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Shin-Etsu Handotai Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Shin-Etsu-Gruppe, das Siliziumwafer für die Halbleiterindustrie herstellt.

1.022
Patente
2000–2024
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.022 gesamt
Patent
08.02.2023
Verfahren zur Steuerung der Konzentration eines Donors in einem Silizium-Einkristallsubstrat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.01.2023
Verfahren zum Kontrollieren der Donorkonzentration in einem Silizium-Einkristallsubstrat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.01.2023
Verfahren zur Beurteilung von Bondingsubstratoberflächendefekten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.11.2022
Verfahren zur Herstellung eines Epitaktischen Wafers und Epitaktischer Wafer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.09.2022
Ladeport und Waferübertragungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.08.2022
Halbleitersubstratherstellungsverfahren und Halbleitersubstrat
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.08.2022
Verfahren zur Herstellung eines Soi-Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.08.2022
Verfahren zur Messung der Schichtdickeverteilung eines Wafers mit einer Dünnschicht
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
03.08.2022
Verfahren zur Herstellung eines Gebondeten Soi-Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.06.2022
Substrat für Elektronische Vorrichtung und Herstellungsverfahren dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.05.2022
Substrat für Elektronische Vorrichtung und Herstellungsverfahren dafür
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.05.2022
Verfahren zur Herstellung eines Soi-Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.05.2022
Verfahren zur Messung der Kohlenstoffkonzentration
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.04.2022
Herstellungsverfahren für Beschichtete Wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.04.2022
Verfahren zur Herstellung eines Soi-Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.02.2022
Verfahren zur Herstellung einer Elektronischen Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.12.2021
Halbleitersubstratevaluierungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.11.2021
Beleuchtungsvorrichtung für Pflanzenwachstum und Pflanzenzuchtverfahren
Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik
29.09.2021
Verfahren zur Herstellung eines Gebondeten Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.08.2021
Reinigungsbehandlungsvorrichtung und Reinigungsverfahren für Siliciumhalbleiterwafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.06.2021
Halbleiter-Wafer-Reinigungstank und Verfahren zur Herstellung eines Gebondeten Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.06.2021
Verfahren zur Herstellung eines Soi-Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.05.2021
Herstellungsverfahren für Soi-Wafer und Soi-Wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.03.2021
Herstellungsverfahren für Verklebte Wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.01.2021
Verfahren zur Herstellung eines Siliciumcarbideinkristalls
Metallurgie & Oberflächentechnik
20.01.2021
Waferbehandlungsvorrichtung und Behandlungsverfahren
Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.01.2021
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Siliziumkarbid-Einkristalls
Metallurgie & Oberflächentechnik
20.01.2021
Verfahren zur Herstellung eines Siliciumcarbideinkristalls
Metallurgie & Oberflächentechnik
13.01.2021
Herstellungsverfahren für einen Siliciumcarbid-Einkristall
Metallurgie & Oberflächentechnik
02.12.2020
Verfahren zur Herstellung des Gebondeten Soi-Wafers
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.12.2020
Verfahren zur Herstellung eines Soi-Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.11.2020
Verfahren zur Beurteilung eines Soi-Substrats
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.11.2020
Verfahren zur Herstellung eines Siliziumcarbid-Einkristalls
Metallurgie & Oberflächentechnik
09.09.2020
Verfahren zur Herstellung eines Beschichteten Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.09.2020
Herstellungsverfahren für Verklebte Wafer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.07.2020
Verfahren zur Steuerung der Rekombinationslebensdauer
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.04.2020
Schädlingsbekämpfungsverfahren und Bekämpfungsvorrichtung
Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik
29.04.2020
Verfahren zur Herstellung eines Soi-Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.04.2020
Verfahren zur Berechnung des Verziehens eines Gebondeten Soi-Wafers und Verfahren zur Herstellung eines Gebondeten Soi-Wafers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.03.2020
Verfahren zur Herstellung eines Soi-Wafers
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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