JEOL Logo

JEOL Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

288 gesamt
Patent
14.09.2016
Aberrationskorrektor und Verfahren für Aberrationskorrektur
EP1914785 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
06.07.2016
Wienfilter und damit ausgerüstetem Elektronenmikroskop
EP1335402 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
06.07.2016
System mit fokussiertem Ionenstrahl und Verfahren zur Fokussierung des Ionenstrahls
EP2874176 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
08.06.2016
Ladungsträgerstrahlvorrichtung und Bilderfassungsverfahren
EP3029710 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.05.2016
Transmissionselektronenmikroskop
EP2073250 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
20.04.2016
Elektronenmikroskop und Verfahren zum Einstellen davon
EP2674960 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
13.04.2016
Informationsverarbeitungsvorrichtung und Informationsverarbeitungsverfahren
EP3006944 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.03.2016
Rasterelektronenmikroskop mit einem Film als Probenhalter und einer Schale zum Auffangen von Probenmaterial eines beschädigten Films
EP2105727 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
09.03.2016
Elektronenmikroskop
EP1770752 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
13.01.2016
Teilchenstrahlsystem mit Schild gegen Kontaminierung
EP2159816 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
16.12.2015
Verfahren und Vorrichtung zur genauen Einstellung des magischen Winkels in der NMR
EP2306215 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
21.10.2015
Dreidimensionale Zusatzstoffherstellungsvorrichtung, Dreidimensionales Zusatzstoffherstellungssystem, Dreidimensionales Zusatzstoffherstellungsverfahren
EP2926926 Kunststoff- & Polymertechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
21.10.2015
Dreidimensionale Zusatzstoffherstellungsvorrichtung und Dreidimensionales Zusatzstoffherstellungsverfahren
EP2926927 Kunststoff- & Polymertechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
30.09.2015
Röntgenspektrometer und Elektronische Spektrometrie-Diagnoseschaltung
EP2924422 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.09.2015
Additivherstellungsmaschine
EP2921286 Kunststoff- & Polymertechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
16.09.2015
Maschine und Verfahren zur Additivherstellung
EP2918396 Kunststoff- & Polymertechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
09.09.2015
Vorrichtung und Verfahren zur Probenvorbereitung
EP2916121 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.09.2015
Elektronenmikroskop
EP1492152 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
28.01.2015
Raster-Elektronenmikroskop
EP2711967 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
31.12.2014
Elektronendetektionssystem und damit ausgerüstetes Ladungsteilchenstrahlsystem
EP2503586 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2014
Sende-Empfangs-Schalteinheit zur Verwendung in einem Nmr-Spektrometer
EP2357485 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
19.11.2014
Bildverarbeitungsverfahren, Bildverarbeiter, Bildwandler und Computerprogramm
EP2804146 Software & Datenverarbeitung
30.07.2014
Verfahren zur Herstellung einer axialen Ausrichtung eines geladenen Teilchenstrahls und geladenes Teilchenstrahlsystem
EP2463887 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.02.2014
Elektronenstrahlvorrichtung und Verfahren zu deren Ansteuerung
EP2197016 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
15.01.2014
Aberrationskorrektursystem
EP2020673 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
30.10.2013
Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion
EP2108947 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
02.10.2013
Vorrichtung, Verfahren und System zur Probenuntersuchung
EP2365321 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
28.08.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Proben
EP1732102 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
20.03.2013
NMR-Messverfahren
EP2166369 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
20.02.2013
Prüfverfahren und Reagenzlösung
EP2108946 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
13.02.2013
Korrektor von chromatischen Aberrationen für Ladungsträgerstrahlsystem und Korrekturverfahren dafür
EP2172960 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
16.01.2013
Korrektor der sphärische Abberation und Verfahren zur Korrektur der sphärischen Abberation
EP2388795 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.11.2012
Probenhalter und Ionenstrahlverarbeitungssystem
EP1684327 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
21.11.2012
Raster-Transmissionselektronenmikroskop und Verfahren zur Aberrationskorrektur dafür
EP2101343 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
12.09.2012
Verfahren und Vorrichtung für Elektrolytmessungen
EP2498084 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.07.2012
Vorrichtung zur Probentischbewegung für ein Teilchenstrahlensystem
EP1975974 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
13.06.2012
Elektrostatische Linse zur Korrektur der Sphärischen Aberration, Eingangslinse, Elektronenspektroskopieeinrichtung, Fotoelektronen-Mikroskop und Messsystem
EP1793410 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
16.05.2012
Probenhalter, Probenprüfvorrichtung, Probenprüfverfahren und Verfahren zur Herstellung des Probenhalters
EP1953793 Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
11.04.2012
Tandem-Flugzeitmassenspektrometer
EP2439764 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.03.2012
Verfahren zur Korrektur der chromatischen Aberration eines Teilchenstrahls, und Teilchenstrahlapparat
EP1635373 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt

Wer vertritt JEOL?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die JEOL vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

Zum Anmelder-Profil

Technologiefelder

Halbleiter & Elektrische Bauelemente
175
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
142
Software & Datenverarbeitung
13
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
12
Kunststoff- & Polymertechnik
8
Organische Chemie
7
Elektrische Energietechnik
7
Verfahrens- & Trenntechnik
6
Optik & Fototechnik
4
Elektronik & Schaltungstechnik
3
Metallurgie & Oberflächentechnik
2
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen)
2

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen