JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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288 gesamt| Patent | |||
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28.04.2021
Teilchenstrahlapparat und Bilderfassungsverfahren
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21.04.2021
Verfahren zur Herstellung einer Triazolidindionverbindung
EP3808735
Organische Chemie
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Angemeldet am 11.06.2019
Anhängig
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21.04.2021
Triazolindionaddukt, Verfahren zur Herstellung eines Triazolindionaddukts, Verfahren zur Herstellung einer Enverbindung und Verfahren zur Analyse einer Enverbindung
EP3808750
Organische Chemie
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Status
Angemeldet am 11.06.2019
Anhängig
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07.04.2021
Datenverarbeitungsvorrichtung und Datenverarbeitungsverfahren
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24.03.2021
Elektronenmikroskop
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03.03.2021
Massenanalysevorrichtung und Massenanalyseverfahren
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20.01.2021
Nmr-Sonde
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09.12.2020
Raster-Elektronenmikroskop
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02.12.2020
Behälterzuführeinheit und Automatische Analysevorrichtung
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26.08.2020
Probenvorbereitungsvorrichtung
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Status
Angemeldet am 17.11.2015
Erteilt am 26.08.2020
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
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05.08.2020
Supraleitende HF-Spule und Verfahren zu seiner Einrichtung
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Angemeldet am 19.12.2012
Erteilt am 05.08.2020
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29.07.2020
Probenhalter und Probenpräparierungsvorrichtung
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Status
Angemeldet am 13.11.2015
Erteilt am 29.07.2020
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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22.07.2020
Röntgenstrahlanalysator und Spektrumerzeugungsverfahren
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17.06.2020
Instrument und Verfahren für klinische Untersuchungen, und Reinigungsverfahren dafür
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Status
Angemeldet am 12.06.2012
Erteilt am 17.06.2020
Vertretung
Zusammenfassung
An automated clinical analyzer is offered which can clean the nozzles (S1-S5, I1-I5) of a reaction cuvette wash unit (23) with a simple structure and with simple manipulations. A detergent is put in first reagent containers (9) located on a first reagent turntable (10). A computer controller (51) drives a first reagent pipette (17) to aspirate the detergent from the first reagent containers (9) and to deliver the detergent into reaction cuvettes (11). The controller (51) drives a reaction turntable (12) to bring each reaction cuvette (11) holding the detergent therein to the reaction cuvette wash unit (23). The controller (51) drives the reaction cuvette wash unit (23) to aspirate the detergent from inside the reaction cuvettes (11) using reaction cuvette wash nozzles (S1-S5, I1-I4) to thereby clean the wash nozzles. |
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25.03.2020
Magnetresonanzsignalsensormodul
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12.02.2020
Magnetresonanzmessvorrichtung
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Status
Angemeldet am 22.07.2015
Erteilt am 12.02.2020
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
In a magnetic resonance measurement apparatus such as an NMR measurement apparatus, when a frequency of an observation nucleus falls within a high frequency band, an RF reception signal is converted into an intermediate frequency signal, and is input to an analog-to-digital converter. In this case, under-sampling is executed for the intermediate frequency signal in the analog-to-digital converter, and a second-order aliased signal component generated from a target signal component is observed. On the other hand, when the frequency of the observation nucleus falls within a low frequency band, the RF reception signal is input to the analog-to-digital converter without being processed, over-sampling for the RF reception signal is executed, and the target signal component itself is observed. |
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16.10.2019
Magnetresonanzvorrichtung mit Mitteln zur Verarbeitung eines Transmissions- und Empfangssignals
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Status
Angemeldet am 22.07.2015
Erteilt am 16.10.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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09.10.2019
Kombination von Nmr-Messungen in der Flüssigen und Festen Phase
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Status
Angemeldet am 07.12.2017
Erteilt am 09.10.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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04.09.2019
Magnetresonanzmessvorrichtung
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Status
Angemeldet am 22.07.2015
Erteilt am 04.09.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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21.08.2019
Spinnersteuerung für NMR-Probenröhrchen
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Status
Angemeldet am 17.04.2014
Erteilt am 21.08.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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29.05.2019
Verfahren zur Probenuntersuchung
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Status
Angemeldet am 30.11.2007
Erteilt am 29.05.2019
Vertretung
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08.05.2019
Informationsverarbeitungsvorrichtung und Informationsverarbeitungsverfahren
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Status
Angemeldet am 17.09.2015
Erteilt am 08.05.2019
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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27.03.2019
Elektronenstrahlsystem zur Aberrationskorrektur
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Status
Angemeldet am 30.08.2007
Erteilt am 27.03.2019
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22.08.2018
Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonaler Beschleunigung
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Status
Angemeldet am 12.11.2008
Erteilt am 22.08.2018
Vertretung
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28.02.2018
Automatischer Analysator Welcher ein Messergebnis, sowie einen Zeitpunkt zu dem das Reagenz der Reaktion Beigemengt Wird, Anzeigt
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Status
Angemeldet am 07.04.2015
Erteilt am 28.02.2018
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
An operator who operates an automatic analyzer can easily recognize a timing of adding a reagent to a specimen. reagent is added to a specimen in a reaction container to cause the reagent and the specimen to react with each other, an optical property of the specimen in the reaction container is measured, and a display screen for measurement data is created. A display screen 100 for a measurement-data graph indicating a change over time in the measurement data (or a measurement-data list indicating a list of measurement data) is created as a display screen for the measurement data. In this display screen 100, a display "x" or "y" indicating an addition timing of the reagent in the reaction container is added. |
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21.02.2018
Probenpositionierungsvorrichtung,Teilchenstrahlsystem und Probenhalter
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Status
Angemeldet am 10.12.2013
Erteilt am 21.02.2018
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
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14.02.2018
Massenspektrometer
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Status
Angemeldet am 22.12.2011
Erteilt am 14.02.2018
Vertretung
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01.11.2017
Strahlungsdetektor und Probenanalysator
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Status
Angemeldet am 24.09.2014
Erteilt am 01.11.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
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11.10.2017
Steuerungsverfahren für Elektronenkanone und Maschine zur Schichtweisen Herstellung mittels Elektronenstrahlen
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Status
Angemeldet am 12.02.2015
Erteilt am 11.10.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
Zusammenfassung
There is disclosed a method of controlling an electron gun without causing decreases in brightness of the electron beam if a current-limiting aperture cannot be used. The electron gun (10) has a cathode (11), a Wehnelt electrode (12), a control electrode (13), an anode (14), and a controller (22). The Wehnelt electrode (12) has a first opening in which the tip of the cathode is inserted, and focuses thermal electrons emitted from the tip of the cathode (11). The thermal electrons emitted from the tip of the cathode (11) are caused to pass into a second opening by the control electrode (13). The anode (14) accelerates the thermal electrons emitted from the cathode (11) such that the thermal electrons passed through the second opening pass through a third opening and impinge as an electron beam (B1) on a powdered sample (8). The controller (22) sets the bias voltage and the control voltage based on combination conditions of the bias voltage and control voltage to maintain the brightness of the beam constant. |
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11.10.2017
Bildbewertungsverfahren und Vorrichtung mit Geladenem Teilchenstrahl
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Status
Angemeldet am 04.11.2015
Erteilt am 11.10.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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04.10.2017
Verfahren und Vorrichtung für die Tandem-Flugzeit-Massenspektrometrie
EP2434527
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.09.2011
Anhängig
Vertretung
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12.07.2017
Kombination aus Teilchenstrahl- und Fluoreszenzmikroskop
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Status
Angemeldet am 06.04.2011
Erteilt am 12.07.2017
Vertretung
polypatent · Bergisch Gladbach
Godemeyer Blum Lenze - werkpatent · Overath
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14.06.2017
Abscheidung mittels Fokussiertem Ionenstrahl
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Status
Angemeldet am 26.11.2015
Erteilt am 14.06.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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03.05.2017
Verfahren zur Herstellung einer axialen Ausrichtung eines geladenen Teilchenstrahls und geladenes Teilchenstrahlsystem
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Status
Angemeldet am 15.11.2011
Erteilt am 03.05.2017
Vertretung
Zusammenfassung
A method of making axial alignment of a charged particle beam (20) relative to at least three stages of multipole elements (11, 12, 13) is offered. Also, a charged particle beam system capable of making the axial alignment is offered. At least three astigmatic fields are produced. Some parts of the orbit of the beam or the distributions of the astigmatic fields, or both, are simultaneously translated in a direction perpendicular to the optical axis (OP) such that astigmatisms of the same order and same type due to axial deviations between successive ones of the astigmatic fields cancel out each other. |
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22.03.2017
Phasenplatte und Herstellungsverfahren dafür
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Status
Angemeldet am 23.12.2013
Erteilt am 22.03.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant · London
Boult Wade Tennant LLP · London
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01.03.2017
Magnetresonanzmessvorrichtung
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Status
Angemeldet am 22.07.2015
Erteilt am 01.03.2017
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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22.02.2017
Silicon-Drift-Röntgendetektor
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Status
Angemeldet am 16.12.2009
Erteilt am 22.02.2017
Vertretung
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08.02.2017
Apparat zur automatischen Korrektur eines Strahls geladener Teilchen
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Angemeldet am 01.12.2005
Erteilt am 08.02.2017
Vertretung
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14.12.2016
Raster-Teilchenmikroskop, Bilderfassungsverfahren und Elektronendetektionsverfahren
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Angemeldet am 15.05.2014
Erteilt am 14.12.2016
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
Zusammenfassung
A scanning charged particle microscope is offered which can selectively detect and image electrons. The scanning charged particle microscope (100) has: a source (1) of a charged particle beam (E1); an objective lens (6) for bringing the charged particle beam (E1) emitted from the source (1) into focus at a sample (S); a scanning deflector (4) for scanning the focused charged particle beam (E1) over the sample (S); a sorting portion (10) for sorting out electrons emitted at given emission angles from electrons released from the sample (S) in response to irradiation of the sample (S) by the charged particle beam (E1); an electron deflector (20) for producing a deflecting field to deflect the electrons (E2) sorted out according to their energy; a detection portion (30) for detecting the electrons (E2) deflected by the electron deflector (20); and an image creating portion (44) for creating an image, based on the results of the detection performed by the detection portion (30). |
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23.11.2016
Verfahren zur Probenherstellung
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Angemeldet am 28.09.2005
Erteilt am 23.11.2016
Vertretung
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Wer vertritt JEOL?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die JEOL vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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