Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840

Patente

2001–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

3.840 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
23.02.2012	23.02.2012 Electron beam apparatus WO2012023354 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.02.2012	16.02.2012 Light imprinting method and device WO2012020741 Kunststoff- & Polymertechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.08.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.02.2012	15.02.2012 Massenspektrometrie und Ionenfallenmassenspektrometer EP1463090 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.11.2001 Erteilt am 15.02.2012 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.02.2012	15.02.2012 Autoanalysegerät EP2418494 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.04.2010 Anhängig Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.02.2012	09.02.2012 Gas field ionization ion source and method for using same, ion beam device, and emitter chip and method for manufacturing same WO2012017789 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.02.2012	09.02.2012 Light quantity detection method and device therefor WO2012017762 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.02.2012	09.02.2012 Defect inspection method and device using same WO2012017761 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Pattern dimension measurement method using electron microscope, pattern dimension measurement system, and method for monitoring changes in electron microscope equipment over time WO2012014356 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Fault inspection device and fault inspection method WO2012014358 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Method and device for inspecting for defects WO2012014357 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Charged particle beam device WO2012014373 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Dispenser and nucleic acid analyzer WO2012014388 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Device for setting image acquisition conditions, and computer program WO2012014363 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Charged particle beam device WO2012014362 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Charged particle beam emitting device WO2012014370 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Far infrared imaging device and imaging method using same WO2012014727 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Specimen testing device and method for creating absorbed current image WO2012014736 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Pump for liquid chromatograph, and liquid chromatograph WO2012014741 Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen) Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Ion trap mass analysis device and mass analysis method WO2012014828 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Imprint device and imprint transfer method WO2012014869 Kunststoff- & Polymertechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Photopolymerizable resin composition for use in transferring microstructure WO2012014961 Kunststoff- & Polymertechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Resin stamper for use in nanoimprinting and nanoimprinting apparatus using same WO2012014962 Kunststoff- & Polymertechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2012	02.02.2012 Inspection method and device WO2012014935 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.01.2012	19.01.2012 Charged particle beam device WO2012008091 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.01.2012	19.01.2012 Charged particle beam device, defect supervision device, and management server WO2012008096 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.01.2012	18.01.2012 Magnetische Abschirmung und Messvorrichtung für die Bestimmung biomagnetischer Signale. EP1634531 Medizintechnik & Gesundheit	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.08.2005 Erteilt am 18.01.2012 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.01.2012	12.01.2012 Liquid chromatograph, and liquid feeder for liquid chromatograph WO2012005233 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.07.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.01.2012	05.01.2012 Semiconductor inspecting apparatus WO2012001867 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.01.2012	05.01.2012 Method for creating template for pattern matching, and image processing apparatus WO2012001862 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.01.2012	05.01.2012 Electron beam irradiation method and scanning electronic microscope WO2012001883 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.01.2012	05.01.2012 Pattern matching method, image processing device, and computer program WO2012001876 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.01.2012	04.01.2012 Einrichtung mit einem Strahl Geladener Teilchen und Verfahren zur Positionskorrektur in Bezug auf den Strahl Geladener Teilchen EP2402978 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.10.2009 Anhängig Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.12.2011	29.12.2011 Workpiece end section detection mechanism and workpiece conveyance mechanism WO2011162296 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.12.2011	29.12.2011 Sample stage device WO2011162325 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.12.2011	22.12.2011 Liquid mixing device and liquid chromatograph WO2011158430 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.12.2011	22.12.2011 Charged particle beam device and soundproofing cover WO2011158458 Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.06.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.12.2011	15.12.2011 Circuit pattern inspection device, and inspection method therefor WO2011155122 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.12.2011	15.12.2011 Observation image classification reference optimization method and image classification device WO2011155123 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.12.2011	15.12.2011 Method and apparatus for inspecting defect WO2011155345 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.12.2011	15.12.2011 Spectrophotometer WO2011155368 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.05.2011 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen