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KLA Corporation Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

1.908
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
24
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.908 gesamt
Patent
24.09.2025
Gleitendes Aussengehäuse für Aussenwerkzeug
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2025
Kombinierte Spektroskopische Reflektometrie und Mustererkennungsbasierte Messungen von Halbleiterstrukturen
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2025
Verfahren zur Abbildung der Wegpolarisationssteuerung zur Defekterkennungsempfindlichkeitsverbesserung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
24.09.2025
Vollständige Wafermessung auf der Basis eines Trainierten Vollständigen Wafermessmodells
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
24.09.2025
Einzelgreifpupillenlandschaft über Breitbandbeleuchtung
Optik & Fototechnik
24.09.2025
Titrationsbasiertes Analytisches Verfahren zur Messung von Au in Au-Sulfit-Verarbeitungslösung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.09.2025
Laserstrahlhomogenisierung oder -Formung
Optik & Fototechnik
24.09.2025
Akustischer Xenontröpfchengenerator
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
24.09.2025
Elektronenstrahlpositionsdetektion und -Umpositionierung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2025
Dynamische Freiformoptik für Lithografiebeleuchtungsstrahlformung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2025
Optik zur Messung von Dickschichten und Strukturen mit Hohem Aspektverhältnis
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2025
Lokale Wafersignaturmaxima durch Clusterung für Metrologiegeführte Inspektion
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
24.09.2025
Hochpräzise Ausrichtbare Optische Halterung
Optik & Fototechnik
24.09.2025
System und Verfahren zur Verringerung von Messfehlern in Interferometriebasierter Metrologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2025
Kalibrierung der Winkelmittelung auf Messgeräten für Blanke Wafer zur Esfqr-Anpassungsverbesserung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2025
Präzisionsstiftsteuerungssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2025
Autofokusverfahren für Einstrahl- und Mehrstrahlsysteme
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.09.2025
Rechteckiger Quaderförmiger Nichtpolarisierender Strahlteiler zur Vermeidung von Interferenzstreifen von Oberflächenreflexionen
Optik & Fototechnik
18.09.2025
Robust and accurate overlay target design for cmp
Optik & Fototechnik
18.09.2025
High brightness x-ray source for semiconductor metrology
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.09.2025
Dynamic inspection of highly defective wafers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.09.2025
Optischer Strahlsensor mit Mittendurchlässiger Ausschneidung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
17.09.2025
System und Verfahren zur Verfolgung einer Echtzeitposition zur Abtastung von Überlagerungsmetrologie
Optik & Fototechnik
17.09.2025
Vorrichtungen zur Überwachung der Position eines Substrats
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
17.09.2025
Abtastung von Überlagerungsmetrologie mit Hohem Signal-Rausch-Verhältnis
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
17.09.2025
Oszillierende Sekundärstufe für Rahmenmodus-Overlaymetrologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
17.09.2025
Geneigte Gleichmässige Beleuchtung für Bildgebungssysteme
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.09.2025
System und Verfahren zur Bestimmung der Überlagerungsmessung eines Abtastziels
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
17.09.2025
Parallelabtastende Überlagerungsmetrologie mit Optischen Metaoberflächen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
12.09.2025
Method for gas purity improvement using vacuum swing adsorption
Verfahrens- & Trenntechnik Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
11.09.2025
Methods and systems for robust, automated tuning of feedforward motion control parameters
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.09.2025
Method and system for automatic retraining of machine learning models for metrology metric estimation
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.09.2025
Laser-Sustained Plasma Generation in Supersonic Gas Jets
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
04.09.2025
Side-By-Side Off-Center die Overlay Target
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.09.2025
Interferometric phase error correction using a neural network
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
04.09.2025
Flatness precision improvement with systematic error reduction via induced wafer tilt variation
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.09.2025
Three-axis tuned mass damper for turbo molecular pump
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen) Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.09.2025
Use of multiple electron beams for high throughput inspection
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.09.2025
Light weight high stiffness chuck with interchangeable top
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.09.2025
Cvd Boron Uniformity Overcoming Loading Effects
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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