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JEOL Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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288 gesamt
Patent
07.03.2012
Elektronenstrahl-Vorrichtung mit Elektronenenergie-Analysator, Einrichtung und Methode zur Steuerung von Linsen
EP1441382 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
22.02.2012
Probenhalter für ein Elektronenmikroskop
EP1939923 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
04.01.2012
Maske und diese verwendende Vorrichtung zur Vorbereitung von Proben durch Ionenbeschuss
EP1512957 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
04.01.2012
Verfahren und Vorrichtung zur Driftkorrektur während eines automatisierten FIB Verfahrens
EP1662538 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
28.12.2011
Elektronenmikroskop
EP2226831 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
23.11.2011
Probenhalter, Untersuchungsvorrichtung und Untersuchungsverfahren
EP2388575 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.11.2011
Abbildungsfehlerkorrektor und damit ausgerüstetes Teilchenstrahlsystem
EP2169702 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
21.09.2011
Kalt-Spray-Massenspektrometrieeinrichtung
EP1394836 Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
07.09.2011
Probenhalterung, Probenprüfvorrichtung und Probenprüfverfahren
EP2136203 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.08.2011
Elektronenmikroskop
EP1622186 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
20.07.2011
Flugzeitpunkt-Massenspektrometer
EP2346065 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.04.2011
Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung von Proben
EP2312302 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.12.2010
Kernresonanz unter Verwendung von digitaler Quadraturdetektion mit Referenzsignalen variierender Frequenz
EP1739445 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
08.12.2010
Vorrichtung, Verfahren und System zur Probenuntersuchung
EP1936363 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.12.2010
Probenhalter, Verfahren zur Beobachtung und Untersuchung und Vorrichtung zur Beobachtung und Untersuchung
EP2075821 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.11.2010
Verfahren und System zur Probenherstellung
EP2060898 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.11.2010
NMR-Spektrometer und Verfahren zur NMR-Messung
EP1884792 Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
03.11.2010
Vorrichtung und Verfahren zur Aufbereitung von Proben
EP1517355 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
29.09.2010
Teilchenstrahlsystem mit Anordnung zur Korrektur von Abbildungsfehlern höherer Ordnung
EP1780763 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
08.09.2010
Elektronenmikroskop
EP1585165 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
01.09.2010
Gekühlter NMR-Probenkopf
EP1435525 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
04.08.2010
Teilchenstrahlsystem
EP1914786 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.07.2010
Verfahren und Gerät zur Vorbereitung von Proben
EP1643535 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
16.06.2010
Mikrochip mit verschiebbarem Teil und Detektorstelle
EP1872850 Verfahrens- & Trenntechnik erteilt
27.01.2010
Probenhalter, Probenprüfvorrichtung und Probenprüfverfahren
EP2148359 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.12.2009
Rekonstruktionsverfahren für ein dreidimensionales Bild und Transmissions-Elektronenmikroskop
EP1628321 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
30.09.2009
Mehrfach abgestimmter Resonanzkreis und Probe für NMR-Spektrometer
EP1249709 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
05.08.2009
NMR-Sonde
EP2015093 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.12.2008
Verfahren zur Herstellung einer Multipollinse, Multipollinse und damit ausgerüsteter Teilchenstrahlapparat
EP1463086 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
05.11.2008
Abstimmkreis für mehrere Frequenzen und Probenkopf für NMR-Spektrometer
EP1298445 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
15.10.2008
Mehrpol-Linse and Ladungsträgerteilchenstrahlgerät mit einer Mehrpol-Linse
EP1811540 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
10.09.2008
Energiefilter und Elektronenmikroskop
EP1432006 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
10.09.2008
Magnetenergiefilter
EP1780762 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
13.08.2008
Detektor und Spektrometer der Kernspinresonanz
EP1600785 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
18.06.2008
Apparat für geladene Teilchen mit Aberrationskorrektur
EP1313125 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
11.06.2008
Energiefilter
EP1037252 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
14.05.2008
Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von Querschnittsproben mithilfe von Ionenstrahlen
EP1921434 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.01.2008
Elektronenmikroskop
EP1598848 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
12.12.2007
Herstellungsverfahren einer Mehrpol-Linse
EP1492151 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
21.11.2007
Magnetresonanzmikroskop
EP1830172 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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Technologiefelder

Halbleiter & Elektrische Bauelemente
175
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
142
Software & Datenverarbeitung
13
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
12
Kunststoff- & Polymertechnik
8
Organische Chemie
7
Elektrische Energietechnik
7
Verfahrens- & Trenntechnik
6
Optik & Fototechnik
4
Elektronik & Schaltungstechnik
3
Metallurgie & Oberflächentechnik
2
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen)
2

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