Sumco Logo

Sumco Patente

🇯🇵 Japan

Sumco ist ein japanischer Hersteller von Siliziumwafern für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Metallurgie- und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

658
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

658 gesamt
Patent
19.10.2017
Method for measuring carbon concentration of silicon sample, method for manufacturing silicon single crystal ingot, silicon single crystal ingot, and silicon wafer
WO2017179254
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.10.2017
Siliziumwafer-Wärmebehandlungs-Einspannvorrichtung und Silizumwafer-Wärmebehandlungsverfahren
EP1610374
Metallurgie & Oberflächentechnik Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
05.10.2017
Method for evaluating cleanliness, method for determining cleaning condition, and method for manufacturing silicon wafer
WO2017169458
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.09.2017
Substrate-Storing Container
WO2017158972
Verpackungs- & Fördertechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.09.2017
Method for producing silicon monocrystal
WO2017159028
Metallurgie & Oberflächentechnik
21.09.2017
Silica glass crucible and method for producing silica glass crucible
WO2017158656
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.09.2017
Crucible measurement device, crucible measurement method, and crucible production method
WO2017158655
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.08.2017
Method for producing epitaxial wafer, and epitaxial wafer
WO2017145470
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.08.2017
Wafer manufacturing method
WO2017141523
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.08.2017
Single-side polishing method for silicon wafer
WO2017134919
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.08.2017
Method for polishing both surfaces of wafer
WO2017134914
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.08.2017
Manufacturing method of wafer and wafer
WO2017134925
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.06.2017
Double side polishing method for wafers, epitaxial wafer manufacturing method using same, and epitaxial wafers
WO2017110262
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.06.2017
Crucible managing system, crucible managing method, method for manufacturing silica glass crucible, method for manufacturing silicon ingot, and method for manufacturing homoepitaxial wafer
WO2017110966
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.06.2017
Crucible testing device, crucible testing method, silica glass crucible, method for manufacturing silica glass crucible, method for manufacturing silicon ingot, and method for manufacturing homoepitaxial wafer
WO2017110967
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
29.06.2017
Silica glass crucible, method for manufacturing silica glass crucible, silicon single crystal pulling device, ingot, and homoepitaxial wafer
WO2017110763
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
29.06.2017
Strain measuring device for silica glass crucible, method for producing silicon single crystal, strain measuring method for silica glass crucible, phase difference map, ingot, and homoepitaxial wafer
WO2017110762
Anorganische Chemie & Werkstoffe Metallurgie & Oberflächentechnik
22.06.2017
Wafer polishing method and polishing device
WO2017104285
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.06.2017
Method for producing semiconductor epitaxial wafer and method for manufacturing solid-state imaging element
WO2017104584
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.06.2017
Wafer polishing method
WO2017090406
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.06.2017
Method for producing silicon single crystal
WO2017090325
Metallurgie & Oberflächentechnik
18.05.2017
Wafer polishing method and device
WO2017082161
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.05.2017
Method for producing silicon single crystal
WO2017082112
Metallurgie & Oberflächentechnik
11.05.2017
Single-crystal silicon production method and single-crystal silicon
WO2017077701
Metallurgie & Oberflächentechnik
04.05.2017
Method for polishing both sides of semiconductor wafer and apparatus for polishing both sides of semiconductor wafer
WO2017073265
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.05.2017
Wafer polishing device and polishing head used for same
WO2017073318
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.04.2017
Semiconductor wafer processing method
WO2017068945
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.04.2017
Method for selecting heater related member provided in single crystal pulling device
WO2017064889
Metallurgie & Oberflächentechnik
13.04.2017
Epitaxial wafer rear surface inspection device and epitaxial wafer rear surface inspection method using same
WO2017061063
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.04.2017
Semiconductor wafer evaluation method and semiconductor wafer
WO2017061179
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.04.2017
Carrier ring, grinding device, and grinding method
WO2017061486
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.04.2017
Method of measuring concentration of fe in p-type silicon wafer
WO2017061072
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.03.2017
Verwendung von einem Einkristallsiliziumwafer für bipolare Transistoren mit isoliertem Gate
EP1811065
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.03.2017
Single crystal manufacturing method and device
WO2017047622
Metallurgie & Oberflächentechnik
22.03.2017
Verfahren zur Herstellung eines Verbundswafers
EP1970949
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.03.2017
Wafer inspection method and wafer inspection apparatus
WO2017043012
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.03.2017
Method for producing silicon monocrystal
WO2017033583
Metallurgie & Oberflächentechnik
02.02.2017
Epitaxial Silicon Wafer
WO2017018141
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.01.2017
Verfahren zur Herstellung von einkristallischem Silizium
EP2292813
Metallurgie & Oberflächentechnik
11.01.2017
Herstellungsverfahren einer Siliziumscheibe
EP2722423
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Wer vertritt Sumco?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Sumco vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

Zum Anmelder-Profil

Technologiefelder

Halbleiter & Elektrische Bauelemente
463
Metallurgie & Oberflächentechnik
304
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
130
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
62
Anorganische Chemie & Werkstoffe
47
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
8
Verfahrens- & Trenntechnik
6
Verpackungs- & Fördertechnik
4
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
4
Optik & Fototechnik
3
Elektronik & Schaltungstechnik
3
Software & Datenverarbeitung
2

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen