JEOL Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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520 gesamt| Patent | |||
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20.12.2023
Automatisierter Analysator und Automatisiertes Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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29.11.2023
Elektronenmikroskop und Kalibrierverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.11.2023
Massenspektrometrievorrichtung, Gaschromatograph-Massenspektrometrievorrichtung und Intervallstromsteuerungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.11.2023
Automatisierter Analysator und Verfahren zur Steuerung des Automatisierten Analysators
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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26.10.2023
Cleaning device and nozzle cleaning method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.04.2023
Anhängig
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25.10.2023
System mit Geladenem Teilchenstrahl und Steuerverfahren dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.10.2023
Elektronenmikroskop und Aberrationsmessverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.10.2023
Alkynverbindung, Vitamin-D-Verbindung, Analytisches Verfahren und Herstellungsverfahren
Organische Chemie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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04.10.2023
Langsamer Atomstrahlgenerator, Physikalisches Gehäuse für Optischen Gitter, Physikalisches Gehäuse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.09.2023
Derivatizing composition for mass spectrometry, derivatization kit for mass spectrometry, mass spectrometric method for biological component, and method for preparing sample for use in mass spectrometry
Organische Chemie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.12.2022
Anhängig
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27.09.2023
Vorrichtung mit Geladenem Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.09.2023
Supraleitende Spuleneinrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.09.2023
Elektronenmikroskop und Verfahren zur Verhinderung von Probenkontamination
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.09.2023
Automatischer Analysator und Programm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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20.09.2023
Ladungsteilchenstrahlvorrichtung und Steuerungsverfahren für Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.09.2023
Automatisierter Analysator und Automatisiertes Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.09.2023
Sample analysis device and sample analysis method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.02.2023
Anhängig
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30.08.2023
Teilstrukturschätzvorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Teilstrukturschätzmodells
Software & Datenverarbeitung
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30.08.2023
Trägervorrichtung für Probenkassette und Trägerbasis
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.08.2023
Massenspektrumverarbeitungsvorrichtung und -Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A first mass spectrum including a fragment ion peak is generated under application of a first ionization method. A second mass spectrum including a molecular ion peak is generated under application of a second ionization method. These mass spectra are synthesized to generate a synthesized mass spectrum (88). On the synthesized mass spectrum (88), difference information, such as a mass difference and difference composition, is calculated between the molecular ion peak (88A) and the fragment ion peak (90 to 98). |
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16.08.2023
Additive Fertigungsmaschine
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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16.08.2023
Aberrationskorrekturvorrichtung und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.08.2023
Nmr-Messsystem und Proberöhrchenzentrierverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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16.08.2023
Auger-Elektronenmikroskop und Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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09.08.2023
Massenanalysevorrichtung und Massenanalyseverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
Neutral particles are blocked by a deflector (34) provided upstream of a detector (38). A controller (44) changes a reference potential V2 of the deflector (34) in connection with a change of a reference potential V1 of a collision cell (18) such that a potential difference ΔV between the reference potential V1 and the reference potential V2 is constant. The change of the reference potential V2 is executed during a period in which an ion pulse does not pass the deflector (34). |
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02.08.2023
Kernmagnetische Resonanzspektroskopie mit Verbesserten Erkennungseigenschaften
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
Nuclear spins of particular atoms (14N) (43) which distinctively exist in a crystal of an active pharmaceutical ingredient (32) is manipulated, so that an initial magnetization (modulated magnetization) is caused in nearby hydrogen atoms (44) which exist near the particular atoms (43) in the crystal (32). The initial magnetization of the nearby hydrogen atoms (44) is spread to peripheral hydrogen atoms (46) which exist at a periphery of the nearby hydrogen atoms (44) in the crystal (32). A magnetization which is spread in the crystal (32) is directly or indirectly observed. |
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26.07.2023
System mit Fokussiertem Ionenstrahl und Verfahren zur Korrektur der Abweichung des Sichtfeldes eines Ionenstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.07.2023
Kalibrierverfahren Ausgeführt durch eine Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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05.07.2023
Röntgenanalysesystem und Röntgenanalyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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05.07.2023
Automatisierter Analysator und Automatisiertes Analyseverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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21.06.2023
Phosphoniumverbindung, Reagenzienkit zur Derivatisierung, Massenspektrometrisches Verfahren und Verfahren zur Herstellung der Phosphoniumverbindung
Organische Chemie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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21.06.2023
Vorrichtung und Verfahren zum Ionendünnen einer Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.05.2023
Probeneinführungsvorrichtung und Teilchenstrahlapparat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.03.2014
Erteilt am 24.05.2023
Vertretung
Boult Wade Tennant LLP · London
Boult Wade Tennant · London
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17.05.2023
Automatischer Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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17.05.2023
Vorrichtung und Verfahren zur Ionenstrahl-Probenbearbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
Provided is a specimen (2) machining device (100) including: an illumination system (40) that includes a first illumination device and a second illumination device which illuminate a specimen (2) from directions different from each other; a camera (60) that photographs the specimen (2); and a processing unit (70) that controls the illumination system (40) and the camera (60), and acquires a machining control image which is used for controlling an ion source (10) and a display image which is displayed on a display unit. The processing unit (70) performs processing for: controlling the illumination system (40) to illuminate the specimen (2) under a machining illumination condition; acquiring the machining control image by controlling the camera (60) to photograph the specimen (2) illuminated under the machining control illumination condition; controlling the ion source (10) based on the machining control image; controlling the illumination system (40) to illuminate the specimen (2) under a display illumination condition which is different from the machining control illumination condition; acquiring the display image by controlling the camera (60) to photograph the specimen (2) illuminated under the display illumination condition; and displaying the display image on the display unit. |
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17.05.2023
Ionenstrahl-Probenbearbeitungsvorrichtung und Informationsbeschaffungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.05.2023
Hochspannungsverstärkerschaltung und Analysator
Elektronik & Schaltungstechnik
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Zusammenfassung
There are provided a high voltage amplifier circuit and an analyzer apparatus which are capable of responding at high speed. The high voltage amplifier circuit (1) is operative to amplify a first voltage signal and to output a second voltage signal of a few kV or higher. The amplifier circuit (1) comprises a constant current circuit (50) for outputting a constant current signal at its output terminal, an operational amplifier (10) for outputting an amplified control signal based on the first voltage signal, and an amplified voltage output circuit (20) for outputting a second voltage signal based on both the constant current signal and the amplified control signal. The constant current circuit (50) has a light-emitting device (71) having one end supplied with the constant voltage signal and another end supplied with ground potential, a light responsive electricity generating device (72) for outputting a drive signal in response to light emitted by the light-emitting device (71), a first transistor (62) having a first terminal, a second terminal, and a third terminal and operating, in response to the drive signal supplied to the first terminal, to generate the constant current signal based on the amplified voltage signal applied to the second terminal and to output the constant current signal at the third terminal; and a current control circuit (56, 63) for detecting the electrical current value of the constant current signal and controlling the supply of the drive signal to the first terminal based on the detection. |
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03.05.2023
Massenspektrometrievorrichtung und Massenspektrometrieverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.05.2023
Nmr-Messvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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26.04.2023
Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Wer vertritt JEOL?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die JEOL vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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