokussiertem Ionenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.02.2014
Erteilt am 04.07.2018
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Stellbrink & Partner Patentanwälte mbB · München
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20.06.2018
Automatisierte Probenherstellung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.04.2012
Erteilt am 20.06.2018
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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20.06.2018
Mehrdimensionaler Struktureller Zugriff
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.10.2013
Erteilt am 20.06.2018
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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06.06.2018
Mikrokammer zur Untersuchung von Probenmaterial
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.07.2015
Erteilt am 06.06.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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06.06.2018
Segmentierter Detektor für Vorrichtung mit Geladenem Teilchenstrahl
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.07.2016
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Boult Wade Tennant · London
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30.05.2018
Clusteranalyse von Unbekannten Elementen in einem Sem-Eds-Datensatz
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.06.2013
Erteilt am 30.05.2018
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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11.04.2018
Verfahren zum schnellen Schalten zwischen einem Hochstrommodus und einem Niederstrommodus in einem System mit geladenem Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.02.2012
Erteilt am 11.04.2018
Vertretung
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28.03.2018
Untersuchung des Dynamischen Probenverhaltens in einem Teilchenstrahl-Mikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.02.2016
Erteilt am 28.03.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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21.02.2018
Mit einem Plasmareiniger Verwendeter Magnet
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.08.2016
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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24.01.2018
Halteranordnung zum Zusammenwirken mit einem Nanoreaktor und einem Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.01.2016
Erteilt am 24.01.2018
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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17.01.2018
Verfahren zur Abbildung einer Probe mit Ptychographie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.07.2016
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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27.12.2017
Verfahren zum Abbilden einer Probe mit einem Strahl Geladener Teilchen unter Verwendung eines Abbildungsgases
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.05.2016
Erteilt am 27.12.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Zusammenfassung
Charged particle beam imaging and measurement systems are provided using gas amplification with an improved imaging gas. The system includes a charged particle beam source for directing a charged particle beam to work piece, a focusing lens for focusing the charged particles onto the work piece, and an electrode for accelerating secondary electrons generated from the work piece irradiation by the charged practice beam, or another gas cascade detection scheme. The gas imaging is performed in a high pressure scanning electron microscope (HPSEM) chamber for enclosing the improved imaging gas including CH 3 CH 2 OH (ethanol) vapor. The electrode accelerates the secondary electrons though the CH 3 CH 2 OH to ionize the CH 3 CH 2 OH through ionization cascade to amplify the number of secondary electrons for detection. An optimal configuration is provided for use of the improved imaging gas, and techniques are provided to conduct imaging studies of organic liquids and solvents, and other CH 3 CH 2 OH-based processes. |
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20.12.2017
Nachsäulenfilter mit Verbessertem Energiebereich
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2015
Erteilt am 20.12.2017
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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13.12.2017
Kathodolumineszenzdetektor zur Verwendung in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.06.2016
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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13.12.2017
Verfahren zur Abbildung eines Merkmals mit einem Rastersondenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2016
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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22.11.2017
Verfahren zur Herstellung einer Mikroskopischen Struktur mittels eines Fokussierten Ionenstrahls
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.01.2014
Erteilt am 22.11.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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22.11.2017
Adaptive Abtastung zur Messung der Partikelgrösse unter Verwendung von Ausgerichteter Strahlsignalanalyse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.04.2016
Erteilt am 22.11.2017
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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15.11.2017
Dynamische Erzeugung von Backup-Referenzmarken
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.07.2015
Erteilt am 15.11.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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11.10.2017
Probenspezifische Referenzspektrenbibliothek
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2016
Erteilt am 11.10.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Zusammenfassung
A method and apparatus are provided for identifying a material with a sample-specific reference spectral list or library. A sequential approach to SEM-EDS automated mineralogy classification is carried out by performing two or more material classification analyses. A pre-classification step restricts the processing of spectra deconvolution algorithms to a subset of spectra that pass a dominant mineral criteria resulting in a significantly reduced subset of reference spectra that occur within the measured sample in pure enough form at a given minimum quantity. The following complex classification stages involving deconvolution of multiple constituents within measured spectra is based on this sample relevant subset. Fig. 7 |
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27.09.2017
Verfahren zur Detektion von Teilchenstrahlung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.03.2016
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Zusammenfassung
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06.09.2017
Verfahren für Automatisierte Mineralogie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.12.2013
Erteilt am 06.09.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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09.08.2017
Probenblockhalter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.10.2012
Erteilt am 09.08.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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09.08.2017
Mathematische Bildanordnung in einem Abtastmikroskop
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.06.2015
Erteilt am 09.08.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Zusammenfassung
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26.07.2017
Teilchenstrahlensäule mit integriertem Bremsfeldanalysiergerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.10.2013
Erteilt am 26.07.2017
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Zusammenfassung
A retarding field analyzer uses the existing components of a charged particle beam system eliminating the need for inserting a separate retarding field analyzer device. In a method of analyzing the energy of a charged particle beam, a retarding field through which the beam (114) passes is provided by applying a voltage to the element (116B) of the electrostatic focusing lens (116) retarding the beam, and the retarding field is incrementally increased by incrementally changing this voltage to alter the number of charged particles that pass through the electrostatic lens. Using components of the existing column reduces the time required to analyze the beam. Using the imaging capabilities of the existing column facilitates alignment of the beam with the analyzer. |
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26.07.2017
Verfahren zum Autoschneiden und Ansichtshinterschnitt
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.09.2015
Erteilt am 26.07.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Zusammenfassung
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19.07.2017
Verfahren und Raster-Transmissionsmikroskop zur Tomografischen Bildgebung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.04.2015
Erteilt am 19.07.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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14.06.2017
Stabile, Kalte Feldemissionselektronenquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.02.2012
Erteilt am 14.06.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Zusammenfassung
A cold field emission (CFE) electron source for a focused electron beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), or scanning electron microscope (SEM) is disclosed which substantially improves both source emission stability and frequency noise characteristics. The source employs an emitter enclosure electrode (552) behind the CFE tip (503) which, in conjunction with the extractor electrode (508), defines a closed volume that can be thoroughly cleaned by electron impact desorption (EID) and radiative heating from a heated filament (530) located between the emitter enclosure electrode and extractor electrode. |
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31.05.2017
Verfahren zur übereinstimmenden Ausrichtung eines Laserstrahls und eines Ladungsträgerstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.09.2013
Erteilt am 31.05.2017
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Zusammenfassung
A method and apparatus for aligning a laser beam (216) coincident with a charged particle beam (350). The invention described provides a method for aligning the laser beam through the center of an objective lens (214) and ultimately targeting the eucentric point of a multi-beam system (300). The apparatus takes advantage of components of the laser beam alignment system being positioned within and outside of the vacuum chamber (360) of the charged particle system. |
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31.05.2017
Verfahren zur Verwendung einer Phasenplatte in einem Transmissionselektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.04.2014
Erteilt am 31.05.2017
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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31.05.2017
Filteranordnung zur Trennung von Sekundär- und Rückstreuelektronen in einem Nicht-Transmissiven Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.11.2015
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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17.05.2017
Systeme und Verfahren für Abbildungsvorrichtungsschnittstellen
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 10.11.2015
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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11.05.2017
Waveform mapping and gated laser voltage imaging
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.11.2016
Anhängig
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03.05.2017
Ladungsträgerteilchenmikroskop mit Schwingungserfassung/korrektur
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2015
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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26.04.2017
Verfahren zur Spektroskopiedurchführung in einem Ladungsträger-Transmissionsmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.04.2017
Adaptive Steuerung zur Verarbeitung eines Geladenen Teilchenstrahls
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 20.10.2015
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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