Nikon Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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5.286 gesamt| Patent | |||
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08.08.2007
Z-Trägervorrichtung mit Feinstufe
Optik & Fototechnik
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02.08.2007
Superposition management method and apparatus, processing apparatus, measurement apparatus and exposure apparatus, device fabrication system and device fabrication method, and program, and information recording medium
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.01.2007
Anhängig
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02.08.2007
Method and device for determining processing conditions, display and displaying method, processor, measuring instrument and aligner, substrate processing system, and program and information recording medium
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.01.2007
Anhängig
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01.08.2007
Verfahren und Vorrichtung zur Verminderung von thermischen Spannungen in einem Wafer
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.03.2003
Anhängig
Vertretung
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01.08.2007
Substratträgervorrichtung, Substratträgerverfahren und Belichtungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.08.2007
Aufrechterhaltungsverfahren, Belichtungsverfahren, Belichtungsvorrichtung und Bauelemente-Herstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.08.2007
Beleuchtungsvorrichtung, Belichtungsvorrichtung und Mikrobauelemente-Herstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.11.2005
Anhängig
Vertretung
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26.07.2007
Substrate holding apparatus, exposure apparatus, and device production method
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.01.2007
Anhängig
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25.07.2007
Optische Beleuchtungseinrichtung, Belichtungssystem und Belichtungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.07.2007
Halteeinrichtung, Bühneneinrichtung, Belichtungseinrichtung und Bauelemente-Herstellungsverfahren
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.07.2007
Optisches Projektionssystem des Reflexionstyps und mit einem Solchen Optischen Projektionssystem des Reflexionstyps Ausgestattete Belichtungsgeräte
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.11.2005
Anhängig
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25.07.2007
Belichtungsvorrichtung und Bauelemente-Herstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.07.2007
Optischer Integrierer, Optische Beleuchtungsvorrichtung, Belichtungsvorrichtung und Belichtungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.01.2006
Anhängig
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19.07.2007
Object conveyance apparatus, exposure apparatus, object temperature regulation apparatus, object conveyance method, and method of producing microdevice
Verpackungs- & Fördertechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.12.2006
Anhängig
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18.07.2007
Messverfahren, Belichtungsverfahren und Bauelementeherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.07.2007
Belichtungsvorrichtung, Belichtungsverfahren und Bauelemente-Herstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.10.2005
Anhängig
Vertretung
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12.07.2007
Exposure system, device manufacturing system, exposure method and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.12.2006
Anhängig
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11.07.2007
Linearmotor, Bühnenvorrichtung und Belichtungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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11.07.2007
Bildwiedergabeeinrichtung
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 29.09.2005
Anhängig
Vertretung
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11.07.2007
Belichtungseinrichtung und Bauelementeherstellungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.09.2005
Anhängig
Vertretung
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11.07.2007
Belichtungseinrichtung, Belichtungsverfahren und Bauelemente-Herstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.10.2005
Anhängig
Vertretung
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11.07.2007
Retikelschutzglied, Retikelträgervorrichtung, Belichtungseinrichtung und Retikelträgerverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.10.2005
Anhängig
Vertretung
Savic, Bojan · München
Viering, Jentschura & Partner · München
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05.07.2007
Tilt sensor and encoder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.12.2006
Anhängig
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05.07.2007
Defect inspection device for inspecting defect by image analysis
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 25.12.2006
Anhängig
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04.07.2007
Korrekturverfahren und Belichtungseinrichtung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.07.2007
Substrat zur Belichtung, Belichtungsverfahren und Bauelementeherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.07.2007
Verfahren und Vorrichtung mit einem Retikelstufensicherheitsmerkmal
Optik & Fototechnik
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28.06.2007
Optical device, variable filter, projection display and shutter
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.12.2006
Anhängig
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28.06.2007
Liquid producing apparatus, liquid immersion exposure apparatus, and method for manufacturing device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.12.2006
Anhängig
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28.06.2007
Substrate conveying method, substrate conveying apparatus, and exposure apparatus
Verpackungs- & Fördertechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.12.2006
Anhängig
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27.06.2007
Polierkörper, Poliermaschine, Poliermaschinenjustierverfahren, Dicken- oder Endpunkt-Messverfahren für die Polierte Schicht, Herstellungsverfahren eines Halbleiterbauelementes
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.03.2000
Erteilt am 27.06.2007
Vertretung
Viering, Hans-Martin · München
Viering, Hans-Martin · München
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27.06.2007
Trägerverfahren und Trägerstruktur für Optische Elemente, Optische Vorrichtung, Belichtungsvorrichtung und Herstellungsverfahren für Vorrichtung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.06.2007
Optisches Projektionssystem, Projektionsverfahren für ein Optisches Projektionssystem, Belichtungssystem und Belichtungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.09.2005
Anhängig
Vertretung
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27.06.2007
Belichtungsvorrichtung und Bauelementeherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.06.2007
Bilddaten-Verwaltungseinrichtung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 15.09.2005
Anhängig
Vertretung
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21.06.2007
Surface inspection apparatus and surface inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.11.2006
Anhängig
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14.06.2007
Temperature control apparatus, exposure apparatus, temperature control method and device manufacturing method
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.11.2006
Anhängig
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14.06.2007
Temperature measuring method, exposure method, exposure apparatus and method for manufacturing device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.12.2006
Anhängig
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13.06.2007
Optische Beleuchtungsvorrichtungen, Belichtungssystem und Verfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.06.2007
Verfahren zur Steuerung eines Belichtungssystems, Belichtungsverfahren und System damit und Verfahren zur Herstellung von Bauelementen
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt Nikon?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Nikon vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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